Le spectromètre à structure fine d'absorption des rayons X (XAFS) est un outil puissant pour étudier la structure atomique ou électronique locale des matériaux, largement utilisé dans des domaines populaires tels que la catalyse, l'énergie et la nanotechnologie. Le principe de base du spectromètre d'absorption des rayons X à structure fine (XAFS) est le suivant : lorsque l'énergie des rayons X entre en résonance avec celle de la couche électronique interne d'un élément de l'échantillon, une augmentation soudaine du nombre d'électrons est excitée pour former un spectre continu, appelé seuil d'absorption. À proximité du seuil d'absorption, lorsque l'énergie des rayons X augmente, le taux d'absorption diminue de façon monotone avec la profondeur de pénétration des rayons X. Lorsque le spectre est étendu au-delà d'un seuil spécifique, des structures fines peuvent être observées. Des régions de structures d'absorption des rayons X à proximité du seuil (XANES) apparaissent dès que des pics et des épaulements d'une largeur supérieure à 20 à 30 électronvolts passent par le point de départ du seuil. La structure fine située du côté haute énergie du seuil, où l'énergie décroît jusqu'à plusieurs centaines d'électronvolts, est appelée structure fine d'absorption des rayons X (XAFS). Les principales caractéristiques du spectromètre à structure fine d'absorption des rayons X (XAFS) sont les suivantes : Sensibilité à l'ordre à courte portée : elle dépend de l'ordre à courte portée et non de l'ordre à longue portée, ce qui permet de mesurer une large gamme d'échantillons. Elle peut être utilisée pour les milieux amorphes, liquides, fondus, les centres actifs de catalyseurs, les protéines métalliques, etc., ainsi que pour les études structurales des atomes d'impuretés dans les cristaux. Caractéristiques élémentaires fortes : Le bord d'absorption des rayons X présente des caractéristiques élémentaires et, pour les atomes de différents éléments de l'échantillon, la structure atomique voisine de différents éléments du même composé peut être étudiée en ajustant l'énergie des rayons X incidents. Haute sensibilité : la méthode de fluorescence peut être utilisée pour mesurer des échantillons d’éléments avec des concentrations aussi faibles qu’un millionième. Acquisition complète d'informations structurelles : capable de fournir des paramètres qui déterminent la structure locale, tels que la distance entre les atomes absorbants et les atomes voisins, le nombre et le type de ces atomes et l'état d'oxydation des éléments absorbants. La préparation des échantillons est simple : aucun monocristal n'est requis et, dans les conditions expérimentales, le temps de collecte des données est relativement court. La mesure d'une raie spectrale à l'aide d'une source de rayons X synchrotron ne prend généralement que quelques minutes. Les principaux avantages du spectromètre à structure fine d'absorption des rayons X (XAFS) sont : Avantage principal : produit à flux lumineux le plus élevé Flux de photons dépassant 1 000 000 photons/seconde/eV, avec une efficacité spectrale plusieurs fois supérieure à celle des autres produits ; Obtenir une qualité de données équivalente au rayonnement synchrotron Excellente stabilité : La stabilité de l'intensité lumineuse monochromatique de la source lumineuse est meilleure que 0,1 % et la dérive énergétique lors de la collecte répétée est inférieure à 50 meV Limite de détection de 1 % : Un flux lumineux élevé, une excellente optimisation du chemin optique et une excellente stabilité de la source lumineuse garantissent que des données EXAFS de haute qualité peuvent toujours être obtenues lorsque la teneur en éléments mesurée est > 1 %. 