Des produits
Produits populaires
Diffraction des rayons X sur monocristal1. La machine à monocristal adopte la technologie de contrôle PLC. 2. Conception modulaire, accessoires plug and play. 3. Équipement de verrouillage électronique de porte d'entrée avec double protection. 4. Tube à rayons X monocristallin : une variété de cibles peuvent être sélectionnées, telles que Cu, Mo, etc. 5. Le monocristal adopte une technologie concentrique à quatre cercles pour garantir que le centre du goniomètre ne reste pas inchangé.Plus- Diffractomètre1. La précision du diffractomètre est élevée. 2. Le champ d'application du diffractomètre est vaste. 3. Le diffractomètre est facile à utiliser, pratique et efficace.Plus
- Analyseur de cristaux à rayons X en série1. L'appareil à rayons X est facile à utiliser et rapide à détecter. 2. L'appareil à rayons X est précis et fiable, avec d'excellentes performances. 3. L'appareil à rayons X possède divers accessoires fonctionnels pour répondre aux besoins des différents objectifs de test.Plus
- Diffractomètre à poudre1. Type de détecteur : détecteur matriciel ou détecteur SDD ; 2. Calcul du contrôle automatique de l'API, conversion du mode d'intégration, l'API exécute automatiquement le PHA, correction du temps mort 3. Type de mesure d'échantillon : échantillon de poudre, échantillons liquides, échantillons à l'état fondu, échantillons visqueux, poudres libres, échantillons solides en vrac 4.Disponible avec une variété d'accessoires de diffractomètre 5. Puissance de sortie maximale de poudre : 3 kWPlus
Contactez-nous
Porte-échantillon rotatif
- Tongda
- Liaoning, Chine
- 1 à 2 mois
- 100 unités par an
Porte-échantillon rotatif
En analyse par diffraction des rayons X (DRX) pour des domaines tels que la science des matériaux, la géologie et la recherche et développement pharmaceutique, l'orientation cristalline et l'uniformité du grain d'un échantillon influent directement sur la précision et la reproductibilité des données. La société Dandong Tongda Technology Co., Ltd. a conçu un Platine porte-échantillon rotative de haute précision Conçu spécifiquement pour les diffractomètres à rayons X, cet outil utilise une technologie unique de rotation dans le plan pour corriger efficacement les erreurs de mesure dues à la taille des grains, à la texture ou à la morphologie cristalline des échantillons, permettant ainsi aux utilisateurs d'obtenir des résultats de diffraction plus authentiques et fiables.
Principe technique fondamental : Rotation dans le plan, statistiques de précision
La fonction principale de cette platine porte-échantillon est d'entraîner la rotation continue et régulière de l'échantillon dans son propre plan.
Élimination des erreurs de grain grossier : Lorsqu'un échantillon contient un petit nombre de gros grains, les tests statiques peuvent produire des diagrammes de diffraction non représentatifs statistiquement. En faisant tourner continuellement l'échantillon sous le faisceau de rayons X, la platine de rotation garantit que le faisceau irradie un plus grand nombre de grains avec des orientations différentes. homogénéise le signal de diffraction, transformant les taches discrètes en anneaux de diffraction lisses et continus et réduisant considérablement les erreurs d'intensité causées par les gros grains.
Perturbation de l'orientation préférentielle (texture) : Pour les échantillons qui ont développé texture (c.-à-d. orientation préférentielle des grains) pendant la transformation ou la croissance, ou des échantillons présentant des caractéristiques spécifiques habitudes cristallinesLes tests de rotation garantissent que tous les plans cristallins possibles ont une chance égale de diffracter. Cela permet de s'affranchir de l'influence d'une orientation fixe sur l'intensité de diffraction, fournissant ainsi des données d'intensité qui reflètent fidèlement la composition de phase et garantissent… excellente reproductibilité des résultats de mesure.
Paramètres et fonctions clés de performance
Mode de rotation : Rotation selon l'axe β (plan de l'échantillon).
Vitesse de rotation : Réglable à partir de 1 à 60 tr/min (tours par minute), répondant aux besoins de différents scénarios de test.
Modes de fonctionnement : Supports rotation continue à vitesse constante pour les examens de routine, et mode pas à pas pour des mesures plus précises.
Contrôle de haute précision : Caractéristiques largeur de pas minimale de 0,1°, assurant un positionnement rotationnel précis.
Large éventail de scénarios d'application
Cette platine porte-échantillon rotative est un choix idéal pour les applications suivantes :
Préparation et prétraitement des échantillons pour analyse de texture de matériaux métalliques.
Analyse d'échantillons en vrac ou en poudre présentant des symptômes problèmes liés aux grains grossiers.
Analyse d'échantillons avec forte orientation préférée, tels que les plaques laminées, les revêtements et les cristaux lamellaires.
Analyse quantitative des phases nécessitant des performances extrêmement élevées reproductibilité de l'intensité de diffraction.
Porte-échantillon rotatif (Étape d'échantillonnage XRD)
Spécifications du porte-échantillon rotatif :
| Mode de rotation | axe β (plan d'échantillonnage) |
| vitesse de rotation | 1 à 60 tr/min |
| Largeur de marche minimale | 0,1° |
| Mode de fonctionnement | Rotation à vitesse constante pour le balayage de l'échantillon (étape continue) |
Porte-échantillon rotatif (Étape d'échantillonnage XRD)
Dandong Tongda Technology Co., Ltd. s'engage à fournir des instruments et accessoires d'analyse par rayons X de haute performance pour la recherche scientifique et les essais industriels. Cette platine porte-échantillon rotative illustre parfaitement le savoir-faire de l'entreprise en matière de conception mécanique de précision et sa parfaite compréhension des besoins expérimentaux.
Pour obtenir des informations plus détaillées sur les produits, les prix et le service après-vente, n'hésitez pas à nous contacter directement.
