



Cette procédure est une procédure auto-développée. Il contient une variété de fonctions d'analyse quantitative développées par nous-mêmes, qui sont conformes à la théorie de la diffraction et sont calculées par intensité intégrale.
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Cet article partage principalement certaines questions pertinentes sur "l'analyse du logiciel JADE et le traitement des données XRD".
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Le diffractomètre à rayons X est principalement utilisé pour la caractérisation de phase, l'analyse quantitative, l'analyse de la structure cristalline, l'analyse de la structure des matériaux, l'analyse de l'orientation cristalline d'échantillons de poudre, de bloc ou de film mince.
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Dandong Tongda Technology Co., Ltd. en tant qu'entreprise pionnière dans l'industrie nationale, depuis sa création avec une équipe professionnelle, un esprit professionnel pour fournir aux clients des produits avancés et des services de qualité.
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Dandong Tongda Technology Co., Ltd. met l'accent sur le concept de service client « les besoins du client comme point de départ » et renforce le système de service client. Nos services depuis la planification, la conception jusqu'à l'opération de mise en œuvre, pour fournir des services systématiques, raisonnables, efficaces de bout en bout pour aider les utilisateurs à maîtriser les nouveaux produits, les nouvelles technologies et à améliorer de manière globale la valeur d'usage réelle des produits.
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Depuis sa création, Dandong Tongda Technology Co., Ltd. a mis la valeur des employés sur la philosophie de l'entreprise. Ce ne sont pas des travailleurs facultatifs, ce sont des partenaires, des amis, c'est pour réaliser le développement continu de l'entreprise et la croissance des principaux contributeurs, ce point peut être considéré comme une véritable expérience à Tongda.
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Le diffractomètre à rayons X, également connu sous le nom de diffractomètre à cristal de rayons X, en abrégé XPD ou XRD, est un instrument permettant d'étudier la microstructure interne de la matière. Le diffractomètre à rayons X présente les avantages d'une haute précision, d'une grande stabilité et d'un fonctionnement pratique.
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La diffraction des rayons X (DRX) est une méthode majeure pour étudier la phase et la structure cristalline d'une substance. Lorsqu'une substance (cristalline ou non cristalline) est analysée par diffraction, la substance est irradiée par des rayons X pour produire différents degrés de phénomène de diffraction, la composition du matériau, le type de cristal, le mode de liaison intramoléculaire, la configuration moléculaire, la conformation et d'autres caractéristiques du matériau déterminent le diagramme de diffraction spécifique de la substance.
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Il utilise le principe des rayons X pour effectuer des analyses qualitatives ou quantitatives et une analyse de la structure cristalline de matériaux polycristallins tels que des échantillons de poudre et des échantillons de métaux.
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