La diffraction des rayons X (DRX) est un moyen de recherche permettant d'obtenir des informations telles que la composition d'un matériau, la structure ou la forme d'un atome ou d'une molécule interne en analysant son diagramme de diffraction à traversDiffraction des rayons X.
Diffractomètre à rayons X TDM-20
1. Structure des instruments :
Le diffractomètre à rayons X est principalement composé de quatre parties : un générateur de rayons X, un instrument de mesure d'angle, un système de mesure de l'intensité des rayons X et un système de contrôle et d'acquisition et de traitement des données de diffraction.
(1)Générateur de rayons X :Le générateur de rayons X fournit les rayons X nécessaires à la mesure de la source de rayons X hautement stable. Changer la cible anodique duTube à rayons Xpeut changer la longueur d'onde des rayons X et l'ajustement de la tension de l'anode peut contrôler l'intensité de la source de rayons X.
(2)Goniomètre:L'instrument de mesure d'angle est le composant principal du diffractomètre à rayons X, qui est principalement composé d'un diaphragme, d'une fente de divergence, d'une fente de réception, d'une fente anti-diffusion, d'une base d'échantillon et d'un détecteur de scintillation.
(3)Système de mesure de l'intensité des rayons X :Le détecteur couramment utilisé dans lediffractomètreest le compteur à scintillation, qui utilise la fluorescence des longueurs d'onde dans la gamme de la lumière visible produite par les rayons X dans certaines substances solides (phosphorescentes), et cette fluorescence est convertie en un courant électrique mesurable. Étant donné que le courant de sortie est proportionnel à l’énergie des photons X absorbée par le compteur, il peut être utilisé pour mesurer l’intensité de la raie de diffraction.
(4)Système de contrôle du diffractomètre et d'acquisition et de traitement des données de diffraction :Une fois l'opération de numérisation terminée, les données de diffraction originales sont automatiquement stockées sur le disque dur de l'ordinateur pour l'analyse et le traitement des données. L'analyse et le traitement des données incluent la sélection du point de lissage, la déduction du fond, la recherche automatique des pics, le calcul de la valeur d, le calcul de l'intensité du pic de diffraction, etc.
2. Caractéristiques des instruments :
(1) La combinaison parfaite d’un système matériel et d’un système logiciel pour répondre aux besoins de différents domaines d’application.
(2) Système de mesure d'angle de diffraction de haute précision pour obtenir des résultats de mesure plus précis.
(3) Haute stabilitéSystème de contrôle du générateur de rayons Xm, pour obtenir une précision de mesure répétée plus stable.
(4) Programme d'exploration géochimique, conception de structure intégrée, opération facile, plus belle apparence de l'instrument.
3. Appréciation morphologique typique
