XRD in situ, également connu sous le nom de In situDiffraction des rayons X, est une technique permettant d'effectuer des mesures de diffraction des rayons X lors d'une structure ou d'une transition de phase. Cette technologie permet de surveiller en temps réel le changement dynamique de la structure du matériau sous l’effet d’une force externe.
Les modes XRD in situ sont divisés en mode transmission et mode réflexion, la différence la plus fondamentale est basée sur la source lumineuse de diffraction des rayons X fournie. Parce que la puissance de la source lumineuse fournie par le laboratoireDiffractomètre à rayons Xest généralement petit, seul le mode de réflexion peut être adopté ; Si la source lumineuse générée par l'accélérateur de rayonnement synchrotron a une énergie élevée, le mode transmission peut être utilisé.
Mode de transmission : le mode de transmission est principalementradiographieentre par une extrémité de la cellule électrolytique, et les rayons X diffractés sortent de l'autre extrémité de la cellule électrolytique et reçoivent le signal via le détecteur pour obtenir les données.
Mode de réflexion : le mode de réflexion est principalement constitué de rayons X entrant par la fenêtre de la cellule électrolytique, passant à travers la fenêtre pour atteindre le matériau, de rayons X diffractés sortant de la même fenêtre et recevant le signal à travers le détecteur pour obtenir le données. Le premier au mondeDRX in situla cellule électrolytique est conçue en mode réflexion.
