Grâce aux avancées et innovations technologiques constantes dans le domaine des sciences des matériaux à l'échelle mondiale, l'industrie chinoise de fabrication d'instruments scientifiques prend progressivement de l'importance. L'analyseur de cristaux à rayons X de la série TDF, développé par Dandong Tongda Technology Co., Ltd., est un exemple majeur d'instrumentation analytique haut de gamme de fabrication nationale. Il gagne en popularité dans la recherche scientifique et l'industrie mondiales grâce à ses performances exceptionnelles et à sa précision fiable. L'analyseur de cristaux à rayons X de la série TDF est un instrument d'analyse majeur conçu pour l'étude de la microstructure interne des substances. Ses principales applications comprennent l'orientation des cristaux, l'inspection des défauts, la détermination des paramètres de réseau et la mesure des contraintes résiduelles. Qu'il s'agisse d'analyser la structure de plaques et de tiges, ou de déchiffrer la structure de matériaux inconnus et de dislocations monocristallines, cet équipement fournit des données précises et fiables. Dans des domaines modernes comme la science des matériaux, la fabrication de semi-conducteurs, le développement de nouvelles énergies et l'industrie pharmaceutique, une compréhension approfondie de la microstructure des matériaux est devenue la pierre angulaire du progrès technologique. La série TDF est conçue à cet effet, permettant aux scientifiques et aux ingénieurs du monde entier de percer les secrets des propriétés des matériaux. Boîtier de tube vertical et conception à quatre ports L'analyseur de cristaux à rayons X de la série TDF intègre un boîtier tubulaire vertical unique avec quatre ports utilisables simultanément. Cette conception innovante améliore considérablement l'efficacité opérationnelle, permettant aux utilisateurs de basculer rapidement entre plusieurs canaux expérimentaux et de gagner un temps précieux en recherche. Contrôle de précision avec la technologie PLC Équipé d'un système de contrôle PLC importé, l'analyseur de cristaux à rayons X de la série TDF affiche des performances exceptionnelles en termes de précision de contrôle et de capacités anti-interférences. Ce système permet non seulement un contrôle précis des opérations de commutation et de levage haute tension, mais intègre également une fonction de formation automatique du tube à rayons X, prolongeant ainsi la durée de vie du tube et de l'instrument dans son ensemble. Pour les scénarios expérimentaux nécessitant un fonctionnement continu à long terme, cette fiabilité réduit considérablement le risque de panne de l'équipement et de perte potentielle de données. Système de production haute tension puissant et stable Le générateur haute tension de la série TDF fonctionne exceptionnellement bien, offrant une tension de tube réglable de 10 à 60 kV et une plage de courant de tube de 2 à 80 mA, avec une puissance de sortie nominale allant jusqu'à 5 kW. La stabilité de la tension et du courant du tube atteint 0,3 ‰, garantissant des données expérimentales hautement reproductibles. Le système est également équipé de multiples fonctions de protection (par exemple, absence de tension, surtension, absence de mA, surintensité, absence d'eau, surchauffe du tube à rayons X), offrant une sécurité optimale. Configurations polyvalentes de tubes à rayons X Pour répondre à divers besoins analytiques, la série TDF offre un choix de différents matériaux cibles, notamment Cu, Co, Fe, Cr, Mo et W. Avec une puissance nominale de 2,4 kW et des options de focalisation ponctuelle (1×1) et de focalisation linéaire (1×10), les utilisateurs peuvent sélectionner la configuration la plus adaptée en fonction des caractéristiques de l'échantillon et des objectifs analytiques. Conception de protection de sécurité complète La sécurité est un autre atout majeur de l'analyseur de cristaux à rayons X de la série TDF. Grâce à l'utilisation d'un verre au plomb haute densité et haute transparence pour le blindage de protection contre les rayons X, la fuite de rayonnement externe est maintenue à ≤ 0,1 μSv/h – un niveau bien inférieur aux normes de sécurité internationales – garantissant ainsi une protection fiable des opérateurs. Configurations pour divers scénarios d'application L'analyseur de cristaux à rayons X de la série TDF prend en charge diverses caméras à rayons X, notamment les caméras Laue (poudres fines/grosses), les caméras à écran plat, les platines d'échantillons 3D et les caméras multifils (fabriquées aux États-Unis). Cette configuration flexible permet à l'instrument de s'adapter à un large éventail d'exigences, de la recherche fondamentale à l'analyse de matériaux haut de gamme. Pour les applications exigeant un positionnement de haute précision, l'analyseur de cristaux à rayons X de la série TDF offre une vitesse de positionnement maximale de 1 500°/min, garantissant une acquisition de données rapide et précise. Que ce soit pour l'analyse de matériaux inconnus en recherche scientifique ou pour le contrôle qualité en production industrielle, la série TDF offre une solution fiable. Face au développement rapide de domaines de pointe tels que les nouveaux matériaux, les nouvelles énergies et les semi-conducteurs, la demande d'analyse de la microstructure des matériaux ne cesse de croître, et la précision requise ne cesse de croître. L'analyseur de cristaux à rayons X de la série TDF continuera d'évoluer et de se moderniser pour répondre aux besoins les plus récents des communautés scientifiques et industrielles mondiales. Dandong Tongda Technology Co., Ltd. reste fidèle à sa philosophie d'innovation technologique et de qualité. Nous continuerons à fournir aux utilisateurs du monde entier des produits et services de qualité supérieure, en collaborant étroitement avec des scientifiques et des ingénieurs du monde entier pour faire progresser la science des matériaux et améliorer les normes de qualité industrielle. Nous invitons nos partenaires et utilisateurs du monde entier à se renseigner et à discuter des opportunités de collaboration. Découvrez les détails techniques et les cas d'application de l'analyseur de cristaux à rayons X de la série TDF. Ensemble, explorons les mystères du monde microscopique des matériaux et favorisons l'innovation technologique et le progrès industriel !

