L'analyseur de cristaux à rayons X de Dandong Tongda adopte une technologie avancée de diffraction des rayons X, permettant la détection non destructive des informations microstructurales de divers matériaux. Qu'il s'agisse d'orientation de monocristal, d'inspection de défauts, de mesure des paramètres de réseau ou d'analyse des contraintes résiduelles, cet instrument fournit des données d'essai précises et fiables, offrant un support solide à la recherche sur les matériaux et au contrôle qualité. L'instrument est équipé d'un générateur de rayons X hautement stable offrant des performances exceptionnelles. La tension du tube est réglable avec précision entre 10 et 60 kV, et le courant entre 2 et 60 mA, avec une stabilité maximale de ± 0,005 %. Cela garantit des résultats de test hautement reproductibles et précis, offrant aux chercheurs une garantie de données fiables. L'analyseur de cristaux à rayons X de Dandong Tongda intègre un contrôle intelligent et une protection de sécurité complète. Il est équipé d'un système de contrôle automatique PLC importé, permettant des mesures automatiques et chronométrées sans surveillance. Le système de protection multi-niveaux inclut des protections contre l'absence de pression, l'absence de courant, les surtensions, les surintensités, les surtensions, l'absence d'eau et la surchauffe du tube à rayons X, garantissant ainsi la sécurité des opérateurs. L'analyseur de cristaux à rayons X de la série TDF est doté d'un boîtier tubulaire vertical avec quatre fenêtres utilisables simultanément. Il utilise une technologie de contrôle PLC importée, offrant une haute précision et de solides capacités anti-interférences, garantissant un fonctionnement fiable du système. Le PLC contrôle la commutation et le réglage de la haute tension et intègre une fonction d'apprentissage automatique du tube à rayons X, prolongeant ainsi efficacement la durée de vie de ce dernier et de l'instrument. L'enceinte de protection contre les radiations de l'instrument est construite avec du verre au plomb haute densité et haute transparence, avec des fuites de rayonnement externes bien inférieures aux normes de sécurité nationales, permettant aux chercheurs de mener des études expérimentales dans un environnement sécurisé. Entreprise nationale de haute technologie, Dandong Tongda Technology Co., Ltd. dispose d'un système complet de gestion de la qualité et d'une équipe de R&D technique. Ses produits répondent non seulement aux exigences du marché intérieur, mais sont également exportés vers de nombreux pays et régions, démontrant ainsi la force et le potentiel de la fabrication d'instruments scientifiques en Chine. L'analyseur de cristaux à rayons X de Dandong Tongda, grâce à ses performances exceptionnelles et à sa qualité fiable, est devenu un outil précieux dans le domaine de l'analyse des matériaux. Il aide les chercheurs et les ingénieurs à dévoiler les couches du monde des matériaux et à explorer des possibilités encore plus inexplorées.

