L'analyseur de contraintes résiduelles multifonctionnel développé par Dandong Tongda Technology Co., Ltd. est conçu pour répondre aux besoins de mesures rapides et précises, en laboratoire comme sur le terrain. Basé principalement sur le principe de la diffraction des rayons X, il permet des contrôles non destructifs de l'état des contraintes résiduelles à l'intérieur des matériaux. Analyse polyvalente tout-en-un Cet analyseur intègre plusieurs fonctions d'analyse de matériaux, améliorant considérablement l'utilité et l'efficacité de l'équipement : Analyse des contraintes résiduelles : prend en charge divers modes de mesure tels que l'inclinaison oméga standard, l'inclinaison psi standard et l'oscillation standard, capables de déterminer les contraintes principales et les contraintes de cisaillement pour une évaluation complète de l'état de contrainte. Analyse de l'austénite retenue : utilise la méthode des quatre pics pour les tests d'austénite retenue, avec un calcul de données entièrement automatisé pour des résultats rapides. Analyse de phase par diffraction : utilisée pour analyser les structures cristallines, la composition chimique et la distribution, aidant les chercheurs à obtenir des informations plus approfondies sur la constitution des matériaux. Analyse de la granulométrie : prend en charge l'évaluation de la granulométrie de l'échelle nanométrique à l'échelle submicronique, particulièrement adaptée aux grains fins ≤ 200 nm. Caractéristiques techniques et performances Cet instrument dispose de multiples caractéristiques techniques visant à assurer précision, stabilité et facilité d'utilisation : Mesure et contrôle de haute précision : utilise un système d'asservissement vectoriel en boucle fermée de haute précision pour garantir la précision et la répétabilité des mesures. Acquisition de données efficace : équipé d'un détecteur linéaire à bande de silicium multicanal, qui offre des performances sans bruit, une mesure de haute intensité et une collecte de données rapide pour améliorer l'efficacité de la détection. Conception portable : présente une construction légère, ce qui le rend adapté non seulement aux environnements de laboratoire mais également aux mesures rapides sur site, s'adaptant à divers scénarios de test. Fonctionnement convivial : intègre le système d'exploitation Windows ou des fonctions d'automatisation, prenant en charge les tests en un clic et l'affichage des résultats en temps réel, abaissant ainsi la barrière opérationnelle. Modularité et sécurité : Utilise un système de contrôle PLC de conception modulaire pour une utilisation aisée et des performances stables. Côté sécurité, sa conception à rayons X à faible consommation d'énergie est conforme aux normes de sécurité en vigueur, avec des niveaux de rayonnement nettement inférieurs à la limite de dose annuelle pour le public. Larges domaines d'application L'analyseur de contraintes résiduelles multifonctionnel de Dandong Tongda a de nombreuses applications, couvrant presque tous les secteurs industriels et les institutions de recherche nécessitant l'évaluation des propriétés mécaniques des matériaux : Contrôle de la qualité de fabrication : utilisé pour détecter les contraintes résiduelles dans les pièces estampées, moulées et laminées pendant le traitement. Industrie automobile : teste les contraintes résiduelles dans les composants critiques tels que les arbres à cames et les bielles pour garantir la fiabilité et la durabilité. Aérospatiale : Évalue les charges de travail dans les zones critiques des matériaux aérospatiaux pour évaluer la sécurité. Recherche en science des matériaux : applicable à divers matériaux métalliques (par exemple, acier au carbone, acier allié, alliage de titane, matériaux à base de nickel), verre et matériaux composites pour l'analyse des contraintes résiduelles, de l'austénite retenue, de la phase et de la taille des grains. L'analyseur de contraintes résiduelles multifonctionnel de Dandong Tongda Technology Co., Ltd. démontre l'expertise technique de l'entreprise dans le domaine des essais de matériaux en intégrant de multiples fonctions analytiques. Cet instrument offre aux ingénieurs et aux chercheurs un aperçu de l'état de contrainte intrinsèque des matériaux, contribuant ainsi au contrôle de la qualité des produits à la source, à l'optimisation des paramètres de procédé et, par conséquent, à l'amélioration de la fiabilité et de la durabilité des produits.