Dans le domaine de la recherche en science des matériaux, la précision des mesures est essentielle pour exploiter pleinement les propriétés des matériaux. L'accessoire de mesure intégré multifonction développé par Dandong Tongda Science and Technology Co., Ltd. est un outil de haute précision conçu pour améliorer les capacités d'analyse par diffraction des rayons X. Cet accessoire de mesure intégré multifonctionnel est spécialement conçu pour être installé sur des goniomètres grand angle. Sa mission principale est d'analyser avec précision les matériaux en plaques, les matériaux en vrac et les couches minces déposées sur des substrats. Cet accessoire permet d'effectuer diverses tâches de mesure, notamment la détection de phase cristalline, l'analyse du degré d'orientation et les tests de contrainte. Il prend en charge l'analyse de texture, la détermination des contraintes résiduelles et les tests de structure en plan des couches minces, fournissant ainsi un support de données complet pour la recherche sur les matériaux. Les principales caractéristiques techniques de cet accessoire se reflètent dans son système mécanique de précision coordonné multi-axes et ses méthodes de mesure hautement adaptables. L'accessoire de mesure intégré multifonctionnel prend en charge les mesures de figures polaires à l'aide de méthodes de transmission ou de réflexion, offrant une flexibilité pour différents échantillons et exigences de test. Pour les essais de contrainte, il peut utiliser à la fois la méthode d'inclinaison latérale et la méthode d'inclinaison normale. Pour les échantillons de couches minces, l'accessoire permet également des essais de rotation dans le plan, permettant une analyse approfondie des structures des couches. Son système mécanique de précision assure une grande précision de mesure et une répétabilité élevée, avec des incréments minimum de 0,001° (pour les axes de rotation) et 0,001 mm (pour les axes de translation). Le champ d'application de l'accessoire de mesure intégré multifonctionnel est extrêmement large, couvrant presque tous les domaines de fabrication et de R&D avancés qui nécessitent une analyse de la structure des matériaux. Dans le domaine des matériaux métalliques, il est utilisé pour évaluer l'organisation collective des métaux tels que les plaques laminées ; dans le domaine de la céramique, il se concentre sur l'évaluation de l'orientation de la céramique. Pour les matériaux à couches minces, l'accessoire peut analyser l'orientation cristalline préférée des échantillons de films et tester la contrainte résiduelle des films multicouches (en évaluant des propriétés telles que le pelage du film). Il peut également analyser les films d'oxydation et de nitruration de surface sur les films de matériaux supraconducteurs à haute température et les plaques métalliques, ainsi que les films multicouches sur les substrats de verre, de silicium et de métal. Il peut notamment être appliqué à l’analyse de matériaux macromoléculaires, de papier, de matériaux de placage de lentilles, etc., démontrant ainsi son potentiel d’application interdisciplinaire. Accessoire de mesure

L'analyseur de contraintes résiduelles multifonctionnel développé par Dandong Tongda Technology Co., Ltd. est conçu pour répondre aux besoins de mesures rapides et précises, en laboratoire comme sur le terrain. Basé principalement sur le principe de la diffraction des rayons X, il permet des contrôles non destructifs de l'état des contraintes résiduelles à l'intérieur des matériaux. Analyse polyvalente tout-en-un Cet analyseur intègre plusieurs fonctions d'analyse de matériaux, améliorant considérablement l'utilité et l'efficacité de l'équipement : Analyse des contraintes résiduelles : prend en charge divers modes de mesure tels que l'inclinaison oméga standard, l'inclinaison psi standard et l'oscillation standard, capables de déterminer les contraintes principales et les contraintes de cisaillement pour une évaluation complète de l'état de contrainte. Analyse de l'austénite retenue : utilise la méthode des quatre pics pour les tests d'austénite retenue, avec un calcul de données entièrement automatisé pour des résultats rapides. Analyse de phase par diffraction : utilisée pour analyser les structures cristallines, la composition chimique et la distribution, aidant les chercheurs à obtenir des informations plus approfondies sur la constitution des matériaux. Analyse de la granulométrie : prend en charge l'évaluation de la granulométrie de l'échelle nanométrique à l'échelle submicronique, particulièrement adaptée aux grains fins ≤ 200 nm. Caractéristiques techniques et performances Cet instrument dispose de multiples caractéristiques techniques visant à assurer précision, stabilité et facilité d'utilisation : Mesure et contrôle de haute précision : utilise un système d'asservissement vectoriel en boucle fermée de haute précision pour garantir la précision et la répétabilité des mesures. Acquisition de données efficace : équipé d'un détecteur linéaire à bande de silicium multicanal, qui offre des performances sans bruit, une mesure de haute intensité et une collecte de données rapide pour améliorer l'efficacité de la détection. Conception portable : présente une construction légère, ce qui le rend adapté non seulement aux environnements de laboratoire mais également aux mesures rapides sur site, s'adaptant à divers scénarios de test. Fonctionnement convivial : intègre le système d'exploitation Windows ou des fonctions d'automatisation, prenant en charge les tests en un clic et l'affichage des résultats en temps réel, abaissant ainsi la barrière opérationnelle. Modularité et sécurité : Utilise un système de contrôle PLC de conception modulaire pour une utilisation aisée et des performances stables. Côté sécurité, sa conception à rayons X à faible consommation d'énergie est conforme aux normes de sécurité en vigueur, avec des niveaux de rayonnement nettement inférieurs à la limite de dose annuelle pour le public. Larges domaines d'application