Structure fine d'absorption des rayons X (XAFS)
Le spectromètre XAFS atteint une qualité de données de niveau synchrotron avec un flux > 4M photons/s/eV,<0.1% stability, and a 1% detection limit. It empowers research across energy, catalysis, and materials science.
- Tongda
- Liaoning, Chine
- 1 à 2 mois
- 100 unités par an
- information
| Paramètre | Description | |
| Performance globale | Gamme énergétique | 4,5-25 keV |
| Mode d'acquisition du spectre | Mode de transmission | |
| Flux de photons au niveau de l'échantillon | >4×10⁶ photons/(s·eV) | |
| Résolution énergétique | XANES : 0,5-1,5 eV EXAFS : 1,5-10 eV | |
| Trajectoire aux rayons X | Circuit de purge à l'hélium pour minimiser l'absorption d'air | |
| Répétabilité | Dérive énergétique reproductible < 50 meV | |
| Structure | La configuration à double cercle de Rowland élimine le besoin pour la commutation de la source lumineuse lors des mesures XAFS. Utilisation d'une seule source de rayons X XAFS dédiée pour générer un double faisceau de rayons X, le système fournit deux rayons X énergétiquement monochromatiques à travers deux cercles de Rowland et deux monochromateurs. Cela permet la caractérisation simultanée de deux éléments métalliques au sein du même échantillon, permettant une analyse parallèle des structures atomiques locales des deux éléments métalliques. | |
| Source de rayons X | Pouvoir | 2,0 kW ; Haute tension : 10-40 kV ; Courant : 1-50 mA |
| Cible | Cibles standard en W/Mo ; autres matériaux de cibles disponibles en option. | |
| monochromateur | Taper | Cristal d'analyseur sphérique avec un rayon de courbure de 500 mm et une dimension de 102 mm |
| Détecteur | Taper | SDD de grande surface avec une surface active de 150 mm² |
| Configurations supplémentaires | Changeur d'échantillons | Changeur d'échantillons à 18 positions pour le test automatisé en continu de plusieurs échantillons |
| Cellule d'échantillon in situ | Cellules in situ pour diverses conditions : électrocatalyse, champs multiphysiques à température variable et essais mécaniques | |
| Cristal d'analyse | Monochromateur à cristal spécialisé pour l'analyse d'éléments spécifiques |
Principaux avantages :
Flux de photons le plus élevé : Notre produit génère un flux de photons supérieur à 4 000 000 photons/s/eV, offrant une efficacité d'acquisition spectrale plusieurs fois supérieure à celle des systèmes comparables. Il permet ainsi d'obtenir une qualité de données équivalente à celle des sources de rayonnement synchrotron.
Stabilité exceptionnelle : L'instrument présente une excellente stabilité d'intensité lumineuse monochromatique, avec des variations inférieures à 0,1 %. La dérive énergétique reproductible lors d'acquisitions répétées est maintenue en dessous de 50 meV.
Limite de détection de 1 % : La combinaison d'un flux élevé, d'une optimisation supérieure du chemin optique et d'une stabilité exceptionnelle de la source garantit l'acquisition de données EXAFS de haute qualité, même pour des concentrations élémentaires aussi faibles que 1 %.
Principe de l'instrument :
Le spectromètre d'absorption des rayons X (XAFS) est un outil puissant pour l'étude de la structure atomique et électronique locale des matériaux. Il est largement utilisé dans divers domaines importants, notamment la catalyse, la recherche énergétique et les nanosciences.
Géométrie de test du monochromateur de laboratoire XES
Géométrie de test XAFS du monochromateur de laboratoire
Données sur le manganèse (Mn) et données XAFS au seuil K du Mn : cohérentes avec la qualité de la source de rayonnement synchrotron
Données du spectre d'émission Kβ d'un échantillon de fer (Fe) : spectres d'émission XES cœur-à-cœur et spectres d'émission XES valence-à-cœur
Données de test
Données EXAFS de la feuille
Applications
Ce spectromètre XAFS trouve de nombreuses applications, permettant aux clients de réaliser des percées dans de multiples domaines :
Nouvelle énergie : Utilisée dans l'étude des piles à combustible, des matériaux de stockage d'hydrogène, des batteries lithium-ion, etc., elle permet d'analyser les changements dynamiques de l'état de valence et de l'environnement de coordination des atomes centraux au cours des processus catalytiques.
Catalyse industrielle : Applicable à des domaines de recherche tels que la catalyse par nanoparticules et la catalyse monoatomique. Permet de caractériser la morphologie des catalyseurs sur supports et leurs interactions avec le matériau support.
Science des matériaux : Utilisée pour la caractérisation de divers matériaux, l’étude des systèmes complexes et des structures désordonnées, ainsi que pour l’étude des propriétés des matériaux de surface et d’interface.
Sciences environnementales : Peuvent être utilisées pour analyser la contamination par les métaux lourds dans des échantillons tels que le sol et l'eau, en déterminant l'état de valence et la concentration des éléments.
Biomacromolécules : Elles peuvent être utilisées pour étudier la structure atomique locale autour des centres métalliques dans les métallobiomolécules..
À propos de nous
Depuis 2013, Tongda Technology a établi un partenariat stratégique avec le groupe de recherche dirigé par l'académicien Chen Xiaoming de l'Académie chinoise des sciences. La plateforme d'expertise mise en place conjointement a fourni à l'entreprise une base de recherche solide pour renforcer sa présence dans le domaine de l'analyse par rayons X. En tant que maître d'œuvre du projet de développement d'instruments et d'équipements scientifiques majeurs lancé par le ministère des Sciences et des Technologies, l'entreprise a collaboré pendant plus de huit ans avec sept institutions de recherche, dont l'université Sun Yat-sen et l'Institut de technologie informatique de Shenyang, rattachés à l'Académie chinoise des sciences. En 2021, elle a lancé avec succès le premier diffractomètre à rayons X monocristallin de fabrication chinoise, bénéficiant de droits de propriété intellectuelle entièrement indépendants, mettant ainsi fin à la dépendance de longue date aux instruments importés dans ce domaine.
En termes de structure des talents, la proportion de personnel R&D au sein de l'entreprise atteint 30 %, dépassant largement la moyenne du secteur. Concernant la propriété intellectuelle, l'entreprise détient à ce jour 23 brevets et 7 droits d'auteur sur des logiciels. Quant à son portefeuille de produits, il comprend une gamme complète d'instruments d'analyse par rayons X, incluant les diffractomètres de la série TD, les diffractomètres de paillasse, les spectromètres de fluorescence X, les diffractomètres monocristallins, les orienteurs de cristaux et les analyseurs de cristaux.
En matière d'intégration technologique, le diffractomètre entièrement automatisé Tongda AI combine étroitement intelligence artificielle et robotique. Doté d'un bras robotisé de haute précision, il assure la préhension et l'analyse automatisées de divers types d'échantillons, tels que les poudres, les couches minces et les matériaux massifs. Une application mobile permet le pilotage à distance, tandis que le système d'ouverture et de fermeture automatique des portes améliore considérablement la sécurité et le confort d'utilisation. Son architecture modulaire offre une grande flexibilité pour les futures extensions fonctionnelles et mises à niveau.
