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Le diffractomètre à rayons X TDM-20 (DRX de paillasse) est principalement utilisé pour l'analyse de phase des poudres, des solides et des substances pâteuses. Basé sur le principe de la diffraction des rayons X, il permet l'analyse qualitative et quantitative, ainsi que l'analyse de la structure cristalline, de matériaux polycristallins tels que des échantillons de poudre et des échantillons métalliques. Il est largement utilisé dans des secteurs tels que l'industrie, l'agriculture, la défense nationale, l'industrie pharmaceutique, la minéralogie, la sécurité alimentaire, le pétrole, ainsi que l'éducation et la recherche. Principe fondamental : la diffraction des rayons X, la clé du monde microscopique Le diffractomètre à rayons X TDM-20 fonctionne selon le principe de la diffraction des rayons X. Lorsque les rayons X illuminent un échantillon, ils interagissent avec les atomes qui le composent et se diffractent. Différentes structures cristallines produisent des motifs de diffraction uniques, comparables à des empreintes digitales. En analysant ces motifs, l'instrument révèle avec précision des informations clés sur la structure cristalline de l'échantillon, sa composition en phases, etc., révélant ainsi les secrets cachés à l'échelle microscopique. Percée en matière de performances Le diffractomètre à rayons X TDM-20 (DRX de paillasse) surpasse la norme internationale précédente de 600 W et bénéficie d'une mise à niveau complète pour atteindre 1 200 W. Cet instrument se distingue par sa simplicité d'utilisation, ses performances stables et sa faible consommation d'énergie. Il peut être équipé d'un détecteur proportionnel ou d'un nouveau détecteur matriciel haute vitesse, ce qui se traduit par une amélioration significative des performances globales. Caractéristiques de l'appareil Taille compacte et conception légère Conception d'alimentation haute fréquence et haute tension pour une consommation énergétique globale plus faible Prend en charge l'étalonnage et les tests rapides des échantillons Contrôle de circuit simplifié pour un débogage et une installation faciles La précision linéaire de l'angle de diffraction à spectre complet atteint ± 0,01° Accessoires riches Le TDM-20 peut être associé à divers accessoires, notamment un détecteur de réseau 1D, un détecteur proportionnel, un changeur d'échantillons automatique à 6 positions, une platine d'échantillon rotative, entre autres. Conclusion Le diffractomètre à rayons X TDM-20 (DRX de paillasse), grâce à ses performances exceptionnelles, sa simplicité d'utilisation et son large éventail d'applications, est devenu un outil indispensable dans de nombreux secteurs industriels et domaines de recherche. Véritable « détective » du monde microscopique, il nous aide à percer les mystères de la structure des matériaux et à progresser dans divers domaines. Si vous aussi souhaitez explorer les secrets microscopiques de la matière, pensez au TDM-20 pour vous lancer dans la recherche et la production précises et efficaces.

Le mini-diffractomètre à rayons X TDM-20 est un instrument d'analyse de paillasse hautes performances développé et fabriqué par Dandong Tongda Technology Co., Ltd. Il est principalement utilisé pour l'analyse de phase des matériaux polycristallins tels que les poudres, les solides, les échantillons en vrac et les pâtes. Utilisant le principe de la diffraction des rayons X, cet instrument permet des analyses qualitatives et quantitatives, ainsi que l'analyse de la structure cristalline, et d'autres fonctions. Ses applications sont nombreuses dans divers domaines, notamment l'industrie, l'agriculture, la défense, l'industrie pharmaceutique, la minéralogie, la sécurité alimentaire, le pétrole et la recherche pédagogique. Le diffractomètre à rayons X de paillasse TDM-20 dépasse la limite conventionnelle de 600 W, délivrant une puissance de sortie maximale de 1 200 W pour des performances élevées. De plus, il intègre une alimentation haute fréquence et haute tension, réduisant ainsi la consommation énergétique globale. Il bénéficie d'une technologie goniométrique haute précision avec une répétabilité angulaire de 0,0001°, une précision de mesure de la position du pic de diffraction de 0,001° et une linéarité de l'angle de diffraction sur profil complet de ± 0,010°. L'instrument intègre un système de contrôle avancé basé sur la technologie PLC (automate programmable industriel) et une conception modulaire pour un fonctionnement précis. Pour la détection, il peut être équipé d'un détecteur proportionnel ou d'un nouveau détecteur matriciel haute performance, améliorant considérablement les performances globales et la vitesse d'acquisition des données. Le TDM-20 offre également une grande flexibilité de configuration, prenant en charge divers accessoires tels qu'une platine porte-échantillon rotative, un détecteur matriciel 1D et un passeur d'échantillons automatique à 6 positions. Le mini-diffractomètre à rayons X TDM-20 se distingue également par sa compacité, sa portabilité, son faible encombrement et son faible poids. Reconnu comme l'un des plus petits diffractomètres à rayons X de paillasse au monde, il est parfaitement adapté aux environnements de laboratoire où l'espace est limité. De plus, il est doté d'une triple protection d'isolement sans interférence. Le rayonnement de fuite de rayons X est maintenu à ≤ 0,12 μSv/h, ce qui garantit la conformité à la norme de protection GBZ 115-2002. Par conséquent, l'utilisation du mini-diffractomètre à rayons X TDM-20 est garantie sûre et fiable. Le mini-diffractomètre à rayons X TDM-20 allie puissance, précision et compacité au sein d'une plateforme unique. Il dépasse les limites des diffractomètres à rayons X traditionnels à grande échelle et offre une solution d'analyse des matériaux efficace, pratique et fiable pour divers secteurs industriels. Grâce à ses performances techniques avancées, son service après-vente complet et sa flexibilité d'utilisation, le TDM-20 est un outil puissant pour l'analyse des matériaux en laboratoire. Pour tout besoin d'équipement de diffraction des rayons X, nous vous invitons à choisir les produits de Dandong Tongda Science and Technology Co., Ltd.

En raison des différentes conditions de cristallisation, les particules des échantillons de médicaments en poudre auront des morphologies différentes.

La diffraction des rayons X (DRX) est un moyen de recherche permettant d'obtenir des informations telles que la composition d'un matériau, la structure ou la forme d'un atome ou d'une molécule interne en analysant son diagramme de diffraction par diffraction des rayons X.

En août 2023, sous la direction de l'entreprise, la grande famille de Dandong Tongda Technology Co., Ltd. dans la province du Liaoning a organisé un dîner en plein air à la veille de la fin du mois.