Le TD-3500Diffractomètre à rayons X sur poudreadopte le contrôle PLC Siemens importé, ce qui rend le TD-3500Diffractomètre à rayons XHautement précis, stable, durable, facile à mettre à niveau, facile à utiliser et intelligent. Il est principalement utilisé pour l'analyse qualitative et quantitative de phase, l'analyse de la structure cristalline, l'analyse de la structure des matériaux, l'analyse de l'orientation cristalline, la détermination des contraintes macroscopiques ou microscopiques, la détermination de la granulométrie, la détermination de la cristallinité, etc. d'échantillons de poudre, de blocs ou de films minces. Capable de s'adapter de manière flexible aux tests, aux analyses et à la recherche dans diverses industries !
