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Le porte-échantillon rotatif d'un diffractomètre à rayons X est un élément clé pour un réglage et une fixation précis de la position de l'échantillon. Ce dernier peut pivoter sur son propre plan, ce qui est avantageux pour les erreurs dues aux grains grossiers. Pour les échantillons texturés et cristallographiques, le porte-échantillon rotatif assure une bonne reproductibilité de l'intensité de diffraction et élimine l'orientation préférentielle. Principe de fonctionnement du porte-échantillon rotatif : Lorsque le diffractomètre à rayons X fonctionne, les rayons X de haute énergie générés par la source sont irradiés sur l'échantillon fixé sur la platine rotative. En raison de la structure cristalline et des paramètres de maille spécifiques de l'échantillon, les rayons X subissent des phénomènes de diffusion, d'absorption et de diffraction lors de leur interaction avec l'échantillon, phénomènes qui se produisent conformément à l'équation de Bragg. Le porte-échantillon rotatif peut pivoter à des angles plus petits selon le réglage, permettant ainsi à l'échantillon de recevoir des rayons X sous différents angles et d'obtenir ainsi des diagrammes de diffraction sous différents angles. Ainsi, le détecteur peut mesurer l'intensité des rayons X après diffraction de l'échantillon et la convertir en signal électrique transmis à l'ordinateur pour le traitement des données. La fonction principale du porte-échantillon rotatif est : Méthode de rotation : axe β (plan d'échantillonnage) Vitesse de rotation : 1 à 60 tr/min Petite largeur de pas : 0,1 º Mode de fonctionnement : Rotation à vitesse constante pour le balayage des échantillons (étape, continu) Avantages du porte-échantillon rotatif : Le porte-échantillon rotatif peut améliorer la précision des données de diffraction : pour les échantillons de poudre ou de particules de forme irrégulière, la caractéristique d'orientation préférentielle est susceptible de se produire lors de la préparation conventionnelle des échantillons de poudre, ce qui entraîne des écarts dans la distribution de l'intensité de diffraction et affecte la précision de l'analyse des résultats. La rotation du porte-échantillon permet de déplacer l'échantillon selon une certaine forme dans un espace approprié, éliminant ainsi dans une certaine mesure l'influence de l'orientation préférentielle et améliorant ainsi la précision des données de diffraction. Le porte-échantillon rotatif s'adapte à divers besoins d'essai : il peut s'adapter à différents types d'instruments de mesure d'angle par diffraction des rayons X, tels que les instruments de mesure d'angle vertical, les équipements de diffraction sur poudre compacts à faible consommation, etc., ce qui facilite la réalisation de divers essais. De plus, il peut s'adapter aux exigences de divers échantillons et conditions d'essai en ajustant des paramètres tels que la vitesse et la direction. Le porte-échantillon rotatif peut étendre les capacités d'analyse de l'instrument : de nouveaux types de platines d'échantillons rotatives sont constamment développés et appliqués, tels que certaines platines d'échantillons pour l'analyse par diffraction électrochimique des rayons X in situ, qui peuvent surveiller et analyser les changements de matériaux dans différents environnements ou conditions en temps réel, élargissant ainsi les capacités d'analyse des équipements de diffraction des rayons X. En résumé, le porte-échantillon rotatif dans le diffractomètre à rayons X est essentiel pour obtenir avec précision des informations sur la structure cristalline des substances. Le porte-échantillon rotatif peut non seulement améliorer la précision des données de diffraction, mais également s'adapter à divers besoins de test et étendre les capacités analytiques de l'instrument.
Le diffractomètre à rayons X (DRX) utilise le principe de diffraction, une analyse de phase précise, une analyse qualitative, etc. Aujourd'hui, nous présenterons quelques accessoires pouvant être équipés d'instruments XRD.