La composition du diagramme de diffraction comprend principalement la position et l’intensité du pic de diffraction. L'analyse duDiffraction des rayons Xle motif est basé sur des changements d'intensité et de position pour élucider les transformations matérielles aux échelles micro et macro.
Chaque matériau possède son propre motif de diffraction unique, également appelé caractéristiquediffractionmodèle. La taille des cellules du matériau détermine la position de la raie de diffraction, c'est-à-dire la position du pic observé sur le spectre de diffraction ; tandis que le type et la disposition des atomes dans la cellule déterminent l'intensité de chaque pic de diffraction. De plus, la symétrie de la forme d'un cristal dicte le nombre de pics de diffraction présents.
LeDiffractomètre à rayons Xest actuellement le système le plus avancé au monde, conçu pour être entièrement fonctionnel et adaptable à diverses tâches de détermination, d'analyse et de recherche de microstructures de poudres, de films et de cristaux complets. Chaque substance possède son propre spectre de diffraction caractéristique dans le spectre de diffraction des rayons X. Dans un mélange hétérogène de substances, le spectre XRD représente une simple superposition de chaque phase.
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