L'analyseur de contraintes résiduelles multifonctionnel de Dandong Tongda a de nombreuses applications, couvrant presque tous les secteurs industriels et les institutions de recherche nécessitant l'évaluation des propriétés mécaniques des matériaux : Contrôle de la qualité de fabrication : utilisé pour détecter les contraintes résiduelles dans les pièces estampées, moulées et laminées pendant le traitement. Industrie automobile : teste les contraintes résiduelles dans les composants critiques tels que les arbres à cames et les bielles pour garantir la fiabilité et la durabilité. Aérospatiale : Évalue les charges de travail dans les zones critiques des matériaux aérospatiaux pour évaluer la sécurité. Recherche en science des matériaux : applicable à divers matériaux métalliques (par exemple, acier au carbone, acier allié, alliage de titane, matériaux à base de nickel), verre et matériaux composites pour l'analyse des contraintes résiduelles, de l'austénite retenue, de la phase et de la taille des grains. L'analyseur de contraintes résiduelles multifonctionnel de Dandong Tongda Technology Co., Ltd. démontre l'expertise technique de l'entreprise dans le domaine des essais de matériaux en intégrant de multiples fonctions analytiques. Cet instrument offre aux ingénieurs et aux chercheurs un aperçu de l'état de contrainte intrinsèque des matériaux, contribuant ainsi au contrôle de la qualité des produits à la source, à l'optimisation des paramètres de procédé et, par conséquent, à l'amélioration de la fiabilité et de la durabilité des produits.

L'analyseur de contraintes résiduelles multifonctionnel développé par Dandong Tongda Technology Co., Ltd. est conçu pour répondre aux besoins de mesures rapides et précises en laboratoire comme sur le terrain. Basé principalement sur le principe de la diffraction des rayons X, il permet des contrôles non destructifs de l'état des contraintes résiduelles à l'intérieur des matériaux. Analyse polyvalente tout-en-un Cet analyseur intègre plusieurs fonctions d'analyse de matériaux, améliorant considérablement l'utilité et l'efficacité de l'équipement : Analyse des contraintes résiduelles : prend en charge divers modes de mesure tels que l'inclinaison oméga standard, l'inclinaison psi standard et l'oscillation standard, capables de déterminer les contraintes principales et les contraintes de cisaillement pour une évaluation complète de l'état de contrainte. Analyse de l'austénite retenue : utilise la méthode des quatre pics pour les tests d'austénite retenue, avec un calcul de données entièrement automatisé pour des résultats rapides. Analyse de phase par diffraction : utilisée pour analyser les structures cristallines, la composition chimique et la distribution, aidant les chercheurs à obtenir des informations plus approfondies sur la constitution des matériaux. Analyse de la granulométrie : prend en charge l'évaluation de la granulométrie de l'échelle nanométrique à l'échelle submicronique, particulièrement adaptée aux grains fins ≤ 200 nm. Caractéristiques techniques et performances Cet instrument dispose de multiples caractéristiques techniques visant à assurer précision, stabilité et facilité d'utilisation : Mesure et contrôle de haute précision : utilise un système d'asservissement vectoriel en boucle fermée de haute précision pour garantir la précision et la répétabilité des mesures. Acquisition de données efficace : équipé d'un détecteur linéaire à bande de silicium multicanal, qui offre des performances sans bruit, une mesure de haute intensité et une collecte de données rapide pour améliorer l'efficacité de la détection. Conception portable : présente une construction légère, ce qui la rend adaptée non seulement aux environnements de laboratoire mais également aux mesures rapides sur site, s'adaptant à divers scénarios de test. Fonctionnement convivial : intègre le système d'exploitation Windows ou des fonctions d'automatisation, prenant en charge les tests en un clic et l'affichage des résultats en temps réel, abaissant ainsi la barrière opérationnelle. Modularité et sécurité : Utilise un système de contrôle PLC de conception modulaire pour une utilisation aisée et des performances stables. Côté sécurité, sa conception à rayons X à faible consommation d'énergie est conforme aux normes de sécurité en vigueur, avec des niveaux de rayonnement nettement inférieurs à la limite de dose annuelle pour le public. Larges domaines d'application L'analyseur de contraintes résiduelles multifonctionnel de Dandong Tongda a de nombreuses applications, couvrant presque tous les secteurs industriels et les institutions de recherche nécessitant une évaluation des propriétés mécaniques des matériaux : Contrôle de la qualité de fabrication : utilisé pour détecter les contraintes résiduelles dans les pièces embouties, moulées et laminées pendant le traitement. Industrie automobile : teste les contraintes résiduelles dans les composants critiques tels que les arbres à cames et les bielles pour garantir la fiabilité et la durabilité. Aérospatiale : Évalue les charges de travail dans les zones critiques des matériaux aérospatiaux pour évaluer la sécurité. Recherche en science des matériaux : applicable à divers matériaux métalliques (par exemple, acier au carbone, acier allié, alliage de titane, matériaux à base de nickel), verre et matériaux composites pour l'analyse des contraintes résiduelles, de l'austénite retenue, de la phase et de la taille des grains. L'analyseur de contraintes résiduelles multifonctionnel de Dandong Tongda Technology Co., Ltd. démontre l'expertise technique de l'entreprise dans le domaine des essais de matériaux grâce à l'intégration de multiples fonctions analytiques. Cet instrument offre aux ingénieurs et aux chercheurs un aperçu de l'état de contrainte intrinsèque des matériaux, contribuant ainsi au contrôle de la qualité des produits à la source, à l'optimisation des paramètres de procédé et, par conséquent, à l'amélioration de la fiabilité et de la durabilité des produits.

