



L'accessoire de mesure de couches minces de Dandong Tongda Technology améliore les performances grâce à l'intégration de réseaux de diffraction plus longs. Cette conception filtre efficacement le rayonnement diffusé, réduisant ainsi les interférences des signaux du substrat tout en renforçant considérablement les signaux de diffraction de la couche mince.
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