ACCESSOIRE DE MESURE POUR COUCHES MINCES
L'accessoire de mesure de couches minces de Dandong Tongda Technology améliore les performances grâce à l'intégration de réseaux de diffraction plus longs. Cette conception filtre efficacement le rayonnement diffusé, réduisant ainsi les interférences des signaux du substrat tout en renforçant considérablement les signaux de diffraction de la couche mince.
- Tongda
- Liaoning, Chine
- 1 à 2 mois
- 100 unités par an
- information
Dandong Tongda Technology Co., Ltd., entreprise nationale de haute technologie fondée en 2010, est spécialisée dans la recherche et le développement, la fabrication et la vente d'instruments d'analyse par rayons X et d'équipements de contrôle non destructif. Son siège social est situé à Dandong, dans la province du Liaoning.
Forte de son expertise technique pointue, Dandong Tongda Technology a lancé des produits phares tels que des diffractomètres à rayons X, des instruments d'orientation cristalline et des analyseurs de contraintes résiduelles. Ces instruments sont largement utilisés dans les secteurs industriel, pharmaceutique et de la recherche sur les matériaux, au sein des universités, des instituts de recherche et des entreprises. Les instruments d'analyse et les équipements de contrôle non destructif de la série TD de la société atteignent ou s'approchent des normes internationales.
Outre la fabrication de diffractomètres à rayons X, la société propose également une gamme d'accessoires pour instruments. Parmi ceux-ci, l'accessoire de mesure de couches minces est un composant optique de haute précision spécialement conçu pour améliorer les performances des diffractomètres à rayons X (DRX) dans l'analyse des matériaux en couches minces. Cet accessoire innovant adopte une conception modulaire, permettant une intégration aisée avec le TDM-20 et d'autres séries de diffractomètres. En augmentant la longueur du réseau de diffraction,taccessoire de mesure de film hinCe dispositif filtre efficacement les rayons diffusés, réduisant ainsi l'impact des signaux du substrat sur les résultats et améliorant l'intensité du signal des couches minces. Sa conception repose sur l'allongement significatif de la feuille de réseau afin d'obtenir une filtration exceptionnelle des rayons diffusés, optimisant ainsi la qualité des données de diffraction et fournissant des données plus fiables pour la recherche scientifique et les essais industriels.
Technologie Dandong Tongdataccessoire de mesure de film hinIl ne s'agit pas d'un simple module complémentaire, mais d'une solution systématique répondant aux principaux défis de l'analyse des couches minces. Grâce à la conception précise de son chemin optique, elle permet un gain considérable en termes de qualité des données, offrant ainsi aux chercheurs en science des matériaux une perspective plus nette et plus précise pour l'exploration du monde nanométrique.
Dandong Tongda Technology Co., Ltd. se tient à votre disposition pour toute question concernant ses diffractomètres à rayons X et sa gamme complète d'accessoires. Notre équipe technique dédiée vous garantit des réponses rapides et professionnelles sous 24 heures afin de répondre à vos besoins spécifiques. Nous fournissons des spécifications techniques complètes, des recommandations de solutions personnalisées et des démonstrations détaillées de nos produits. Forts d'une expertise approfondie dans le domaine des instruments d'analyse des matériaux, nous nous engageons à vous offrir un service de conseil avant-vente et un support après-vente exceptionnels. Nous espérons établir des partenariats fructueux et vous fournir des solutions analytiques fiables, à la hauteur de vos objectifs de recherche et de contrôle qualité.