L'analyseur de contraintes résiduelles multifonctionnel développé par Dandong Tongda Technology Co., Ltd. est conçu pour répondre aux besoins de mesures rapides et précises, en laboratoire comme sur le terrain. Basé principalement sur le principe de la diffraction des rayons X, il permet des contrôles non destructifs de l'état des contraintes résiduelles à l'intérieur des matériaux. Analyse polyvalente tout-en-un Cet analyseur intègre plusieurs fonctions d'analyse de matériaux, améliorant considérablement l'utilité et l'efficacité de l'équipement : Analyse des contraintes résiduelles : prend en charge divers modes de mesure tels que l'inclinaison oméga standard, l'inclinaison psi standard et l'oscillation standard, capables de déterminer les contraintes principales et les contraintes de cisaillement pour une évaluation complète de l'état de contrainte. Analyse de l'austénite retenue : utilise la méthode des quatre pics pour les tests d'austénite retenue, avec un calcul de données entièrement automatisé pour des résultats rapides. Analyse de phase par diffraction : utilisée pour analyser les structures cristallines, la composition chimique et la distribution, aidant les chercheurs à obtenir des informations plus approfondies sur la constitution des matériaux. Analyse de la granulométrie : prend en charge l'évaluation de la granulométrie de l'échelle nanométrique à l'échelle submicronique, particulièrement adaptée aux grains fins ≤ 200 nm. Caractéristiques techniques et performances Cet instrument dispose de multiples caractéristiques techniques visant à assurer précision, stabilité et facilité d'utilisation : Mesure et contrôle de haute précision : utilise un système d'asservissement vectoriel en boucle fermée de haute précision pour garantir la précision et la répétabilité des mesures. Acquisition de données efficace : équipé d'un détecteur linéaire à bande de silicium multicanal, qui offre des performances sans bruit, une mesure de haute intensité et une collecte de données rapide pour améliorer l'efficacité de la détection. Conception portable : présente une construction légère, ce qui le rend adapté non seulement aux environnements de laboratoire mais également aux mesures rapides sur site, s'adaptant à divers scénarios de test. Fonctionnement convivial : intègre le système d'exploitation Windows ou des fonctions d'automatisation, prenant en charge les tests en un clic et l'affichage des résultats en temps réel, abaissant ainsi la barrière opérationnelle. Modularité et sécurité : Utilise un système de contrôle PLC de conception modulaire pour une utilisation aisée et des performances stables. Côté sécurité, sa conception à rayons X à faible consommation d'énergie est conforme aux normes de sécurité en vigueur, avec des niveaux de rayonnement nettement inférieurs à la limite de dose annuelle pour le public. Larges domaines d'application L'analyseur de contraintes résiduelles multifonctionnel de Dandong Tongda a de nombreuses applications, couvrant presque tous les secteurs industriels et les institutions de recherche nécessitant l'évaluation des propriétés mécaniques des matériaux : Contrôle de la qualité de fabrication : utilisé pour détecter les contraintes résiduelles dans les pièces estampées, moulées et laminées pendant le traitement. Industrie automobile : teste les contraintes résiduelles dans les composants critiques tels que les arbres à cames et les bielles pour garantir la fiabilité et la durabilité. Aérospatiale : Évalue les charges de travail dans les zones critiques des matériaux aérospatiaux pour évaluer la sécurité. Recherche en science des matériaux : applicable à divers matériaux métalliques (par exemple, acier au carbone, acier allié, alliage de titane, matériaux à base de nickel), verre et matériaux composites pour l'analyse des contraintes résiduelles, de l'austénite retenue, de la phase et de la taille des grains. L'analyseur de contraintes résiduelles multifonctionnel de Dandong Tongda Technology Co., Ltd. démontre l'expertise technique de l'entreprise dans le domaine des essais de matériaux en intégrant de multiples fonctions analytiques. Cet instrument offre aux ingénieurs et aux chercheurs un aperçu de l'état de contrainte intrinsèque des matériaux, contribuant ainsi au contrôle de la qualité des produits à la source, à l'optimisation des paramètres de procédé et, par conséquent, à l'amélioration de la fiabilité et de la durabilité des produits.