Dans les domaines de la science des matériaux et des essais industriels, chaque infime modification de la structure cristalline peut déterminer les propriétés finales d'un matériau. Aujourd'hui, un instrument de précision, fruit de la R&D de Dandong Tongda Science and Technology, le diffractomètre à rayons X TD-3500, ouvre une nouvelle fenêtre sur le monde microscopique pour les chercheurs et les inspecteurs industriels grâce à ses performances exceptionnelles et à sa conception intelligente. L'évolution par l'artisanat et la technologie Les diffractomètres de la série TD intègrent des années d'expertise technologique de Tongda Science and Technology et évoluent constamment. Véritable référence en analyse des matériaux, la diffraction des rayons X permet une analyse structurale complète d'échantillons de poudre, de matériaux en vrac ou de couches minces : analyse de phase qualitative et quantitative, analyse de la structure cristalline et de la structure des matériaux, analyse d'orientation, mesure des contraintes macro/micro, granulométrie et détermination de la cristallinité : le TD-3500 est polyvalent. Noyau intelligent, stable et fiable Le principal atout du diffractomètre à rayons X TD-3500 réside dans l'utilisation d'un système de contrôle-commande Siemens importé. Cette conception innovante confère à l'instrument des caractéristiques exceptionnelles : haute précision, excellente stabilité, longue durée de vie, évolutivité aisée, utilisation intuitive et fonctionnalités intelligentes, lui permettant de s'adapter avec souplesse aux besoins d'essais et de recherche de divers secteurs. Le générateur de rayons X propose deux options : un générateur à semi-conducteurs haute fréquence et haute tension ou un générateur à fréquence de ligne (工频). Ce générateur offre un haut niveau d'automatisation, un taux de défaillance extrêmement faible, de solides capacités anti-interférences et une excellente stabilité. Le système contrôle automatiquement l'interrupteur de l'obturateur, ajuste la tension et le courant du tube et inclut une fonction de formation automatique du tube à rayons X. La surveillance en temps réel via un écran tactile réduit considérablement la complexité opérationnelle. Contrôle innovant, fonctionnement révolutionnaire Par rapport aux circuits de micro-ordinateur monopuce traditionnels, la technologie de contrôle PLC utilisée dans le TD-3500 offre de multiples avancées : Contrôle de circuit simple pour un débogage et une installation faciles La conception modulaire permet aux utilisateurs d'effectuer eux-mêmes la maintenance et le débogage, réduisant ainsi considérablement les coûts Forte extensibilité pour l'ajout facile de divers accessoires fonctionnels sans modifications matérielles Écran tactile en vraies couleurs pour l'interaction homme-machine, utilisation conviviale et affichage intuitif des informations sur les défauts Mesure de précision, sécurité assurée Le goniomètre de la série TD utilise une transmission à roulement importée de haute précision et est équipé d'un système d'asservissement vectoriel en boucle fermée de haute précision. Ce système intelligent comprend un microprocesseur RISC 32 bits et un codeur magnétique haute résolution, capable de corriger automatiquement les infimes erreurs de position afin de garantir une précision et une exactitude élevées des résultats de mesure, avec une reproductibilité angulaire atteignant 0,0001 degré. Pour plus de sécurité, le TD-3500 adopte une structure à axe creux avec verrouillage électronique de la porte principale, offrant une double protection. La fenêtre de l'obturateur est reliée à la porte principale : à l'ouverture de celle-ci, l'obturateur se ferme automatiquement, garantissant ainsi une sécurité optimale à l'opérateur. Configuration flexible, compatibilité complète L'instrument offre deux choix de détecteurs : compteur proportionnel (PC) ou compteur à scintillation (SC) et plusieurs options de tubes à rayons X, notamment des tubes en verre, en céramique ondulée et en métal-céramique, répondant à différents scénarios d'application et exigences budgétaires. Le diffractomètre à rayons X TD-3500 est non seulement un instrument d'analyse haute performance, mais aussi le reflet de la quête incessante de qualité de Tongda Science and Technology. Il joue discrètement un rôle essentiel dans les laboratoires du pays, soutenant l'innovation scientifique et le contrôle qualité, et devenant le partenaire analytique de confiance des scientifiques et des ingénieurs. Que vous soyez engagé dans le développement de nouveaux matériaux, l'analyse des ressources minérales, le contrôle de la qualité pharmaceutique ou les tests de matériaux métalliques, le TD-3500 peut vous fournir un support de données précis et fiable, vous aidant à découvrir davantage de possibilités dans le monde microscopique. Explorez l'inconnu avec le TD-3500 — Laissez Tongda Science and Technology travailler avec vous pour découvrir les mystères de la science des matériaux.

