Le diffractomètre à rayons X est un appareil qui utilise le principe d'interaction entre les rayons X et les substances pour obtenir des informations telles que la structure cristalline et la constante de réseau des substances en mesurant l'angle de diffraction et l'intensité des rayons X dans les substances.
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Les méthodes de caractérisation des catalyseurs monoatomiques au cuivre sont souvent utilisées pour déterminer leur structure et leurs propriétés. Voici plusieurs méthodes de caractérisation courantes.
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Dans cet article, une série de matériaux carbonés durs à structure réglable ont été préparés en utilisant du chitosane comme source de carbone, et la relation entre l'évolution de la structure carbonée dure et les propriétés de stockage du sodium a été analysée.
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De nombreux matériaux par laminage, extrusion et autres processus de déformation, ou même s'ils ne sont pas déformés, les grains du polycristal présentent une répartition inégale plus ou moins statistique, cette structure organisationnelle est appelée texture.
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La méthode d'assistance au stress interne sans énergie supplémentaire proposée dans cet article fournit une nouvelle stratégie économique et pratique pour améliorer la dynamique de réaction de la batterie.
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La technologie de diffraction des rayons X est largement utilisée dans la recherche sur les batteries lithium-ion. La DRX est une méthode conventionnelle d'analyse qualitative et quantitative des phases dans les matériaux.
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L’application de nouvelles technologies et de nouveaux produits tels que la 5G, le big data et l’intelligence artificielle entraînera une énorme demande sur le marché des semi-conducteurs, et les dépenses mondiales en équipements semi-conducteurs sont entrées dans un cycle ascendant.
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Le diffractomètre à rayons X (XRD) peut être divisé en diffractomètre à poudre à rayons X et diffractomètre monocristallin à rayons X, le principe physique de base des deux est le même.
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XRD est un moyen de recherche qui est la diffraction par diffraction des rayons X d'un matériau pour analyser son diagramme de diffraction afin d'obtenir des informations telles que la composition du matériau, la structure ou la forme des atomes ou des molécules à l'intérieur du matériau.
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La diffraction des rayons X à incidence rasante (GI-XRD) est une sorte de technique de diffraction des rayons X, qui diffère de l'expérience XRD traditionnelle, principalement en modifiant l'angle d'incidence des rayons X et l'orientation de l'échantillon.
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