Structure fine d'absorption des rayons X(XAFS), également appelé spectroscopie d'absorption des rayons X (XAS), il s'agit d'un outil puissant pour étudier la structure atomique ou électronique locale des matériaux basés sur une source de lumière à rayonnement synchrotron, et est largement utilisé dans des domaines chauds tels que la catalyse, énergie et nano.
LeXAFSLe spectre se compose de deux parties principales : la structure proche d’absorption des rayons X (XANES) et la structure fine d’absorption étendue des rayons X (EXAFS).
EXAFS : La plage d'énergie est d'environ 50eV à 1 000eV derrière le bord d'absorption, qui provient deradiographieexcitation
La couche interne de photoélectrons résulte d’un effet de diffusion électronique unique entre l’atome environnant et l’atome absorbant.
XANES : Une plage d'environ 10eV avant le bord d'absorption à environ 50eV après le bord d'absorption, principalement de
Rayons X. Diffusion multiple d'électrons uniques entre les atomes environnants et absorbants par les photoélectrons excités de la coque interne.
Champ d'application:
Catalyse industrielle, matériaux de stockage d'énergie, nanomatériaux, toxicologie environnementale, également analyse de qualité, analyse d'éléments lourds, etc.
