Le porte-échantillon multifonction fait partie des accessoires de diffractomètre à rayons X (accessoire XRD), qui adopte une technologie de conception avancée et des idées de conception modulaire, et réalise des fonctions telles que la rotation, le différentiel de levage et la résistance à l'oxydation à haute température grâce à la combinaison de différents modules. Le porte-échantillon multifonction convient à diverses technologies avancées de croissance et de dépôt de couches minces, notamment l'épitaxie par faisceaux moléculaires (MBE), le dépôt par laser pulsé (PLD), la pulvérisation magnétron et l'évaporation par faisceau d'électrons (EB), et peut également être utilisé pour le recuit du substrat, le dégazage à haute température et la modification des matériaux. Le substrat du porte-échantillon multifonction peut atteindre une température de chauffage maximale de 1100 ℃ et peut être connecté à RF/DC, avec une rotation automatique et une vitesse de 0 à 20 tours par minute. Il est réglable en continu et offre un positionnement zéro. La conception modulaire permet de sélectionner plusieurs configurations de combinaison et la taille de l'échantillon peut accueillir jusqu'à 8 pouces. En résumé, le porte-échantillon multifonctionnel est un équipement expérimental puissant et flexible, adapté à diverses recherches scientifiques et applications industrielles en tant qu'accessoire de diffractomètre à rayons X (accessoire XRD). La conception modulaire et les multiples fonctions du porte-échantillon multifonctionnel en font un outil indispensable dans les laboratoires et la production industrielle.

Le goniomètre est le cœur du diffractomètre à rayons X, et le diffractomètre à rayons X de la série TD présente une précision de mesure extrêmement élevée

Le diffractomètre à rayons X (DRX) utilise le principe de diffraction, une analyse de phase précise, une analyse qualitative, etc. Aujourd'hui, nous présenterons quelques accessoires pouvant être équipés d'instruments XRD.

Aujourd'hui, nous partageons quelques connaissances sur "l'analyse du logiciel JADE et le traitement des données XRD"