Dans le domaine des technologies modernes, de nombreux produits de haute technologie – des substrats d'écrans de smartphones aux composants de base des générateurs laser – reposent sur un matériau fondamental : les monocristaux synthétiques. La précision de l'angle de coupe de ces cristaux détermine directement les performances et le rendement des produits finaux. L'analyseur d'orientation des rayons X est un instrument indispensable à la fabrication de précision des dispositifs à cristaux. Utilisant le principe de la diffraction des rayons X, il mesure avec précision et rapidité les angles de coupe des monocristaux naturels et synthétiques, notamment les cristaux piézoélectriques, optiques, laser et semi-conducteurs. Dandong Tongda Science and Technology Co., Ltd. propose une gamme d'analyseurs d'orientation de rayons X fiables adaptés aux besoins de recherche, de traitement et de fabrication de l'industrie des matériaux cristallins. 01 Machine polyvalente pour divers besoins d'orientation des cristaux Les analyseurs d'orientation des rayons X de Dandong Tongda comprennent principalement des modèles tels que le TYX-200 et le TYX-2H8. Le modèle TYX-200 offre une précision de mesure de ±30″, avec un affichage numérique et une lecture minimale de 10″. Le modèle TYX-2H8 est une version améliorée du TYX-200, intégrant des améliorations au niveau de la structure du goniomètre, du rail porteur, du manchon du tube à rayons X, du corps de support et d'une platine porte-échantillon surélevée. Ces améliorations permettent au TYX-2H8 de traiter des échantillons de 1 à 30 kg et de diamètres compris entre 2 et 8 pouces. Il conserve un affichage numérique de l'angle et une précision de mesure de ±30″. 02 Fonctionnalités techniques avancées pour une utilisation conviviale Les analyseurs d'orientation à rayons X de Dandong Tongda sont conçus pour être pratiques et fiables. Leur utilisation conviviale ne requiert aucune connaissance ni compétence particulière de la part de l'opérateur. L'instrument est doté d'un affichage numérique de l'angle, garantissant des mesures intuitives et faciles à lire, tout en minimisant les risques d'erreur de lecture. L'affichage peut être remis à zéro à n'importe quelle position, permettant une lecture directe de l'écart d'angle de la plaquette. Certains modèles sont équipés de deux goniomètres pour un fonctionnement simultané, améliorant ainsi considérablement l'efficacité de la détection. Un intégrateur spécial avec amplification de crête améliore la précision des mesures. Le tube à rayons X et le câble haute tension adoptent une conception intégrée, améliorant la fiabilité de la haute tension. Le système haute tension du détecteur utilise un module haute tension CC, et la platine d'échantillonnage à aspiration sous vide améliore encore la précision et la rapidité des mesures. 03 Conceptions d'échantillons dédiés pour divers besoins de test Pour répondre aux exigences de mesure d'échantillons de différentes formes et tailles, Dandong Tongda propose une variété de platines d'échantillonnage spécialisées : Platine d'échantillonnage TA : Conçue pour les cristaux en forme de tige, elle est dotée d'une piste porteuse et permet de tester des tiges de cristal pesant de 1 à 30 kg et d'un diamètre de 2 à 6 pouces (extensible jusqu'à 8 pouces). Cette platine permet de mesurer les surfaces de référence des cristaux en forme de tige ainsi que celles des cristaux en forme de plaquette. Platine d'échantillonnage TB : Conçue également pour les cristaux en forme de tige, elle comprend un rail porteur et des rails de support en V. Elle permet de tester des tiges de cristal pesant de 1 à 30 kg, d'un diamètre de 2 à 6 pouces (extensible jusqu'à 8 pouces) et d'une longueur maximale de 500 mm. Elle mesure les extrémités des cristaux en forme de tige et les surfaces des cristaux en forme de plaquette. Platine d'échantillonnage TC : Principalement utilisée pour la détection des surfaces de référence externes des wafers monocristallins tels que le silicium et le saphir. Sa plaque d'aspiration ouverte évite l'obstruction des rayons X et les imprécisions de positionnement. La pompe d'aspiration de la platine maintient fermement les wafers de 5 à 20 cm, garantissant une détection précise. ​ Platine d'échantillonnage TD : conçue pour les mesures multipoints de wafers tels que le silicium et le saphir. Les wafers peuvent être pivotés manuellement sur la platine (par exemple, 0°, 90°, 180°, 270°) pour répondre aux besoins spécifiques du client. 04 Modèle haute performance pour les défis liés aux grands échantillons Pour la détection d'échantillons volumineux et complexes, les analyseurs d'orientation à rayons X de Dandong Tongda offrent des performances exceptionnelles. Le modèle TYX-2H8, par exemple, est particulièrement adapté à l'orientation des lingots et des tiges de cristal de saphir. Cet instrument permet de mesurer les orientations des cristaux de saphir A, C, M et R, avec une plage de mesure réglable de 0 à 45° par automatisation électrique. Ses spécifications techniques sont impressionnantes : Tube à rayons X à cible en cuivre avec anode mise à la terre et refroidissement par air forcé. Courant du tube réglable : 0–4 mA ; tension du tube : 30 kV. Fonctionnement via ordinateur ou commande par écran tactile. Mouvement synchronisé du tube à rayons X et du détecteur ; table rotative à entraînement électrique. Consommation électrique totale : ≤2 kW. Sa capacité de traitement d'échantillons comprend notamment des lingots de cristal pesant jusqu'à 30 à 180 kg, avec des dimensions maximales de 350 mm de diamètre et 480 mm de longueur. Ces capacités le rendent idéal pour la détection d'échantillons volumineux dans la plupart des scénarios industriels. 