L'orienteur à cristaux X est un instrument indispensable pour l'usinage et la fabrication de précision de dispositifs à cristaux. Il utilise le principe de la diffraction des rayons X pour déterminer avec précision et rapidité l'angle de coupe des monocristaux naturels et artificiels (cristaux piézoélectriques, cristaux optiques, cristaux laser, cristaux semi-conducteurs). Il est équipé d'une machine de découpe pour la découpe directionnelle des cristaux mentionnés ci-dessus. L'orienteur à cristaux X est largement utilisé dans la recherche, la transformation et la fabrication de matériaux cristallins. 1. Principe de l'orienteur de cristal à rayons X : L'orienteur de cristaux à rayons X utilise le principe de la diffraction des rayons X pour déterminer avec précision et rapidité l'angle de coupe des monocristaux naturels et artificiels (cristaux piézoélectriques, cristaux optiques, cristaux laser, cristaux semi-conducteurs). Équipé d'une machine de découpe, l'orienteur de cristaux à rayons X permet la découpe directionnelle des cristaux mentionnés ci-dessus et constitue un instrument indispensable à l'usinage et à la fabrication de précision de dispositifs à cristaux. L'instrument d'orientation de cristaux à rayons X offre une précision de mesure de ± 30 pouces, avec un affichage numérique et une lecture plus petite de 10 pouces. Il peut mesurer des échantillons de 1 à 30 kilogrammes de diamètre et de 2 à 8 pouces. Affichage de l'angle : mode numérique, précision de mesure de ± 30 pouces. 2. Caractéristiques de l'orienteur à cristal à rayons X : Facile à utiliser, aucune connaissance professionnelle ni compétence particulière n'est requise. L'affichage numérique des angles facilite l'observation et réduit les erreurs de lecture. Le moniteur peut être mis à zéro à n'importe quelle position pour un affichage aisé des valeurs d'écart d'angle de la puce. L'instrument de mesure d'angle double peut fonctionner simultanément, améliorant ainsi l'efficacité. L'orienteur à cristal à rayons X est doté d'un intégrateur spécial avec amplification de crête, ce qui améliore la précision de détection. L'intégration du tube à rayons X et du câble haute tension améliore la fiabilité de la haute tension. Le détecteur haute tension intègre un module haute tension CC et une carte d'échantillonnage à aspiration sous vide, ce qui améliore la précision et la vitesse de mesure de l'angle. Les principaux composants d'un orienteur à cristal à rayons X sont : Tube à rayonnement : En général, une cible en cuivre est utilisée comme anode et mise à la terre, tandis qu'un refroidissement par air forcé est utilisé pour le refroidissement. Alimentation haute tension : fournit une tension et un courant élevés stables pour les tubes à rayons X et constitue l'un des composants essentiels de l'ensemble du système. Détecteur : utilisé pour recevoir des photons X diffractés et les convertir en signaux électriques pour un traitement et une analyse ultérieurs. Goniomètre : utilisé pour mesurer avec précision l'angle de rotation des échantillons de cristal, déterminant ainsi les informations d'orientation du plan de diffraction. Système de traitement de données : traite, analyse et stocke les signaux émis par le détecteur pour obtenir des informations sur la structure cristalline. 4. Domaines d'application de l'orienteur à cristaux à rayons X : Science des matériaux : utilisée pour étudier les structures cristallines de divers matériaux, notamment les métaux, les céramiques, les semi-conducteurs, etc. Géologie : Utilisée pour identifier les types de minéraux, analyser les structures rocheuses, etc. Chimie : utilisée pour étudier la structure et les changements des cristaux moléculaires. Physique : utilisée pour explorer la microstructure et les propriétés physiques de la matière. En résumé, avec les progrès et l'innovation continus de la science et de la technologie, l'orienteur de cristaux à rayons X est convaincu qu'il y aura davantage de nouveaux matériaux et technologies appliqués dans divers domaines à l'avenir, favorisant le développement continu de la société humaine.