Dans le domaine des technologies modernes, de nombreux produits de haute technologie – des substrats d'écrans de smartphones aux composants de base des générateurs laser – reposent sur un matériau fondamental : les monocristaux synthétiques. La précision de l'angle de coupe de ces cristaux détermine directement les performances et le rendement des produits finaux. L'analyseur d'orientation des rayons X est un instrument indispensable à la fabrication de précision de dispositifs à cristaux. Utilisant le principe de la diffraction des rayons X, il mesure avec précision et rapidité les angles de coupe des monocristaux naturels et synthétiques, notamment les cristaux piézoélectriques, optiques, laser et semi-conducteurs. Dandong Tongda Science and Technology Co., Ltd. propose une gamme d'analyseurs d'orientation de rayons X fiables adaptés aux besoins de recherche, de traitement et de fabrication de l'industrie des matériaux cristallins. 01 Machine polyvalente pour divers besoins d'orientation des cristaux Les analyseurs d'orientation des rayons X de Dandong Tongda comprennent principalement des modèles tels que le TYX-200 et le TYX-2H8. Le modèle TYX-200 offre une précision de mesure de ±30″, avec un affichage numérique et une lecture minimale de 10″. Le modèle TYX-2H8 est une version améliorée du TYX-200, intégrant des améliorations au niveau de la structure du goniomètre, du rail porteur, du manchon du tube à rayons X, du corps de support et d'une platine porte-échantillon surélevée. Ces améliorations permettent au TYX-2H8 de traiter des échantillons de 1 à 30 kg et de diamètres compris entre 2 et 8 pouces. Il conserve un affichage numérique de l'angle et une précision de mesure de ±30″. 02 Fonctionnalités techniques avancées pour une utilisation conviviale Les analyseurs d'orientation à rayons X de Dandong Tongda sont conçus pour être pratiques et fiables. Leur utilisation conviviale ne requiert aucune connaissance ni compétence particulière de la part de l'opérateur. L'instrument est doté d'un affichage numérique de l'angle, garantissant des mesures intuitives et faciles à lire, tout en minimisant les risques d'erreur de lecture. L'affichage peut être remis à zéro à n'importe quelle position, permettant une lecture directe de l'écart d'angle de la plaquette. Certains modèles sont équipés de deux goniomètres pour un fonctionnement simultané, améliorant considérablement l'efficacité de la détection. Un intégrateur spécial avec amplification de crête améliore la précision des mesures. Le tube à rayons X et le câble haute tension adoptent une conception intégrée, améliorant la fiabilité de la haute tension. Le système haute tension du détecteur utilise un module haute tension CC, et la platine d'échantillonnage à aspiration sous vide améliore encore la précision et la rapidité des mesures. 03 modèles d'étages d'échantillonnage dédiés pour divers besoins de test Pour répondre aux exigences de mesure d'échantillons de formes et de tailles différentes, Dandong Tongda propose une variété de platines d'échantillonnage spécialisées : Platine d'échantillonnage TA : Conçue pour les cristaux en forme de tige, elle est dotée d'une piste porteuse et permet de tester des tiges de cristal pesant de 1 à 30 kg et d'un diamètre de 2 à 6 pouces (extensible jusqu'à 8 pouces). Cette platine permet de mesurer les surfaces de référence des cristaux en forme de tige ainsi que celles des cristaux en forme de plaquette. Platine d'échantillonnage TB : Également conçue pour les cristaux en forme de tige, elle comprend un rail porteur et des rails de support en V. Elle permet de tester des tiges de cristal pesant de 1 à 30 kg, d'un diamètre de 2 à 6 pouces (extensible jusqu'à 8 pouces) et d'une longueur maximale de 500 mm. Elle mesure les extrémités des cristaux en forme de tige et les surfaces des cristaux en forme de plaquette. Platine d'échantillonnage TC : Principalement utilisée pour la détection des surfaces de référence externes des plaquettes monocristallines telles que le silicium et le saphir. Sa plaque d'aspiration ouverte évite l'obstruction des rayons X et les imprécisions de positionnement. La pompe d'aspiration de la platine maintient fermement les plaquettes de 5 à 20 cm, garantissant une détection précise. ​ Platine d'échantillonnage TD : conçue pour les mesures multipoints de plaquettes telles que le silicium et le saphir. Les plaquettes peuvent être tournées manuellement sur la platine (par exemple, 0°, 90°, 180°, 270°) pour répondre aux besoins spécifiques du client. 