Mini diffractomètre à rayons X
1. Puissance de sortie maximale de poudre : 1200 W ;
2. Type de détecteur : détecteur matriciel ou détecteur SDD, tous les types de détecteurs peuvent être adaptés à ce mode ;
3. Modèle de travail : calcul de contrôle automatique PLC, conversion de méthode d'intégration, PLC exécute automatiquement PHA, correction du temps mort
- Tongda
- Liaoning, Chine
- 1 à 2 mois
- 100 unités par an
- information
Introduction au diffractomètre à rayons X TDM-20 :
Le diffractomètre à rayons X sur poudre TDM-20 (DRX de paillasse) est principalement utilisé pour l'analyse de phase des poudres, des solides et des matériaux pâteux similaires. Le principe de la diffraction des rayons X permet l'analyse qualitative et quantitative, ainsi que l'analyse de la structure cristalline des matériaux polycristallins tels que les échantillons de poudre et les échantillons minéraux. Il est largement utilisé dans l'industrie, l'agriculture, la défense nationale, l'industrie pharmaceutique, l'industrie minière, la sécurité alimentaire, le pétrole, l'éducation et la recherche scientifique, entre autres.
Diffractomètre de poudre (DRX) de paillasse
Le diffractomètre à rayons X sur poudre TDM-20 (XRD de paillasse) surpasse la norme internationale d'origine de 600 W et passe à une toute nouvelle puissance de 1 600 W. Son fonctionnement est simple, ses performances stables et sa faible consommation d'énergie. Il peut être équipé d'un détecteur proportionnel ou d'un nouveau détecteur matriciel haute vitesse, ce qui améliore considérablement les performances de l'ensemble de la machine.
Diffractomètre de poudre (DRX) de paillasse
Caractéristiques du diffractomètre à rayons X (diffractomètre à poudre) :
L'équipement est de petite taille et léger；
L'alimentation haute fréquence et haute tension peut réduire la consommation d'énergie de l'ensemble de la machine；
Il peut rapidement calibrer et tester l'échantillon；
Le contrôle de ligne est simple et pratique pour le débogage et l'installation；
La linéarité de l'angle de diffraction du spectre complet peut atteindre ± 0,01°；
Précision de mesure de la position du pic de diffraction 0,001.
Bienvenue pour contacter Tongda pour plus de paramètres liés aux produits et de solutions d'utilisation.
01 Dandong Tongda Science
Analyse par diffraction des rayons X diversifiée et de haute qualité
Le détecteur conventionnel utilise un canal pour recevoir les données lorsque les rayons X atteignent l'échantillon. Un détecteur matriciel 1D avancé reçoit simultanément les données sur 640 canaux. La vitesse de test peut ainsi être décuplée.
02 Dandong Tongda Science
Réglage de la précision des instruments
Lors de la mesure de la poudre de silice d'un échantillon standard international, l'écart de tous les pics du spectre complet ne doit pas dépasser ± 0,01°. La précision de l'angle de diffraction du spectre complet garantit une analyse qualitative et quantitative précise.
03Dandong Tongda Science
Excellente résolution
Lorsque le temps d'échantillonnage est de 0,1 s et que l'angle de largeur de pas est de 0,01°, la FWHM du pic principal 28,442° est meilleure que 0,075', et le
La résolution est inférieure à 85 %. Une haute résolution permet de résoudre le problème du chevauchement des pics de diffraction. Pour le contenu complexe de l'échantillon, il est possible d'obtenir rapidement les résultats de l'analyse de phase.
Pièces optionnelles :
détecteur proportionnel détecteur matriciel unidimensionnel changeur d'échantillons automatique 6 bits porte-échantillon rotatif
À propos de nous
Un diffractomètre à rayons X est un instrument de précision utilisé pour étudier la structure cristalline, la morphologie et les propriétés de la matière. Lors de l'emballage et du transport, certaines mesures doivent être prises pour garantir la sécurité et les performances de l'instrument.
Veuillez cliquer sur le lien pour plus de détails :https://www.tongdaxrd.com/news/about-x-ray-diffractometer-packaging
