



L'accessoire de diffraction aux petits angles de Dandong Tongda mesure avec précision l'épaisseur des films nano-multicouches (plage de 0° à 5°). Entièrement compatible avec les diffractomètres de la série TD, il offre une simplicité d'utilisation immédiate et une reproductibilité de 0,0001°, facilitant ainsi la recherche dans les domaines des énergies nouvelles et des semi-conducteurs.
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