Dans les domaines de la science des matériaux et de l'inspection industrielle, l'analyse par diffraction des rayons X, hautement efficace et précise, a toujours été essentielle aux avancées scientifiques et au contrôle qualité. Le diffractomètre à rayons X de la série TD-3700 repousse les limites de performance des équipements de diffraction grâce à de multiples technologies innovantes, offrant une solution d'une efficacité inégalée pour la recherche universitaire, la R&D en entreprise et les applications de contrôle qualité. La synergie multi-détecteurs ouvre une nouvelle ère d'analyse à grande vitesse La série TD-3700 repousse les limites des détecteurs traditionnels en offrant une variété d'options, notamment des détecteurs matriciels unidimensionnels haute vitesse, des détecteurs bidimensionnels et des détecteurs SDD. Comparé aux détecteurs à scintillation ou proportionnels conventionnels, il multiplie par dix l'intensité du signal de diffraction, capturant des diagrammes de diffraction haute sensibilité et haute résolution avec des cycles d'échantillonnage extrêmement courts et améliorant considérablement l'efficacité de la sortie des données. Associés à la technologie de comptage de photons hybride, ces détecteurs fonctionnent sans bruit, suppriment efficacement le bruit de fond de fluorescence et présentent une excellente résolution énergétique et un excellent rapport signal/bruit, ce qui les rend particulièrement adaptés à l'analyse d'échantillons complexes et de traces. Les modes de diffraction/transmission doubles élargissent les limites des applications L'instrument prend non seulement en charge le balayage par diffraction classique, mais intègre également un mode de transmission innovant. Ce mode offre une résolution nettement supérieure à celle du mode diffraction, ce qui le rend particulièrement adapté aux applications haut de gamme telles que l'analyse de la structure cristalline et la recherche sur les nanomatériaux. Grâce à sa stabilité de signal ultra-élevée, le mode diffraction est idéal pour l'identification de phase en routine. Un autre avantage majeur du mode transmission est sa prise en charge des tests d'échantillons traces, ce qui simplifie considérablement la préparation des échantillons et leur disponibilité limitée. Cela ouvre de nouvelles perspectives pour le développement pharmaceutique, l'analyse géologique, l'identification du patrimoine culturel et d'autres domaines. Conception modulaire et intelligente pour une plateforme expérimentale fiable et conviviale Le TD-3700 adopte une conception matérielle modulaire où tous les composants sont prêts à l'emploi sans nécessiter d'étalonnage, ce qui réduit considérablement les coûts de maintenance et les taux de panne. Son système d'acquisition en un clic et son logiciel personnalisé améliorent considérablement le confort d'utilisation, permettant même aux non-spécialistes de prendre en main rapidement. Une interface tactile permet de surveiller l'état de l'instrument en temps réel, affichant la progression des expériences en un coup d'œil. La sécurité est également sans compromis : un dispositif de verrouillage électronique des portes en plomb offre une double protection, tandis qu'un générateur de rayons X haute fréquence et haute tension assure des performances stables et fiables. Associé à une unité de contrôle anti-interférence, il assure une fiabilité opérationnelle à long terme tout en garantissant la sécurité des utilisateurs. Né pour l'époque : une référence tournée vers l'avenir en matière de technologie de diffraction Le diffractomètre à rayons X de la série TD-3700 allie rapidité d'analyse, fonctionnement intelligent et sécurité optimale. Il hérite non seulement de la stabilité de la série TD-3500, mais réalise également des avancées technologiques en matière de détection, de flexibilité d'application et d'intégration système. Son développement répond parfaitement aux besoins des laboratoires modernes en matière d'analyse d'échantillons à haut débit, haute précision et diversifiés, ce qui en fait un outil indispensable pour la caractérisation des matériaux, l'analyse chimique, l'industrie pharmaceutique et la recherche universitaire.

