Le nom complet de XRD estDiffraction des rayons X, qui utilise le phénomène de diffraction d'un rayon X dans un cristal pour obtenir la caractéristique du signal de rayon X après diffraction, puis est traité pour obtenir lediffractionmodèle. L'utilisation d'informations spectrales peut non seulement permettre de déterminer la phase du microscope conventionnel, mais également d'avoir un"oeil de perspective"pour voir s'il y a des défauts (dislocation) et des défauts de réseau dans lecristal.
Fig 1 Schéma d'action du diffractomètre à rayons X
Dans le monde deDiffractomètre à rayons X, leradiographieLe système de génération (qui produit des rayons X) est le"soleil", le système de mesure et de détection d'angle est son"yeux", le système d'enregistrement et de traitement des données est son"cerveau", et les trois travaillent ensemble pour produire le diagramme de diffraction.
Fig2 Structure du diffractomètre à rayons X