



Le montage sur film mince permet une analyse XRD précise des films nanométriques/micrométriques, idéale pour les semi-conducteurs, les revêtements et les polymères. Il améliore le signal, réduit les interférences du substrat et permet un balayage à haute vitesse, largement utilisé en R&D et en contrôle qualité avec les diffractomètres de la série TD.
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