1. The working principle of X-ray crystal analyzer: The X-ray crystal analyzer is based on Bragg's law, which states that when X-rays are irradiated onto a crystal, diffraction occurs at a specific angle, forming diffraction spots or peaks. By measuring the angles and intensities of these diffractions, the internal structure and composition of the crystal can be inferred. 2. Components of X-ray crystal analyzer: (1) X-ray source of X-ray crystal analyzer: a device that generates X-rays, usually an X-ray tube, consisting of a filament, a target material, and a high-voltage power supply. X-ray tube of X ray crystal analyzer: Rated power: 2.4KW; Focus size (mm2): Point focus (1 × 1) Line focus (1 × 10); Target materials: Cu, Co, Fe, Cr, Mo, W, etc. High voltage generator of X-ray crystal analyzer (controlled by imported PLC): Tube voltage: 10-60KV; Tube current: 2-60mA; Stability of tube voltage and tube current ≤ ± 0.005%; Rated output power: 3KW. High voltage cable for X ray crystal analyzer: Dielectric voltage ≥ 100KV; Length: 2M. (2) The spectral crystal of X ray crystal analyzer: used to separate X-rays of different wavelengths, it is a key component for achieving spectral separation. (3) Detector of X-ray crystal analyzer: used to detect X-rays scattered by the sample and convert them into electrical signals for subsequent processing. (4) Angle measuring instrument of X-ray crystal analyzer: an instrument used for precise measurement of diffraction angle, which is one of the important components to ensure measurement accuracy. (5) The control and data processing system of X-ray crystal analyzer: used to control the entire analysis process, process and analyze the collected data. Modern instruments are usually equipped with computer software to simplify the data analysis process. 3. Characteristics of X-ray crystal analyzer: ​The TDF series X ray crystal analyzer adopts a vertical tube sleeve, and four windows can be used simultaneously. The TDF series X-ray crystal analyzer adopts imported PLC control technology, with high control accuracy and good anti-interference performance, which can achieve reliable operation of the system. The PLC controls the high-voltage switch, lifting, and has the function of automatically training the X-ray tube, effectively extending the service life of the X-ray tube and instrument. 4. Application areas of X-ray crystal analyzer Materials Science: Research the crystal structure, phase transition, defects, etc. of materials to provide important support for the development of new materials. Chemistry: involving crystal chemistry, medicinal chemistry, etc., can be used to analyze compound structures, study chemical reaction mechanisms, etc. Biology: Used for structural analysis of biomolecules, drug design and screening, etc., it is of great significance for understanding life processes and disease mechanisms. Environmental science plays an important role in the development of catalysts, characterization of nanomaterials, and analysis of pollutants.

L'analyseur de cristaux à rayons X de la série TDF est un instrument d'analyse à grande échelle et un instrument à rayons X utilisé pour étudier la microstructure interne des matériaux. Il est principalement utilisé pour l'orientation des monocristallins, l'inspection des défauts, la détermination des paramètres du réseau, la détermination des contraintes résiduelles, l'étude de la structure des plaques et des tiges, l'étude de la structure des substances inconnues et les dislocations monocristallines.

L'analyseur de cristaux à rayons X de la série TDF est un instrument d'analyse à grande échelle utilisé pour étudier la microstructure interne des substances. Il est principalement utilisé pour l'orientation des monocristaux, l'inspection des défauts, la détermination des paramètres du réseau, la détermination des contraintes résiduelles, l'étude de la structure des plaques et des tiges, l'étude de la structure des substances inconnues et les dislocations des monocristaux.

L'analyseur de cristaux à rayons X de la série TDF est un instrument d'analyse à rayons X à grande échelle utilisé pour étudier la microstructure interne des substances. Il est principalement utilisé pour l'orientation des monocristallins, l'inspection des défauts, la détermination des paramètres du réseau, la détermination des contraintes résiduelles, l'étude de la structure des plaques et des tiges, l'étude de la structure des substances inconnues et les dislocations monocristallines. L'analyseur de cristaux à rayons X de la série TDF adopte un manchon de tube vertical et quatre fenêtres peuvent être utilisées simultanément. L'analyseur de cristal à rayons X de la série TDF adopte une technologie de contrôle PLC importée, avec une précision de contrôle élevée et de bonnes performances anti-interférences, ce qui permet un fonctionnement fiable du système. Le PLC contrôle l'interrupteur haute tension, le levage et a pour fonction d'entraîner automatiquement le tube à rayons X, prolongeant ainsi efficacement la durée de vie du tube à rayons X et de l'instrument à rayons X.

L'analyseur de cristal à rayons X de la série TDF est un instrument à rayons X à grande échelle utilisé pour étudier la microstructure interne des substances. Il utilise le principe d'interaction entre les rayons X et le cristal pour déterminer la disposition atomique à l'intérieur du cristal en analysant le diagramme de diffraction des rayons X. Principalement utilisé pour l'orientation des monocristallins, l'inspection des défauts, la détermination des paramètres du réseau, la détermination des contraintes résiduelles, l'étude de la structure des plaques et des tiges, l'investigation de la structure des substances inconnues et des dislocations monocristallines. L'analyseur de cristaux à rayons X, en tant qu'instrument à rayons X, fournit des informations précieuses pour la recherche en science des matériaux et d'autres domaines connexes. Avec l'avancement continu de la technologie et l'expansion des applications, l'analyseur de cristaux à rayons X continuera de jouer un rôle important dans la recherche scientifique et la production industrielle.