05 Applications étendues prenant en charge de multiples industries Les analyseurs d'orientation des rayons X de Dandong Tongda sont largement utilisés dans diverses industries impliquées dans la recherche, le traitement et la fabrication de matériaux cristallins. Dans l'industrie des semi-conducteurs, ils permettent une découpe d'orientation précise des plaquettes de silicium. Dans le domaine de l'optoélectronique, ils sont utilisés pour le traitement de précision des substrats de saphir, des cristaux optiques et des cristaux laser. Dans le secteur des matériaux piézoélectriques, ils garantissent des mesures précises de l'angle de coupe pour des performances stables du produit final. Ces instruments sont particulièrement adaptés aux matériaux en saphir, très recherchés pour leur dureté, leur haute transmission lumineuse et leur excellente stabilité physico-chimique. Le saphir est largement utilisé dans les substrats LED, les écrans d'électronique grand public et les fenêtres optiques. Les analyseurs d'orientation des rayons X de Dandong Tongda sont devenus des outils essentiels dans les domaines de la recherche et de la fabrication de matériaux cristallins en Chine, grâce à leurs performances fiables, leurs configurations diverses et leur forte adaptabilité. Leur conception modulaire et la variété des options d'étages d'échantillonnage permettent aux utilisateurs de sélectionner des configurations qui répondent à des besoins spécifiques, garantissant une précision de détection élevée tout en améliorant l'efficacité du travail. Qu'ils soient destinés aux institutions de recherche ou au contrôle de la qualité de fabrication et à l'optimisation des processus, ces instruments fournissent un support technique robuste, permettant aux utilisateurs de réaliser des percées dans la fabrication de précision.

L'analyseur de cristaux à rayons X de Dandong Tongda adopte une technologie avancée de diffraction des rayons X, permettant la détection non destructive des informations microstructurales de divers matériaux. Qu'il s'agisse d'orientation de monocristal, d'inspection de défauts, de mesure des paramètres de réseau ou d'analyse des contraintes résiduelles, cet instrument fournit des données d'essai précises et fiables, offrant un support solide à la recherche sur les matériaux et au contrôle qualité. L'instrument est équipé d'un générateur de rayons X hautement stable offrant des performances exceptionnelles. La tension du tube est réglable avec précision entre 10 et 60 kV, et le courant entre 2 et 60 mA, avec une stabilité maximale de ± 0,005 %. Cela garantit des résultats de test hautement reproductibles et précis, offrant aux chercheurs une garantie de données fiables. L'analyseur de cristaux à rayons X de Dandong Tongda intègre un contrôle intelligent et une protection de sécurité complète. Il est équipé d'un système de contrôle automatique PLC importé, permettant des mesures automatiques et chronométrées sans surveillance. Le système de protection multi-niveaux inclut des protections contre l'absence de pression, l'absence de courant, les surtensions, les surintensités, les surtensions, l'absence d'eau et la surchauffe du tube à rayons X, garantissant ainsi la sécurité des opérateurs. L'analyseur de cristaux à rayons X de la série TDF est doté d'un boîtier tubulaire vertical avec quatre fenêtres utilisables simultanément. Il utilise une technologie de contrôle PLC importée, offrant une haute précision et de solides capacités anti-interférences, garantissant un fonctionnement fiable du système. Le PLC contrôle la commutation et le réglage de la haute tension et intègre une fonction d'apprentissage automatique du tube à rayons X, prolongeant ainsi efficacement la durée de vie de ce dernier et de l'instrument. L'enceinte de protection contre les radiations de l'instrument est construite avec du verre au plomb haute densité et haute transparence, avec des fuites de rayonnement externes bien inférieures aux normes de sécurité nationales, permettant aux chercheurs de mener des études expérimentales dans un environnement sécurisé. Entreprise nationale de haute technologie, Dandong Tongda Technology Co., Ltd. dispose d'un système complet de gestion de la qualité et d'une équipe de R&D technique. Ses produits répondent non seulement aux exigences du marché intérieur, mais sont également exportés vers de nombreux pays et régions, démontrant ainsi la force et le potentiel de la fabrication d'instruments scientifiques en Chine. L'analyseur de cristaux à rayons X de Dandong Tongda, grâce à ses performances exceptionnelles et à sa qualité fiable, est devenu un outil précieux dans le domaine de l'analyse des matériaux. Il aide les chercheurs et les ingénieurs à dévoiler les couches du monde des matériaux et à explorer des possibilités encore plus inexplorées.

