Dandong Tongda Technology Co., Ltd. organise chaque été un événement de consolidation d'équipe pour se concentrer sur la survie et le développement des employés, mettre en œuvre des soins humanistes qui prennent soin, chérissent et respectent les gens, et stimuler la cohésion, l'enthousiasme et la vitalité des employés. Tongda Technology Company est un fabricant professionnel d'instruments d'analyse aux rayons X. La société possède actuellement des diffractomètres à rayons X de la série TD, des diffractomètres à monocristal à rayons X, des diffractomètres à rayons X de bureau, des analyseurs à cristaux à rayons X et d'autres produits. Le diffractomètre à rayons X est principalement utilisé pour l'analyse qualitative et quantitative de phase, l'analyse de la structure cristalline, l'analyse de la structure des matériaux, l'analyse de l'orientation cristalline, la détermination des contraintes macroscopiques ou microscopiques, la détermination de la granulométrie, la détermination de la cristallinité, etc. d'échantillons de poudre, de blocs ou de films.

Le diffractomètre à rayons X est principalement utilisé pour l'analyse qualitative ou quantitative des phases d'échantillons, l'analyse de la structure cristalline, la détermination de la cristallinité, etc. Divers accessoires fonctionnels spéciaux et les logiciels de contrôle et d'application correspondants peuvent être installés en fonction des besoins réels pour former un système de diffraction avec des fonctions spéciales. Le diffractomètre à rayons X est un instrument d'analyse de laboratoire de haute précision.

Fondée en 2002, Dandong Tongda Technology Co., Ltd. est une entreprise nationale de haute technologie dont les principaux produits sont des instruments d'analyse à rayons X et des instruments de contrôle non destructif à rayons X.

Récemment, le ministère de la Science et de la Technologie a annoncé la liste du deuxième lot de projets clés dans le cadre du Plan national clé de recherche et de développement 2023 « Conditions de recherche scientifique fondamentale et recherche et développement d'instruments et d'équipements scientifiques majeurs ».

XAFS, en tant que technique de caractérisation avancée pour l'analyse de la structure locale des matériaux, peut fournir des informations de coordination de structure atomique plus précises dans la plage des structures à courte portée que la diffraction cristalline des rayons X.

La structure fine d'absorption des rayons X (XAFS) est un outil puissant pour étudier la structure atomique ou électronique locale des matériaux basée sur une source de lumière à rayonnement synchrotron.

Joyeuse journée de la femme! Lors de ce joyeux festival, vous pouvez passer des vacances heureuses et agréables ! Amusez-vous, détendez-vous et reposez-vous ! J'espère que vous serez heureux tous les jours et que vous aurez toujours un bon caractère !

Afin de montrer le bon style de développement vigoureux de Dandong Tongda Company, de renforcer l'amitié et de renforcer la cohésion, la société a organisé une activité de consolidation de groupe du 30 au 31 janvier 2024.

La spectroscopie de diffraction des rayons X analyse principalement l'état cristallin et la microstructure des matériaux, et il existe deux méthodes de mesure de diffraction des rayons X pour l'analyse des cristaux.