04 Modèle haute performance pour les défis liés aux grands échantillons Pour la détection d'échantillons volumineux et complexes, les analyseurs d'orientation à rayons X de Dandong Tongda affichent des performances exceptionnelles. Le modèle TYX-2H8, par exemple, est particulièrement adapté à l'orientation des lingots et des tiges de cristal de saphir. Cet instrument permet de mesurer les orientations des cristaux de saphir A, C, M et R, avec une plage de mesure réglable de 0 à 45° par automatisation électrique. Ses spécifications techniques sont impressionnantes : Tube à rayons X à cible en cuivre avec anode mise à la terre et refroidissement par air forcé. Courant du tube réglable : 0–4 mA ; tension du tube : 30 kV. Fonctionnement via ordinateur ou commande par écran tactile. Mouvement synchronisé du tube à rayons X et du détecteur ; table rotative à entraînement électrique. Consommation électrique totale : ≤ 2 kW. Sa capacité de traitement d'échantillons comprend notamment des lingots de cristal pesant jusqu'à 30 à 180 kg, avec des dimensions maximales de 350 mm de diamètre et 480 mm de longueur. Ces capacités le rendent idéal pour la détection d'échantillons volumineux dans la plupart des scénarios industriels. 05 Applications étendues prenant en charge de multiples industries Les analyseurs d'orientation des rayons X de Dandong Tongda sont largement utilisés dans diverses industries impliquées dans la recherche, le traitement et la fabrication de matériaux cristallins. Dans l'industrie des semi-conducteurs, ils permettent une découpe d'orientation précise des plaquettes de silicium. Dans le domaine de l'optoélectronique, ils sont utilisés pour le traitement de précision des substrats de saphir, des cristaux optiques et des cristaux laser. Dans le secteur des matériaux piézoélectriques, ils garantissent des mesures précises de l'angle de coupe pour des performances stables du produit final. Ces instruments sont particulièrement adaptés aux matériaux en saphir, très recherchés pour leur dureté, leur haute transmission lumineuse et leur excellente stabilité physico-chimique. Le saphir est largement utilisé dans les substrats LED, les écrans électroniques grand public et les fenêtres optiques. Les analyseurs d'orientation des rayons X de Dandong Tongda sont devenus des outils essentiels dans les domaines de la recherche et de la fabrication de matériaux cristallins en Chine, grâce à leurs performances fiables, leurs configurations diverses et leur forte adaptabilité. Leur conception modulaire et la variété des options d'étage d'échantillonnage permettent aux utilisateurs de sélectionner des configurations qui répondent à des besoins spécifiques, garantissant une précision de détection élevée tout en améliorant l'efficacité du travail. Qu'ils soient destinés aux institutions de recherche ou au contrôle de la qualité de fabrication et à l'optimisation des processus, ces instruments fournissent un support technique robuste, permettant aux utilisateurs de réaliser des percées dans la fabrication de précision.

L'analyseur de cristaux à rayons X de Dandong Tongda adopte une technologie avancée de diffraction des rayons X, permettant la détection non destructive des informations microstructurales de divers matériaux. Qu'il s'agisse d'orientation de monocristal, d'inspection de défauts, de mesure des paramètres de réseau ou d'analyse des contraintes résiduelles, cet instrument fournit des données d'essai précises et fiables, offrant un support solide à la recherche sur les matériaux et au contrôle qualité. L'instrument est équipé d'un générateur de rayons X extrêmement stable offrant des performances exceptionnelles. La tension du tube peut être réglée avec précision entre 10 et 60 kV, et le courant entre 2 et 60 mA, avec une stabilité maximale de ± 0,005 %. Cela garantit des résultats de test hautement reproductibles et précis, offrant aux chercheurs une garantie de données fiables. L'analyseur de cristaux à