Le diffractomètre à rayons X TDM-20 (DRX de paillasse) est principalement utilisé pour l'analyse de phase des poudres, des solides et des substances pâteuses. Basé sur le principe de la diffraction des rayons X, il permet l'analyse qualitative et quantitative, ainsi que l'analyse de la structure cristalline, de matériaux polycristallins tels que des échantillons de poudre et des échantillons métalliques. Il est largement utilisé dans des secteurs tels que l'industrie, l'agriculture, la défense nationale, l'industrie pharmaceutique, la minéralogie, la sécurité alimentaire, le pétrole, ainsi que l'éducation et la recherche. Principe fondamental : la diffraction des rayons X, la clé du monde microscopique Le diffractomètre à rayons X TDM-20 fonctionne selon le principe de la diffraction des rayons X. Lorsque les rayons X illuminent un échantillon, ils interagissent avec les atomes qui le composent et se diffractent. Différentes structures cristallines produisent des motifs de diffraction uniques, comparables à des empreintes digitales. En analysant ces motifs, l'instrument révèle avec précision des informations clés sur la structure cristalline de l'échantillon, sa composition en phases, etc., révélant ainsi les secrets cachés à l'échelle microscopique. Percée en matière de performances Le diffractomètre à rayons X TDM-20 (DRX de paillasse) surpasse la norme internationale précédente de 600 W et bénéficie d'une mise à niveau complète pour atteindre 1 600 W. Cet instrument se distingue par sa simplicité d'utilisation, ses performances stables et sa faible consommation d'énergie. Il peut être équipé d'un détecteur proportionnel ou d'un nouveau détecteur matriciel haute vitesse, ce qui se traduit par une amélioration significative des performances globales. Caractéristiques de l'appareil Taille compacte et conception légère Conception d'alimentation haute fréquence et haute tension pour une consommation énergétique globale plus faible Prend en charge l'étalonnage et les tests rapides des échantillons Contrôle de circuit simplifié pour un débogage et une installation faciles La précision linéaire de l'angle de diffraction à spectre complet atteint ± 0,01° Accessoires riches Compatible avec divers accessoires, notamment un détecteur de réseau 1D, un détecteur proportionnel, un changeur d'échantillons automatique à 6 positions et un étage d'échantillon rotatif. Conclusion Le diffractomètre à rayons X TDM-20, grâce à ses performances exceptionnelles, sa simplicité d'utilisation et son large éventail d'applications, est devenu un outil indispensable dans de nombreux secteurs industriels et domaines de recherche. Véritable « détective » du monde microscopique, il nous aide à percer les mystères de la structure des matériaux et favorise le progrès dans divers domaines. Si vous aussi souhaitez explorer les secrets microscopiques de la matière, le TDM-20 vous permettra de vous lancer dans une recherche et une production précises et efficaces.

Le passeur d'échantillons automatique adopte un moteur pas à pas importé et un automate programmable industriel (API) comme système de contrôle principal. Le choix de ces deux composants clés garantit la précision, la stabilité et la fiabilité à long terme de l'équipement. Le flux de travail du changeur d'échantillons automatique est conçu pour être simple et efficace : L'opérateur précharge jusqu'à six échantillons séquentiellement dans des positions désignées du changeur d'échantillons. Après avoir défini les paramètres de mesure via le système de contrôle, le changeur d'échantillons commence à fonctionner. En suivant les instructions du programme, il délivre automatiquement et avec précision chaque échantillon en séquence à la position de mesure du diffractomètre à rayons X. Une fois la mesure d'un échantillon terminée, l'appareil le retire automatiquement et délivre rapidement l'échantillon suivant jusqu'à ce que tous les échantillons soient mesurés. Les données de mesure sont automatiquement enregistrées, ce qui facilite la révision et l'analyse ultérieures tout en réduisant les erreurs d'enregistrement qui peuvent survenir lors d'opérations manuelles. L'ensemble du processus ne nécessite aucune intervention manuelle, ce qui permet à l'opérateur de libérer du temps pour d'autres tâches et d'éviter les erreurs potentielles liées à la fatigue dues à un fonctionnement prolongé. En plus de la fonction de changement automatique d'échantillon de base, l'équipement dispose également de plusieurs fonctionnalités remarquables : Amélioration de