Lechangeur d'échantillons automatiqueutilisé dans les diffractomètres à rayons X est un dispositif utilisé pour le remplacement automatisé des échantillons, visant à améliorer l'efficacité et la précision des expériences de diffraction des rayons X.
Entraîné par un moteur pas à pas importé et contrôlé par un automate programmable industriel (API) Siemens importé, le remplacement manuel des échantillons est superflu. Le système mesure automatiquement les échantillons en continu et enregistre automatiquement les données. Plusieurs échantillons peuvent être chargés simultanément pour une mesure continue.
Les principaux composants d'unchangeur d'échantillons automatiquesont:
Mécanisme de transfert d'échantillons : comprend généralement une bande transporteuse, une plaque de pression élastique et un moteur d'entraînement, chargés de transférer séquentiellement les plaques d'échantillons de test vers la position de récupération.
Mécanisme de remplacement d'échantillon : généralement composé de composants de serrage, de composants d'entraînement d'action et d'un plateau tournant, il peut remplacer automatiquement la plaque d'échantillon entre la position de ramassage de la bande transporteuse et l'étage d'échantillon de l'instrument de diffraction.
Module de capteur : tel que le module de capteur photoélectrique et le module de capteur à photorésistance, utilisé pour détecter la position de l'échantillon et l'état de fonctionnement du diffractomètre, afin de contrôler le module de circuit pour effectuer les actions de contrôle correspondantes.
Module de circuit de contrôle : connectez et contrôlez le travail collaboratif des mécanismes et modules mentionnés ci-dessus pour assurer un fonctionnement précis et stable du processus de changement automatique d'échantillons.
Module d'alimentation : fournit un support d'alimentation pour l'ensemble du dispositif de changement automatique d'échantillons.
2. Principe de fonctionnement dechangeur d'échantillons automatique:
Une fois que le diffractomètre a terminé le test de l'échantillon actuel, le module de capteur détecte le changement d'état de la lumière de l'obturateur du diffractomètre et transmet le signal au module du circuit de commande.
Après avoir reçu le signal, le module de circuit de commande active le mécanisme de remplacement de l'échantillon pour le déplacer vers la position de ramassage de la bande transporteuse et l'étage d'échantillon de l'instrument de diffraction, et serre les plaques d'échantillon aux deux positions respectivement via les pièces de serrage.
Ensuite, le mécanisme de remplacement d'échantillon échange les positions des deux plaques d'échantillon pour terminer l'opération de remplacement d'échantillon.
Ensuite, le tapis roulant démarre et transporte la prochaine planche d'échantillons vers la position de prélèvement, en attendant le prochain changement d'échantillon.
3. Avantages et caractéristiques dechangeur d'échantillons automatique:
• Améliorer l'efficacité des tests : il peut remplacer automatiquement les échantillons pendant le processus de test de l'instrument de diffraction sans intervention manuelle, raccourcissant considérablement le cycle de test et améliorant l'efficacité du travail.
• Réduire les erreurs humaines : éviter les erreurs opérationnelles et les fautes qui peuvent survenir lors du remplacement manuel des échantillons et améliorer la précision et la fiabilité des résultats des tests.
• Protection de l'instrument : réduit le risque de défaillance de l'instrument causée par l'ouverture et la fermeture manuelles fréquentes de la porte du diffractomètre et prolonge la durée de vie du diffractomètre.
• Convient pour tester un grand nombre d'échantillons : il peut charger plusieurs échantillons pour répondre aux besoins de tests continus d'un grand nombre d'échantillons et convient à la détection à haut débit dans des domaines tels que la recherche scientifique et la production.
En résumé, lechangeur d'échantillons automatiqueutilisé dans les instruments de diffraction des rayons X est un équipement automatisé efficace et précis qui apporte de nombreuses commodités et avantages aux expériences de diffraction des rayons X, contribuant à améliorer l'efficacité et la qualité expérimentales.
