Un indicateur important de la DRX est la présence d’une très bonne source de lumière à rayons X. La soi-disant bonne source de lumière à rayons X fait généralement référence à une intensité élevée, un parallélisme élevé et une pureté élevée. Cet article présentera l'une des technologies de base du néo-confucianisme, la voie optique CBO.

La technologie de diffraction des rayons X est largement utilisée dans la recherche sur les batteries lithium-ion. La DRX est une méthode conventionnelle d'analyse qualitative et quantitative des phases dans les matériaux.

Prenant comme exemple la mise à l'échelle des dépôts, cet article présente comment utiliser le diffractomètre à rayons X pour l'analyse qualitative et quantitative.

La fluorescence des rayons X à réflexion totale (TXRF) est une technique d'analyse des éléments de surface couramment utilisée pour analyser les particules, les résidus et les impuretés sur des surfaces lisses.

La diffraction des rayons X (DRX) est actuellement une méthode puissante pour étudier la structure cristalline (telle que le type et la répartition géographique des atomes ou des ions et de leurs groupes, la forme et la taille des cellules, etc.).

L'analyseur de cristaux à rayons X est une sorte de grand instrument analytique pour étudier la microstructure interne des substances, principalement utilisé dans l'orientation monocristalline, la détection de défauts, la détermination des contraintes résiduelles, la dislocation monocristalline, etc.

Cette procédure est une procédure auto-développée. Il contient une variété de fonctions d'analyse quantitative développées par nous-mêmes, qui sont conformes à la théorie de la diffraction et sont calculées par intensité intégrale.

Cet article partage principalement certaines questions pertinentes sur "l'analyse du logiciel JADE et le traitement des données XRD".

Le diffractomètre à rayons X est principalement utilisé pour la caractérisation de phase, l'analyse quantitative, l'analyse de la structure cristalline, l'analyse de la structure des matériaux, l'analyse de l'orientation cristalline d'échantillons de poudre, de bloc ou de film mince.

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