rayons X de Dandong Tongda intègre un contrôle intelligent et une protection de sécurité complète. Il est doté d'un système de contrôle automatique PLC importé, permettant des mesures automatiques et chronométrées sans surveillance. Le système de protection multi-niveaux inclut des protections contre l'absence de pression, l'absence de courant, la surtension, la surintensité, la surtension, l'absence d'eau et la surchauffe du tube à rayons X, garantissant ainsi la sécurité des opérateurs. L'analyseur de cristaux à rayons X de la série TDF adopte un boîtier tubulaire vertical avec quatre fenêtres utilisables simultanément. Il utilise une technologie de contrôle PLC importée, offrant une haute précision et de solides capacités anti-interférences, garantissant un fonctionnement fiable du système. Le PLC contrôle la commutation et le réglage de la haute tension et inclut une fonction d'apprentissage automatique du tube à rayons X, prolongeant ainsi efficacement la durée de vie du tube et de l'instrument. L'enceinte de protection contre les radiations de l'instrument est construite avec du verre au plomb haute densité et haute transparence, avec des fuites de rayonnement externes bien inférieures aux normes de sécurité nationales, permettant aux chercheurs de mener des études expérimentales dans un environnement sécurisé. Entreprise nationale de haute technologie, Dandong Tongda Technology Co., Ltd. dispose d'un système complet de gestion de la qualité et d'une équipe de R&D technique. Ses produits répondent non seulement aux exigences du marché intérieur, mais sont également exportés vers de nombreux pays et régions, démontrant ainsi la force et la capacité de la Chine à fabriquer des instruments scientifiques. L'analyseur de cristaux à rayons X de Dandong Tongda, grâce à ses performances exceptionnelles et à sa qualité fiable, est devenu un outil précieux dans le domaine de l'analyse des matériaux. Il aide les chercheurs et les ingénieurs à dévoiler les couches du monde des matériaux et à explorer des possibilités encore plus inexplorées.

1. Analyseur de cristaux à rayons X série TDF Fonction et application : Cette série d'équipements est principalement utilisée pour étudier la microstructure interne des matériaux, adaptée à l'orientation des monocristallins, à l'inspection des défauts, à la détermination des paramètres du réseau, à l'analyse des contraintes résiduelles, à la recherche sur la structure des plaques/tiges, à l'analyse de la structure des matériaux inconnus et à l'analyse des dislocations monocristallines. Caractéristiques techniques : En tant qu'instrument d'analyse à grande échelle, la série TDF intègre une technologie de diffraction des rayons X de haute précision, qui peut fournir une analyse approfondie des microstructures et soutenir la recherche et le contrôle qualité dans des domaines tels que la science des matériaux, la fabrication de semi-conducteurs et le traitement des cristaux. L'analyseur de cristaux à rayons X de la série TDF adopte un manchon de tube vertical et quatre fenêtres peuvent être utilisées simultanément. L'analyseur de cristaux à rayons X de la série TDF adopte une technologie de contrôle PLC importée, offrant une grande précision de contrôle et d'excellentes performances anti-interférences, garantissant un fonctionnement fiable du système. Le PLC contrôle l'interrupteur haute tension, le levage et assure l'entraînement automatique du tube à rayons X, prolongeant ainsi efficacement la durée de vie du tube et de l'instrument. 2. Orienteur de cristal à rayons X Fonction et application : Grâce au principe de la diffraction des rayons X, l'angle de coupe des monocristaux naturels ou artificiels (tels que les cristaux piézoélectriques, optiques, laser et semi-conducteurs) peut être déterminé rapidement et précisément. Associé à une machine de découpe, il permet une découpe directionnelle. Largement utilisé dans la recherche, la transformation et la fabrication de matériaux cristallins. Avantages techniques : Il peut remplacer la technologie traditionnelle d'irradiation par isotopes radioactifs et effectuer directement une analyse directionnelle de haute précision en laboratoire, améliorant ainsi l'efficacité et la précision du traitement des cristaux.