1. Analyseur de cristaux à rayons X série TDF Fonction et application : Cette série d'équipements est principalement utilisée pour étudier la microstructure interne des matériaux, adaptée à l'orientation des monocristallins, à l'inspection des défauts, à la détermination des paramètres du réseau, à l'analyse des contraintes résiduelles, à la recherche sur la structure des plaques/tiges, à l'analyse de la structure des matériaux inconnus et à l'analyse des dislocations monocristallines. Caractéristiques techniques : En tant qu'instrument d'analyse à grande échelle, la série TDF intègre une technologie de diffraction des rayons X de haute précision, qui peut fournir une analyse approfondie des microstructures et soutenir la recherche et le contrôle qualité dans des domaines tels que la science des matériaux, la fabrication de semi-conducteurs et le traitement des cristaux. L'analyseur de cristaux à rayons X de la série TDF adopte un manchon de tube vertical et quatre fenêtres peuvent être utilisées simultanément. L'analyseur de cristaux à rayons X de la série TDF adopte une technologie de contrôle PLC importée, offrant une grande précision de contrôle et d'excellentes performances anti-interférences, garantissant un fonctionnement fiable du système. Le PLC contrôle l'interrupteur haute tension, le levage et assure l'entraînement automatique du tube à rayons X, prolongeant ainsi efficacement la durée de vie du tube et de l'instrument. 2. Orienteur de cristal à rayons X Fonction et application : Grâce au principe de la diffraction des rayons X, l'angle de coupe des monocristaux naturels ou artificiels (tels que les cristaux piézoélectriques, optiques, laser et semi-conducteurs) peut être déterminé rapidement et précisément. Associé à une machine de découpe, il permet une découpe directionnelle. Largement utilisé dans la recherche, la transformation et la fabrication de matériaux cristallins. Avantages techniques : Il peut remplacer la technologie traditionnelle d'irradiation par isotopes radioactifs et effectuer directement une analyse directionnelle de haute précision en laboratoire, améliorant ainsi l'efficacité et la précision du traitement des cristaux.

1. The working principle of X-ray crystal analyzer: The X-ray crystal analyzer is based on Bragg's law, which states that when X-rays are irradiated onto a crystal, diffraction occurs at a specific angle, forming diffraction spots or peaks. By measuring the angles and intensities of these diffractions, the internal structure and composition of the crystal can be inferred. 2. Components of X-ray crystal analyzer: (1) X-ray source of X-ray crystal analyzer: a device that generates X-rays, usually an X-ray tube, consisting of a filament, a target material, and a high-voltage power supply. X-ray tube of X ray crystal analyzer: Rated power: 2.4KW; Focus size (mm2): Point focus (1 × 1) Line focus (1 × 10); Target materials: Cu, Co, Fe, Cr, Mo, W, etc. High voltage generator of X-ray crystal analyzer (controlled by imported PLC): Tube voltage: 10-60KV; Tube current: 2-60mA; Stability of tube voltage and tube current ≤ ± 0.005%; Rated output power: 3KW. High voltage cable for X ray crystal analyzer: Dielectric voltage ≥ 100KV; Length: 2M. (2) The spectral crystal of X ray crystal analyzer: used to separate X-rays of different wavelengths, it is a key component for achieving spectral separation. (3) Detector of X-ray crystal analyzer: used to detect X-rays scattered by the sample and convert them into electrical signals for subsequent processing. (4) Angle measuring instrument of X-ray crystal analyzer: an instrument used for precise measurement of diffraction angle, which is one of the important components to ensure measurement accuracy. (5) The control and data processing system of X-ray crystal analyzer: used to control the entire analysis process, process and analyze the collected data. Modern instruments are usually equipped with computer software to simplify the data analysis process. 3. Characteristics of X-ray crystal analyzer: ​The TDF series X ray crystal analyzer adopts a vertical tube sleeve, and four windows can be used simultaneously. The TDF series X-ray crystal analyzer adopts imported PLC control technology, with high control accuracy and good anti-interference performance, which can achieve reliable operation of the system. The PLC controls the high-voltage switch, lifting, and has the function of automatically training the X-ray tube, effectively extending the service life of the X-ray tube and instrument. 4. Application areas of X-ray crystal analyzer Materials Science: Research the crystal structure, phase transition, defects, etc. of materials to provide important support for the development of new materials. Chemistry: involving crystal chemistry, medicinal chemistry, etc., can be used to analyze compound structures, study chemical reaction mechanisms, etc. Biology: Used for structural analysis of biomolecules, drug design and screening, etc., it is of great significance for understanding life processes and disease mechanisms. Environmental science plays an important role in the development of catalysts, characterization of nanomaterials, and analysis of pollutants.

