L'accessoire de batterie in situ est un composant des accessoires du diffractomètre à rayons X. Les accessoires de batterie in situ sont largement utilisés dans les systèmes électrochimiques contenant des matériaux composites tels que le carbone, l'oxygène, l'azote, le soufre et les inserts métalliques. Plage de test : 0,5-160 degrés Celsius Résistance à la température : 400 ℃ Fenêtre en béryllium (film polyester) taille : diamètre 15 mm (personnalisable) ; épaisseur 0,1 mm (personnalisable) Dandong Tongda Technology Co., Ltd. est un fabricant professionnel de diffractomètres à rayons X, grossiste d'analyseurs directionnels à rayons X, grossiste d'analyseurs à cristaux de rayons X série X.

Dandong Tongda Technology Co., Ltd. est un fabricant professionnel de produits à rayons X, avec deux séries principales de produits : les instruments d'analyse à rayons X et les instruments de test non destructifs à rayons X. Et en 2013, il est devenu l'unité d'exécution du projet de diffractomètre monocristallin à rayons X du projet spécial national de développement d'instruments et d'équipements scientifiques majeurs du ministère de la Science et de la Technologie. Notre société adhère aux principes du client d'abord, du produit d'abord et du service d'abord, insiste sur l'orientation humaine et dispose d'une solide équipe technologique. Nous nous engageons à fournir aux utilisateurs des produits de haute technologie de la plus haute qualité dotés d'une technologie avancée, et à fournir un support et des services solides aux utilisateurs avec des institutions efficaces de conseil technique et de service après-vente.

Les données collectées grâce à des équipements à basse température donnent des résultats plus idéaux. À l'aide d'un équipement à basse température, des conditions plus avantageuses peuvent être fournies, permettant aux cristaux indésirables d'obtenir des résultats idéaux, ainsi qu'aux cristaux idéaux d'obtenir des résultats plus idéaux.

Dandong Tongda Technology Co., Ltd. est un fabricant professionnel de produits à rayons X, avec deux séries principales de produits : les instruments d'analyse à rayons X et les instruments de contrôle non destructif à rayons X. Et en 2013, elle est devenue l'unité d'exécution du projet national de développement d'instruments et d'équipements scientifiques majeurs de diffractomètre monocristallin à rayons X du ministère chinois des Sciences et Technologies. Notre société adhère aux principes du client d'abord, du produit d'abord et du service d'abord, insiste sur l'orientation vers les personnes et dispose d'une équipe scientifique et technologique solide. Nous nous engageons à fournir aux utilisateurs des produits de haute technologie de la plus haute qualité avec une technologie de pointe et à fournir un support et des services solides avec des institutions de conseil technique et de service après-vente efficaces.

Dandong Tongda Technology Co., Ltd. s'engage dans la recherche et le développement, la production et la vente de diffractomètres à rayons X. La société possède actuellement des diffractomètres à rayons X, des diffractomètres à rayons X de bureau, des diffractomètres à rayons X monocristallins, des analyseurs de cristaux à rayons X et d'autres produits, qui sont vendus au niveau national et international et ont reçu des éloges unanimes de la part de l'industrie.

Dandong Tongda Technology Co., Ltd. organise chaque été un événement de consolidation d'équipe pour se concentrer sur la survie et le développement des employés, mettre en œuvre des soins humanistes qui prennent soin, chérissent et respectent les gens, et stimuler la cohésion, l'enthousiasme et la vitalité des employés. Tongda Technology Company est un fabricant professionnel d'instruments d'analyse aux rayons X. La société possède actuellement des diffractomètres à rayons X de la série TD, des diffractomètres à monocristal à rayons X, des diffractomètres à rayons X de bureau, des analyseurs à cristaux à rayons X et d'autres produits. Le diffractomètre à rayons X est principalement utilisé pour l'analyse qualitative et quantitative de phase, l'analyse de la structure cristalline, l'analyse de la structure des matériaux, l'analyse de l'orientation cristalline, la détermination des contraintes macroscopiques ou microscopiques, la détermination de la granulométrie, la détermination de la cristallinité, etc. d'échantillons de poudre, de blocs ou de films.

XAFS, en tant que technique de caractérisation avancée pour l'analyse de la structure locale des matériaux, peut fournir des informations de coordination de structure atomique plus précises dans la plage des structures à courte portée que la diffraction cristalline des rayons X.

La spectroscopie de diffraction des rayons X analyse principalement l'état cristallin et la microstructure des matériaux, et il existe deux méthodes de mesure de diffraction des rayons X pour l'analyse des cristaux.

L'instrument d'orientation automatique des rayons X est un instrument indispensable pour le traitement de précision et la fabrication d'appareils à cristaux. Il est largement utilisé dans la recherche, le traitement et la fabrication de matériaux cristallins.

La technologie Micro-ct présente des avantages significatifs dans la caractérisation des céramiques, qui peuvent révéler la structure composite à l'intérieur du matériau sans dommage et restaurer la technologie clé dans la production de céramiques.

Micro-xrd peut analyser l'état d'origine de l'échantillon et effectuer une analyse de phase de différentes parties de l'échantillon. Dans cet article, un échantillon géologique de lapis-lazuli est pris comme exemple pour illustrer davantage l'effet de la micro-diffraction.