1. The working principle of X-ray crystal analyzer: The X-ray crystal analyzer is based on Bragg's law, which states that when X-rays are irradiated onto a crystal, diffraction occurs at a specific angle, forming diffraction spots or peaks. By measuring the angles and intensities of these diffractions, the internal structure and composition of the crystal can be inferred. 2. Components of X-ray crystal analyzer: (1) X-ray source of X-ray crystal analyzer: a device that generates X-rays, usually an X-ray tube, consisting of a filament, a target material, and a high-voltage power supply. X-ray tube of X ray crystal analyzer: Rated power: 2.4KW; Focus size (mm2): Point focus (1 × 1) Line focus (1 × 10); Target materials: Cu, Co, Fe, Cr, Mo, W, etc. High voltage generator of X-ray crystal analyzer (controlled by imported PLC): Tube voltage: 10-60KV; Tube current: 2-60mA; Stability of tube voltage and tube current ≤ ± 0.005%; Rated output power: 3KW. High voltage cable for X ray crystal analyzer: Dielectric voltage ≥ 100KV; Length: 2M. (2) The spectral crystal of X ray crystal analyzer: used to separate X-rays of different wavelengths, it is a key component for achieving spectral separation. (3) Detector of X-ray crystal analyzer: used to detect X-rays scattered by the sample and convert them into electrical signals for subsequent processing. (4) Angle measuring instrument of X-ray crystal analyzer: an instrument used for precise measurement of diffraction angle, which is one of the important components to ensure measurement accuracy. (5) The control and data processing system of X-ray crystal analyzer: used to control the entire analysis process, process and analyze the collected data. Modern instruments are usually equipped with computer software to simplify the data analysis process. 3. Characteristics of X-ray crystal analyzer: ​The TDF series X ray crystal analyzer adopts a vertical tube sleeve, and four windows can be used simultaneously. The TDF series X-ray crystal analyzer adopts imported PLC control technology, with high control accuracy and good anti-interference performance, which can achieve reliable operation of the system. The PLC controls the high-voltage switch, lifting, and has the function of automatically training the X-ray tube, effectively extending the service life of the X-ray tube and instrument. 4. Application areas of X-ray crystal analyzer Materials Science: Research the crystal structure, phase transition, defects, etc. of materials to provide important support for the development of new materials. Chemistry: involving crystal chemistry, medicinal chemistry, etc., can be used to analyze compound structures, study chemical reaction mechanisms, etc. Biology: Used for structural analysis of biomolecules, drug design and screening, etc., it is of great significance for understanding life processes and disease mechanisms. Environmental science plays an important role in the development of catalysts, characterization of nanomaterials, and analysis of pollutants.

L'analyseur de cristaux à rayons X de la série TDF est un instrument d'analyse à grande échelle et un instrument à rayons X utilisé pour étudier la microstructure interne des matériaux. Il est principalement utilisé pour l'orientation des monocristallins, l'inspection des défauts, la détermination des paramètres du réseau, la détermination des contraintes résiduelles, l'étude de la structure des plaques et des tiges, l'étude de la structure des substances inconnues et les dislocations monocristallines.

L'analyseur de cristaux à rayons X de la série TDF est un instrument d'analyse à grande échelle utilisé pour étudier la microstructure interne des substances. Il est principalement utilisé pour l'orientation des monocristaux, l'inspection des défauts, la détermination des paramètres du réseau, la détermination des contraintes résiduelles, l'étude de la structure des plaques et des tiges, l'étude de la structure des substances inconnues et les dislocations des monocristaux.

L'analyseur de cristaux à rayons X de la série TDF est un instrument d'analyse à rayons X à grande échelle utilisé pour étudier la microstructure interne des substances. Il est principalement utilisé pour l'orientation des monocristallins, l'inspection des défauts, la détermination des paramètres du réseau, la détermination des contraintes résiduelles, l'étude de la structure des plaques et des tiges, l'étude de la structure des substances inconnues et les dislocations monocristallines. L'analyseur de cristaux à rayons X de la série TDF adopte un manchon de tube vertical et quatre fenêtres peuvent être utilisées simultanément. L'analyseur de cristal à rayons X de la série TDF adopte une technologie de contrôle PLC importée, avec une précision de contrôle élevée et de bonnes performances anti-interférences, ce qui permet un fonctionnement fiable du système. Le PLC contrôle l'interrupteur haute tension, le levage et a pour fonction d'entraîner automatiquement le tube à rayons X, prolongeant ainsi efficacement la durée de vie du tube à rayons X et de l'instrument à rayons X.