l'efficacité : permet une mesure automatique continue sans surveillance, ce qui la rend particulièrement adaptée au criblage rapide d'échantillons par lots ou à l'analyse séquentielle sur de longues périodes. Cohérence des données : le processus automatisé réduit l’intervention humaine, contribuant ainsi à améliorer la répétabilité et la comparabilité des données de mesure. Facilité d'utilisation : le système de contrôle basé sur PLC est généralement stable et convivial, ce qui abaisse le seuil opérationnel. Application flexible : principalement utilisé dans des domaines tels que la protection de l'environnement, l'électronique/les batteries et d'autres domaines nécessitant des technologies d'analyse des matériaux. Ce changeur d'échantillons automatique est principalement destiné au domaine d'application de l'analyse par diffraction des rayons X (XRD). Dandong Tongda Science and Technology Co., Ltd. possède une solide expérience dans le domaine des instruments d'analyse. Sa série TD d'instruments d'analyse et d'équipements de contrôle non destructif est utilisée dans divers domaines de la recherche sur les matériaux. Ce passeur d'échantillons automatique à 6 positions (ou 12 positions) reflète la démarche de l'entreprise visant à intégrer l'automatisation aux équipements d'essai traditionnels afin d'en optimiser l'efficacité globale. Accessoire fonctionnel, il fonctionne en coordination avec les diffractomètres à rayons X, améliorant ainsi les capacités d'automatisation de l'instrument hôte.

The TD-5000 X-ray Single-Crystal Diffractometer is a high-performance instrument developed by Dandong Tongda Technology. Approved under China's National Key Scientific Instrument and Equipment Development Project, it fills a critical domestic gap in this field. Its primary function is determining the three-dimensional spatial structure and electron density distribution of crystalline substances—including inorganic compounds, organic compounds, and metal complexes—while also analyzing structures of special materials like twinned crystals, incommensurately modulated structures, and quasicrystals. It precisely measures the accurate 3D spatial structure of new crystalline compounds (including bond lengths, bond angles, configuration, conformation, and bonding electron density) and the actual arrangement of molecules within the crystal lattice. The system provides comprehensive structural information such as unit cell parameters, space group, molecular structure, intermolecular hydrogen bonding and weak interactions, and molecular configuration/conformation. It is widely used for analytical research in chemical crystallography, molecular biology, pharmacology, mineralogy, and materials science. Core Technology: A Dual Revolution in Precision and Intelligence (1) The "Mechanical Eye" with Atomic-Level Positioning Four-Circle Concentric Diffractometer: Overcomes traditional mechanical offset limitations, maintaining a constant rotational center to ensure diffraction spot coordinate errors remain below the nanometer level. PILATUS Detector: Combines single-photon counting technology with 172μm ultra-fine pixels. Achieves frame rates up to 20Hz, with noise suppression capability 3 times greater than conventional CCD detectors. (2) Fully Intelligent Closed-Loop Workflow PLC One-Touch Control: Automates the entire process from crystal positioning to data acquisition, reducing manual operation time by 90%. Cryogenic Enhancement System: Features ±0.3 K precision temperature control (100K–300K), boosting signal intensity for weakly diffracting crystals by 50% with liquid nitrogen consumption of only 1.1–2 L/h. (3) Dual Assurance: Safety and Expandability Lead Door Interlock + Leakage Protection (≤0.12 µSv/h), exceeding national safety standards. Optique de focalisation multicouche en option (double cible Mo/Cu), permettant une analyse à grande échelle des produits pharmaceutiques à petites molécules aux minéraux avec de grandes cellules unitaires. The advent of the TD-5000 X-ray Single-Crystal Diffractometer signifies more than an instrumental breakthrough—it marks the era where China's high-end scientific research equipment officially achieves autonomous precision definition. As of 2025, this system has served over 30 leading institutions across fields including chemistry, materials science, and aerospace. As crystals unveil the secrets of life under the probing gaze of domestically developed instruments, China's scientific "eye that discerns the essence of matter" now shines with brilliant clarity.