L'analyseur de cristaux à rayons X de la série TDF est un instrument d'analyse à grande échelle et un instrument à rayons X utilisé pour étudier la microstructure interne des matériaux. Il est principalement utilisé pour l'orientation des monocristallins, l'inspection des défauts, la détermination des paramètres du réseau, la détermination des contraintes résiduelles, l'étude de la structure des plaques et des tiges, l'étude de la structure des substances inconnues et les dislocations monocristallines.

Approuvé dans le monde entier : l'analyseur d'orientation des rayons X de Dandong Tongda obtient des certifications multinationales Dans le contexte actuel d'évolution rapide du secteur mondial des semi-conducteurs, des dispositifs optiques et de la science des matériaux, la mesure précise de l'orientation des cristaux est devenue cruciale pour améliorer la qualité des produits et l'efficacité de la production. Spécialiste en développement et fabrication d'instruments d'analyse par rayons X, Dandong Tongda Technology Co., Ltd. annonce le lancement de son analyseur d'orientation par rayons X haute performance. Cet instrument intègre une technologie avancée de diffraction des rayons X et des algorithmes intelligents, offrant des solutions de mesure d'orientation rapides et précises aux industries du cristal du monde entier. Principe technique : l'intégration parfaite de la diffraction des rayons X et de la mesure de précision L'analyseur d'orientation des rayons X fonctionne selon la loi de diffraction de Bragg. Lorsque les rayons X frappent la surface du cristal, les plans atomiques régulièrement disposés à l'intérieur génèrent des phénomènes de diffraction à des angles spécifiques. En captant ces signaux de diffraction à l'aide de détecteurs de précision et en calculant les angles de diffraction, l'instrument peut déterminer avec précision l'orientation du cristal, fournissant ainsi des données fiables pour la découpe et le traitement ultérieurs. Comparée aux méthodes d'orientation traditionnelles, la technologie d'orientation des cristaux par rayons X offre des avantages significatifs : non destructive, haute précision et haute efficacité, garantissant des résultats de mesure fiables sans endommager l'échantillon. L'instrument atteint une précision de mesure de ±30 secondes d'arc (±30″), avec une lecture minimale de 10 secondes d'arc, répondant ainsi aux exigences d'orientation de la grande majorité des matériaux cristallins. Gamme de produits : Solutions complètes pour divers besoins d'application Les analyseurs d'orientation des rayons X de Dandong Tongda Technology comprennent principalement deux modèles fondamentaux : le TYX-200 et le TYX-2H8. Le modèle TYX-200, version de base, est doté d'un écran numérique d'une largeur minimale de 10 pouces et d'une précision de mesure de ±30 pouces, ce qui le rend idéal pour les besoins courants d'orientation des matériaux cristallins. Le modèle TYX-2H8 est une mise à niveau complète du TYX-200, avec une structure de goniomètre améliorée, des rails porteurs optimisés et une platine porte-échantillon surélevée. Le TYX-2H8 peut mesurer des échantillons de 1 à 30 kg et de diamètres compris entre 2 et 8 pouces. Certaines configurations peuvent même être étendues pour traiter des échantillons de 30 à 180 kg, de diamètres allant jusqu'à 350 mm et de longueurs allant jusqu'à 480 mm. Pour les besoins de recherche plus complexes, la société propose également les analyseurs d'orientation à rayons X de la série TDF, qui utilisent une technologie de contrôle PLC importée, offrent une plage de tension de tube de 10 à 60 kV et offrent des fonctionnalités plus étendues, notamment l'orientation des monocristallins, la détection des défauts et la détermination des paramètres de réseau. Applications fonctionnelles : un outil essentiel pour le traitement des cristaux dans de nombreux secteurs L'analyseur d'orientation à rayons X permet de déterminer précisément et rapidement les angles de coupe des monocristaux naturels et synthétiques et, en coordination avec les machines de coupe, de réaliser une coupe orientée. C'est un instrument indispensable pour l'usinage et la fabrication de précision des dispositifs à cristaux. Dans l'industrie des semi-conducteurs, il est largement utilisé pour l'inspection des lingots, des plaquettes et des puces, contrôlant des processus tels que la coupe, le meulage et le polissage afin de garantir des performances constantes des dispositifs semi-conducteurs. Pour le traitement des cristaux optiques et laser, l'instrument permet de déterminer avec précision l'orientation des cristaux, garantissant ainsi la conformité des performances optiques des dispositifs optiques aux exigences de conception et améliorant le rendement. Particulièrement adapté au traitement des cristaux saphir, l'instrument répond simultanément aux exigences de mesure des orientations A, C, M et R des cristaux saphir, grâce à une plage de mesure réglable électriquement de 0 à 45°, s'adaptant ainsi aux besoins de traitement complexes. Dans l'industrie de la bijouterie et des pierres précieuses, l'instrument assure une orientation précise des pierres précieuses, améliorant ainsi la précision de la taille et la valeur des produits finis, aidant ainsi les fabricants à optimiser les effets optiques et la valeur commerciale des pierres précieuses. Caractéristiques du produit : La conception innovante améliore l'expérience utilisateur Les analyseurs d'orientation des rayons X de Dandong Tongda Technology intègrent plusieurs fonctionnalités innovantes qui améliorent considérablement la praticité et la fiabilité de l'instrument. Utilisation facile : l'instrument peut être utilisé sans connaissances professionnelles ni compétences approfondies, ce qui réduit la barrière à