4. Domaines d'application du spectromètre à structure fine d'absorption des rayons X (XAFS) : Domaine énergétique : comme la recherche sur les batteries au lithium et autres matériaux de batteries secondaires, la recherche sur les piles à combustible, la recherche sur les matériaux de stockage d'hydrogène, etc. XAFS peut être utilisé pour obtenir la concentration, l'état de valence, l'environnement de coordination et les changements dynamiques des atomes de base pendant les cycles de charge et de décharge et les réactions électrochimiques. Domaine de la catalyse : utilisé pour la recherche sur la catalyse des nanoparticules, la catalyse à atome unique, etc. Obtenir la morphologie du catalyseur sur le support, la forme d'interaction avec le support et ses changements au cours du processus catalytique via XAFS, ainsi que les structures voisines des ions métalliques à très faible teneur. Dans le domaine de la science des matériaux, le spectromètre à structure fine d'absorption des rayons X (XAFS) est utilisé pour la caractérisation de divers matériaux, l'étude de systèmes complexes et de matériaux structurels désordonnés, la recherche d'isotopes radioactifs, l'étude des propriétés associées des matériaux de surface et d'interface, et l'étude des changements dynamiques dans les matériaux. Dans le domaine de la géologie, le spectromètre à structure fine d'absorption des rayons X (XAFS) peut être utilisé pour l'analyse de l'état de valence des éléments des matériaux minéralisés dans la recherche géologique. Domaine environnemental : XES peut être utilisé pour l'analyse de l'état de valence des éléments Cr/As, etc. Dans le domaine de la radiochimie, le spectromètre à structure fine d'absorption des rayons X (XAFS) peut être utilisé pour l'analyse de l'état de valence des éléments Ce, U, etc. Le spectromètre d'absorption des rayons X à structure fine (XAFS) joue un rôle important dans la recherche scientifique moderne grâce à son principe de fonctionnement unique, ses caractéristiques remarquables et ses vastes champs d'application. Il offre un puissant outil permettant d'approfondir la compréhension de la microstructure et de l'état chimique de la matière, favorisant ainsi le développement et le progrès de multiples disciplines.

L'objectif principal de la machine d'essai de soudage à rayons X portable NDT consiste à inspecter la qualité du traitement et du soudage des matériaux et des composants tels que les coques de navires, les pipelines, les récipients à haute pression, les chaudières, les avions, les véhicules et les ponts dans les secteurs industriels tels que la défense nationale, la construction navale, le pétrole, la chimie, la mécanique, l'aérospatiale et la construction, ainsi que les défauts internes et la qualité inhérente de divers métaux légers, caoutchouc, céramique, etc. Le principe et l'application de la machine d'essai de soudage à rayons X portable NDT : Les machines de soudage par rayons X portables CND utilisent les propriétés acoustiques, optiques, magnétiques et électriques des matériaux pour détecter la présence de défauts ou d'irrégularités sur l'objet testé sans endommager ni affecter ses performances. Elles fournissent des informations telles que la taille, l'emplacement, la nature et la quantité des défauts. Comparés aux essais destructifs, ils présentent les caractéristiques suivantes : premièrement, ils sont non destructifs, car ils ne compromettent pas les performances de l'objet détecté lors du test ; deuxièmement, ils sont complets, car la détection est non destructive, ce qui nécessite une détection complète de l'objet testé, ce qui est impossible avec la détection destructive ; troisièmement, ils sont complets, et ne s'appliquent généralement qu'aux essais de matières premières, telles que la traction, la compression, la flexion, etc., couramment utilisées en génie mécanique. Les essais destructifs sont effectués sur les matières premières de fabrication, tandis que pour les produits finis et les articles en service, ils ne peuvent être effectués que s'ils ne sont plus destinés à être utilisés. En revanche, ils ne compromettent pas les performances de l'objet testé. Ainsi, il peut non seulement effectuer des tests de processus complets sur les matières premières de fabrication, les processus intermédiaires et même les produits finis, mais également tester les équipements en service. Caractéristiques de la machine d'essai de soudage à rayons X portable CND : Le générateur de rayons X a un petit volume, avec une anode mise à la terre et un refroidissement forcé par un ventilateur ; ◆ Léger, facile à transporter et simple à utiliser ; Travail et repos dans un rapport 1:1 ; Belle apparence et structure raisonnable; ◆ Exposition différée pour assurer la sécurité de l’opérateur ; Gamme d'inspection visuelle de la machine d'essai de soudage à rayons X portable CND 1. Inspection des défauts de surface des soudures. Vérification de la qualité du soudage, notamment des fissures superficielles, de la pénétration incomplète et des fuites du cordon de soudure. 