La diffraction des rayons X est une méthode permettant d'étudier la phase et la structure cristalline d'une substance en utilisant le phénomène de diffraction des rayons X dans un cristal.Diffractomètre à rayons Xest une sorte d'instrument pour réaliser la technologie de diffraction des rayons X, principalement composé d'une source de rayons X, d'un système de mécanisme de réglage de l'orientation de l'échantillon et de la position de l'échantillon, d'un détecteur de rayons X et d'un système de traitement et d'analyse du motif de diffraction.
Dans la recherche scientifique,Diffraction des rayons Xne peut pas seulement caractériser la structure et la phase des matériaux. En fait, le modèle XRD comprend également des informations cristallographiques telles que le groupe spatial, la longueur de liaison, la taille des grains et la contrainte de réseau du matériau synthétique.
DRXle raffinement peut vérifier l’exactitude de l’analyse structurelle. Lorsqu'un élément du matériau cristallin est remplacé ou partiellement remplacé, nous pouvons également utiliser la structure isomorphe pour effectuer un affinement et obtenir la structure cristalline du matériau de remplacement.
L'analyse de raffinement de la structure XRD consiste à remplacer la quantité de diffusion unique hkl par la quantité de diffusion totale et à utiliser le modèle mathématique pour ajuster les données expérimentales, séparer la quantité de diffusion de chaque phase et réaliser une analyse de phase quantitative. Le processus d'ajustement consiste à ajuster en continu les valeurs des paramètres dans le modèle et enfin à obtenir le meilleur accord entre les données expérimentales et les valeurs calculées du modèle.