Tongda propose des solutions de diffraction des rayons X assorties de services personnalisés. Ses installations de pointe et ses technologies clés confèrent à ses produits une qualité quasi-internationale. Utilisés dans de nombreux domaines, ses produits bénéficient d'une amélioration continue grâce à une équipe de R&D de 30 personnes.
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La diffraction des rayons X (DRX) est largement utilisée en science des matériaux, en chimie, en biologie et en géologie. Elle permet l'étude des structures cristallines, des changements de phase, l'analyse chimique, les structures protéiques, la composition minérale, les polymorphes de médicaments, l'archéologie et le contrôle qualité industriel. La DRX est une technique non destructive, de haute précision et rapide, avec une résolution toujours plus élevée pour les études dynamiques in situ.
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Le diffractomètre à rayons X fonctionne selon la loi de Bragg (2d sinθ = nλ). En balayant l'angle θ et en enregistrant les pics de diffraction, il révèle la structure cristalline, les paramètres de maille, la taille des grains, les contraintes résiduelles, la composition de phase, etc. C'est un outil essentiel pour l'analyse des matériaux.
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Les diffractomètres de poudre permettent une analyse rapide et non destructive de la structure cristalline par diffusion des rayons X. Ils optimisent les alliages, les matériaux pour batteries et les formulations pharmaceutiques. L'automatisation et les algorithmes en constante évolution améliorent la précision et stimulent l'innovation dans le domaine des matériaux.
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Les diffractomètres à rayons X 2D sont confrontés à des problèmes tels que la préparation inégale des échantillons, les erreurs d'étalonnage, une configuration incorrecte, un traitement inexact des données, le manque d'entretien, les fluctuations environnementales et les défis logiciels, autant d'éléments qui affectent la précision et la fiabilité des résultats.
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Pour améliorer la qualité des données de diffraction monocristalline, assurez-vous d'utiliser des cristaux de haute qualité, une cible appropriée, optimisez les conditions, ajustez les stratégies de collecte et effectuez un traitement et une validation minutieux des données.
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La diffraction des rayons X sur monocristal est essentielle en science des matériaux pour l'analyse de la structure cristalline, l'identification des phases et l'analyse des contraintes. Elle permet une caractérisation précise à l'échelle atomique, soutient la conception rationnelle des matériaux et progresse grâce à de nouvelles technologies comme le rayonnement synchrotron et la détermination de structure assistée par l'intelligence artificielle.
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Les diffractomètres à rayons X sont utilisés en science des matériaux, en analyse chimique, pour les tests rapides sur site (drogues/explosifs), dans l'industrie pharmaceutique (analyse de la forme cristalline) et en criminalistique (matériaux cristallins tels que les minéraux, les sols et les revêtements). Ils permettent l'analyse de la structure cristalline, l'identification des phases et la détection rapide sur site.
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Diffractomètre de rayons X de paillasse : un outil essentiel en nanotechnologie pour l’analyse à l’échelle atomique. Il permet de décrypter la structure cristalline, la composition de phase et la taille des grains grâce aux diagrammes de diffraction. Indispensable pour la compréhension des nanopropriétés, le contrôle de la synthèse et la conception de composites, sa résolution accrue favorise la recherche et l’innovation dans les secteurs pharmaceutique, énergétique et électronique.
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Le diffractomètre à rayons X haute résolution TD-3700 intègre un détecteur matriciel à grande vitesse, amplifiant l'intensité du signal de plusieurs dizaines, voire centaines de fois. Il permet une analyse rapide de la phase, des contraintes et de la structure en modes transmission/réflexion, et répond aux besoins des industries, de l'électronique à la recherche sur les matériaux, avec une efficacité et une précision élevées.
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