l'utilisation et réduit le temps de formation du personnel. Affichage numérique : L'affichage numérique de l'angle permet une observation intuitive, réduit les erreurs de lecture et peut être mis à zéro à n'importe quelle position, facilitant l'affichage direct de l'écart d'angle de la plaquette. Conception efficace : certains modèles sont équipés de goniomètres doubles qui peuvent fonctionner simultanément, améliorant considérablement l'efficacité de l'inspection. Précision améliorée : un intégrateur spécial avec amplification de crête améliore la précision de la détection et une plaque d'échantillon à aspiration sous vide assure un positionnement stable de l'échantillon. Fiabilité et durabilité : La conception intégrée du tube à rayons X et du câble haute tension améliore la fiabilité de la haute tension. Le détecteur haute tension utilise un module haute tension CC, garantissant un fonctionnement stable à long terme. Protection de sécurité : L'instrument utilise un verre au plomb haute densité et haute transmittance comme écran de protection contre les rayons X. La dose de rayonnement externe ne dépasse pas 0,1 µSv/h, conformément aux normes de sécurité internationales. Configuration de l'étage d'échantillonnage : adaptation flexible aux divers besoins de mesure Pour répondre aux exigences de mesure pour des échantillons de différentes formes et tailles, Dandong Tongda Technology propose différentes configurations de platines d'échantillonnage : Platine d'échantillonnage de type TA : Conçue spécifiquement pour les tiges de cristal cylindriques, elle est équipée de rails porteurs. Elle permet de mesurer des tiges de cristal pesant de 1 à 30 kg et d'un diamètre de 2 à 6 pouces (extensible jusqu'à 8 pouces), ainsi que la surface de référence de cristaux en forme de tige ou de plaquettes de cristal en forme de feuille. Platine d'échantillonnage de type TB : également conçue pour les tiges de cristal cylindriques, elle intègre des rails de support en forme de V et peut mesurer des tiges de cristal jusqu'à 500 mm de longueur, ce qui la rend particulièrement adaptée à la mesure des faces d'extrémité des cristaux en forme de tige. Platine d'échantillonnage de type TC : Principalement utilisée pour détecter la surface de référence de la circonférence extérieure des plaquettes monocristallines telles que le silicium et le saphir. Sa conception ouverte élimine les problèmes d'obstruction des rayons X et les imprécisions de positionnement dues aux plaques d'aspiration. Platine d'échantillonnage de type TD : Conçue spécifiquement pour la mesure multipoint de wafers tels que le silicium et le saphir. La plaquette peut être tournée manuellement sur la platine (par exemple, 0°, 90°, 180°, 270°) pour répondre aux exigences de mesure spécifiques du client. Marché mondial : permettre aux clients internationaux de réaliser des avancées technologiques Les produits de Dandong Tongda Technology Co., Ltd. ont réussi leur entrée sur le marché international et sont exportés vers de nombreux pays et régions, dont les États-Unis, la Corée du Sud, l'Iran, l'Azerbaïdjan, l'Irak et la Jordanie. Fidèle à ses principes « Le client avant tout, le produit avant tout, le service avant tout », l'entreprise fournit aux utilisateurs du monde entier des produits high-tech de haute qualité et un support technique complet. Pour ses clients étrangers, l'entreprise propose un service complet de conseil technique et d'après-vente, incluant la formation opérationnelle, la maintenance et la fourniture de pièces détachées, garantissant ainsi la satisfaction des utilisateurs. Pour répondre aux besoins de ses clients de différentes régions, l'entreprise propose également des solutions personnalisées, notamment la conception de platines d'échantillonnage spécifiques et le réglage du logiciel de mesure, garantissant ainsi une adaptation parfaite de l'instrument à des scénarios d'application spécifiques. Des interfaces d'utilisation multilingues et une documentation technique détaillée en anglais simplifient l'utilisation pour les clients étrangers et améliorent l'expérience utilisateur internationale. L'analyseur d'orientation à rayons X de Dandong Tongda Technology n'est pas un simple outil de mesure, mais un partenaire stratégique pour améliorer la compétitivité des entreprises. Il permet de raccourcir considérablement le cycle de R&D des matériaux cristallins, d'optimiser les processus de production, de garantir la qualité des produits et de créer une valeur tangible pour l'industrie mondiale de la cristallisation. Que ce soit pour la fabrication de puces semi-conductrices, le traitement de composants optiques ou la recherche sur de nouveaux matériaux, choisir Dandong Tongda Technology, c'est opter pour une solution d'orientation cristalline fiable, efficace et précise.

L'analyseur de cristaux à rayons X de la série TDF est un instrument d'analyse à grande échelle utilisé pour étudier la microstructure interne des substances. Il est principalement utilisé pour l'orientation des monocristaux, l'inspection des défauts, la détermination des paramètres du réseau, la détermination des contraintes résiduelles, l'étude de la structure des plaques et des tiges, l'étude de la structure des substances inconnues et les dislocations des monocristaux.

Tubes à rayons X utilisés pour générer des rayons X, largement utilisés dans les instruments d'analyse de laboratoire tels que les diffractomètres à rayons X, tels que l'imagerie médicale, les tests industriels et la recherche scientifique. Dans le domaine industriel, ils sont utilisés pour détecter les défauts à l'intérieur des matériaux, tels que les soudures, les fissures, etc. Dans la recherche scientifique, les tubes à rayons X sont utilisés pour étudier la structure et les propriétés des substances.