L'accessoire de batterie in situ est un composant des accessoires du diffractomètre à rayons X. Les accessoires de batterie in situ sont largement utilisés dans les systèmes électrochimiques contenant des matériaux composites tels que le carbone, l'oxygène, l'azote, le soufre et les inserts métalliques. Plage de test : 0,5-160 degrés Celsius Résistance à la température : 400 ℃ Fenêtre en béryllium (film polyester) taille : diamètre 15 mm (personnalisable) ; épaisseur 0,1 mm (personnalisable) Dandong Tongda Technology Co., Ltd. est un fabricant professionnel de diffractomètres à rayons X, grossiste d'analyseurs directionnels à rayons X, grossiste d'analyseurs à cristaux de rayons X série X.

Dandong Tongda Technology Co., Ltd. est un fabricant professionnel de produits à rayons X, avec deux séries principales de produits : les instruments d'analyse à rayons X et les instruments de test non destructifs à rayons X. Et en 2013, il est devenu l'unité d'exécution du projet de diffractomètre monocristallin à rayons X du projet spécial national de développement d'instruments et d'équipements scientifiques majeurs du ministère de la Science et de la Technologie. Notre société adhère aux principes du client d'abord, du produit d'abord et du service d'abord, insiste sur l'orientation humaine et dispose d'une solide équipe technologique. Nous nous engageons à fournir aux utilisateurs des produits de haute technologie de la plus haute qualité dotés d'une technologie avancée, et à fournir un support et des services solides aux utilisateurs avec des institutions efficaces de conseil technique et de service après-vente.

Les données collectées grâce à des équipements à basse température donnent des résultats plus idéaux. À l'aide d'un équipement à basse température, des conditions plus avantageuses peuvent être fournies, permettant aux cristaux indésirables d'obtenir des résultats idéaux, ainsi qu'aux cristaux idéaux d'obtenir des résultats plus idéaux.

Dandong Tongda Technology Co., Ltd. est un fabricant professionnel de produits à rayons X, avec deux séries principales de produits : les instruments d'analyse à rayons X et les instruments de contrôle non destructif à rayons X. Et en 2013, elle est devenue l'unité d'exécution du projet national de développement d'instruments et d'équipements scientifiques majeurs de diffractomètre monocristallin à rayons X du ministère chinois des Sciences et Technologies. Notre société adhère aux principes du client d'abord, du produit d'abord et du service d'abord, insiste sur l'orientation vers les personnes et dispose d'une équipe scientifique et technologique solide. Nous nous engageons à fournir aux utilisateurs des produits de haute technologie de la plus haute qualité avec une technologie de pointe et à fournir un support et des services solides avec des institutions de conseil technique et de service après-vente efficaces.

Dandong Tongda Technology Co., Ltd. s'engage dans la recherche et le développement, la production et la vente de diffractomètres à rayons X. La société possède actuellement des diffractomètres à rayons X, des diffractomètres à rayons X de bureau, des diffractomètres à rayons X monocristallins, des analyseurs de cristaux à rayons X et d'autres produits, qui sont vendus au niveau national et international et ont reçu des éloges unanimes de la part de l'industrie.

Dandong Tongda Technology Co., Ltd. organise chaque été un événement de consolidation d'équipe pour se concentrer sur la survie et le développement des employés, mettre en œuvre des soins humanistes qui prennent soin, chérissent et respectent les gens, et stimuler la cohésion, l'enthousiasme et la vitalité des employés. Tongda Technology Company est un fabricant professionnel d'instruments d'analyse aux rayons X. La société possède actuellement des diffractomètres à rayons X de la série TD, des diffractomètres à monocristal à rayons X, des diffractomètres à rayons X de bureau, des analyseurs à cristaux à rayons X et d'autres produits. Le diffractomètre à rayons X est principalement utilisé pour l'analyse qualitative et quantitative de phase, l'analyse de la structure cristalline, l'analyse de la structure des matériaux, l'analyse de l'orientation cristalline, la détermination des contraintes macroscopiques ou microscopiques, la détermination de la granulométrie, la détermination de la cristallinité, etc. d'échantillons de poudre, de blocs ou de films.