Dans le domaine de la recherche en science des matériaux, la précision des mesures est essentielle pour exploiter pleinement les propriétés des matériaux. L'accessoire de mesure intégré multifonction développé par Dandong Tongda Science and Technology Co., Ltd. est un outil de haute précision conçu pour améliorer les capacités d'analyse par diffraction des rayons X.
Ceaccessoire de mesure intégré multifonctionnelSpécialement conçu pour être installé sur des goniomètres grand angle, il permet d'analyser avec précision les matériaux en plaques, les matériaux en vrac et les couches minces déposées sur des substrats.
Cet accessoire permet d'effectuer diverses tâches de mesure, notamment la détection de phase cristalline, l'analyse du degré d'orientation et les tests de contrainte. Il prend en charge l'analyse de texture, la détermination des contraintes résiduelles et les tests de structure en plan des couches minces, fournissant ainsi un support de données complet pour la recherche sur les matériaux.
Les principales caractéristiques techniques de cet accessoire se reflètent dans son système mécanique de précision coordonné multi-axes et ses méthodes de mesure hautement adaptables.
L'accessoire de mesure intégré multifonctionnel prend en charge les mesures de figures polaires à l'aide de méthodes de transmission ou de réflexion, offrant une flexibilité pour différents échantillons et exigences de test.
Pour les essais de contrainte, il peut utiliser à la fois la méthode d'inclinaison latérale et la méthode d'inclinaison normale. Pour les échantillons de couches minces, l'accessoire permet également des essais de rotation dans le plan, permettant une analyse approfondie des structures des couches.
Son système mécanique de précision assure une grande précision de mesure et une répétabilité élevée, avec des incréments minimum de 0,001° (pour les axes de rotation) et 0,001 mm (pour les axes de translation).
Le champ d'application de l'accessoire de mesure intégré multifonctionnel est extrêmement large, couvrant presque tous les domaines de fabrication et de R&D avancés qui nécessitent une analyse de la structure des matériaux.
Dans le domaine des matériaux métalliques, il est utilisé pour évaluer l'organisation collective des métaux tels que les plaques laminées ; dans le domaine de la céramique, il se concentre sur l'évaluation de l'orientation de la céramique.
Pour les matériaux à couches minces, l'accessoire peut analyser l'orientation cristalline préférée des échantillons de films et tester la contrainte résiduelle des films multicouches (en évaluant des propriétés telles que le pelage du film).
Il peut également analyser les films d'oxydation et de nitruration de surface sur les films de matériaux supraconducteurs à haute température et les plaques métalliques, ainsi que les films multicouches sur les substrats de verre, de silicium et de métal.
Il peut notamment être appliqué à l’analyse de matériaux macromoléculaires, de papier, de matériaux de placage de lentilles, etc., démontrant ainsi son potentiel d’application interdisciplinaire.
