$Affichage de la carte d'analyse des échantillons de diffractomètre TD-3700$

Affichage de la carte d'analyse des échantillons de diffractomètre TD-3700

Le diffractomètre à rayons X est principalement utilisé pour la caractérisation de phase, l'analyse quantitative, l'analyse de la structure cristalline, l'analyse de la structure des matériaux, l'analyse de l'orientation cristalline d'échantillons de poudre, de bloc ou de film mince.

2023/08/11

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