L'analyseur de cristal à rayons X de la série TDF est un instrument à rayons X à grande échelle utilisé pour étudier la microstructure interne des substances. Il utilise le principe d'interaction entre les rayons X et le cristal pour déterminer la disposition atomique à l'intérieur du cristal en analysant le diagramme de diffraction des rayons X. Principalement utilisé pour l'orientation des monocristallins, l'inspection des défauts, la détermination des paramètres du réseau, la détermination des contraintes résiduelles, l'étude de la structure des plaques et des tiges, l'investigation de la structure des substances inconnues et des dislocations monocristallines. L'analyseur de cristaux à rayons X, en tant qu'instrument à rayons X, fournit des informations précieuses pour la recherche en science des matériaux et d'autres domaines connexes. Avec l'avancement continu de la technologie et l'expansion des applications, l'analyseur de cristaux à rayons X continuera de jouer un rôle important dans la recherche scientifique et la production industrielle.

L'instrument d'orientation automatique des rayons X est un appareil qui utilise le principe de diffraction des rayons X pour déterminer la structure cristalline, l'orientation et les paramètres du réseau. Il a une large gamme d'applications dans la science des matériaux, la géologie, la physique et la chimie, en particulier dans l'étude de la microstructure et des propriétés des matériaux monocristallins, polycristallins et des matériaux à couches minces. Ce qui suit fournira une introduction détaillée au principe de fonctionnement, à l'application et aux précautions opérationnelles de l'orienteur de cristal à rayons X. Avec l'avancement de la technologie, les instruments d'orientation automatique des rayons X continuent de s'améliorer, avec une résolution plus élevée et une utilisation plus facile. Dans le même temps, la combinaison avec d'autres techniques d'analyse telles que la microscopie électronique et l'analyse spectroscopique rend l'analyse de la structure cristalline plus complète et plus approfondie. De plus, des appareils d'analyse d'orientation des rayons X portables et de surveillance en ligne se sont progressivement développés, offrant des possibilités d'analyse sur site et de surveillance en temps réel. En résumé, l'analyseur d'orientation des rayons X est un outil d'analyse puissant, essentiel pour comprendre et contrôler la microstructure des matériaux. Avec le développement continu de la technologie, son application dans divers domaines deviendra plus étendue et plus approfondie.

L'analyseur d'orientation des rayons X est un appareil qui utilise le principe de la diffraction des rayons X pour déterminer l'orientation des cristaux. Il est largement utilisé dans des domaines tels que la science des matériaux, la géologie, la physique, etc., pour étudier la structure cristalline, les paramètres du réseau, les défauts cristallins, etc. Le principe de fonctionnement d'un analyseur d'orientation des rayons X consiste à irradier un faisceau de rayons X monochromatique sur le cristal testé. Lorsque les rayons X interagissent avec les atomes du cristal, une diffusion se produit. Selon la loi de Bragg, lorsque la longueur d'onde des rayons X est un multiple entier de l'espacement atomique dans un cristal, la lumière diffusée interfère et forme une série de bandes alternées claires et sombres, appelées réflexions de Bragg. En mesurant les angles et les intensités de ces réflexions de Bragg, des informations telles que l'orientation du cristal et les paramètres du réseau peuvent être calculées. L'analyseur d'orientation des rayons X comprend généralement les éléments principaux suivants : 1. Source de rayons X : un dispositif qui produit des rayons X monochromatiques, généralement à l'aide d'un tube à rayons X ou d'une source de rayonnement synchrotron. 2. Étape d'échantillonnage : une plate-forme utilisée pour placer le cristal à tester, qui peut ajuster la position et l'angle du cristal. 3. Détecteur : utilisé pour recevoir les rayons X diffusés et les convertir en signaux électriques. Les détecteurs courants comprennent les compteurs à scintillation, les compteurs proportionnels, etc. 4. Système d'acquisition et de traitement des données : utilisé pour collecter les signaux émis par les détecteurs et effectuer le traitement et l'analyse des données. Comprend généralement des analyseurs multicanaux, des ordinateurs et d'autres équipements. 5. Système de contrôle : utilisé pour contrôler le mouvement de la source de rayons X, de la platine d'échantillonnage et du détecteur pour réaliser la mesure des cristaux dans différentes directions. En utilisant un analyseur d'orientation à rayons X, les chercheurs peuvent déterminer avec précision l'orientation et les paramètres de réseau des cristaux, acquérant ainsi une compréhension plus approfondie de leur structure et de leurs propriétés. Cela revêt une grande importance pour le développement de nouveaux matériaux, l'exploration géologique, la croissance cristalline et d'autres domaines.