2. Vérification de l'état. Vérifiez l'absence de fissures, de décollements, d'arrachements, de rayures, de bosses, de saillies, de taches, de corrosion et d'autres défauts. 3. Inspection interne. Lorsque certains produits (tels que les pompes à vis sans fin, les moteurs, etc.) sont en fonctionnement, des tests endoscopiques doivent être effectués conformément aux exigences techniques spécifiées. 4. Inspection de l'assemblage. En cas d'exigences et de besoins, utilisez le même endoscope vidéo industriel 3D pour inspecter la qualité de l'assemblage. Une fois l'assemblage ou un processus terminé, vérifiez chaque composant. Vérifiez si la position d'assemblage des composants est conforme aux exigences des plans ou des spécifications techniques. L'assemblage présente-t-il un défaut ? 5. Inspection des articles excédentaires. Vérifiez la présence de débris résiduels, de corps étrangers et d'autres débris à l'intérieur du produit.

L'irradiateur à rayons X WBK-01 génère des rayons X de haute énergie pour irradier des cellules ou des petits animaux. Il est utilisé dans diverses recherches fondamentales et appliquées. Historiquement, des irradiateurs à isotopes radioactifs ont été utilisés, nécessitant le transport d'échantillons vers une installation d'irradiation centrale. Aujourd'hui, des irradiateurs à rayons X plus petits, plus sûrs, plus simples et moins coûteux peuvent être installés en laboratoire pour une irradiation cellulaire pratique et rapide. Différents échantillons peuvent être irradiés directement en laboratoire sans compromettre la fertilité ni la sécurité. L'irradiateur à rayons X est facile à utiliser pour le personnel sans formation professionnelle en radiologie, et ne nécessite pas de demandes de licence coûteuses ni de coûts de sécurité ou de maintenance des sources de rayonnement. Cet appareil est simple d'utilisation, sûr, fiable et économique, et peut remplacer les sources d'isotopes radioactifs. 1. Principe de l'irradiateur à rayons X : Le tube à rayons X de l'irradiateur génère des électrons de haute énergie, qui produisent des rayons X lorsqu'ils entrent en collision avec le matériau cible (généralement du tungstène). Les électrons sont accélérés par un champ électrique haute tension afin d'obtenir l'énergie nécessaire pour générer la longueur d'onde et l'intensité des rayons X requises. Les rayons X sont ensuite ajustés et optimisés grâce à une série de collimateurs, de filtres et d'autres dispositifs, avant d'être irradiés sur l'échantillon. Les principaux composants d'un irradiateur à rayons X sont : L'irradiateur à rayons X comprend principalement des tubes à rayons X, des générateurs haute tension, des circuits de commande, des systèmes de refroidissement, des dispositifs de protection et des salles d'échantillonnage. Parmi ces composants, le tube à rayons X est le composant principal responsable de la génération des rayons X ; le générateur haute tension fournit la tension et le courant nécessaires au tube à rayons X ; le circuit de commande permet de contrôler des paramètres tels que la génération, l'intensité et la durée d'irradiation des rayons X ; le système de refroidissement garantit la protection de l'équipement contre une surchauffe pendant le fonctionnement ; le dispositif de protection assure la sécurité des opérateurs et de l'environnement d'utilisation. 3. Domaines d'application de l'irradiateur à rayons X : L'irradiateur à rayons X peut être utilisé dans le domaine de la biologie : il peut être utilisé pour la recherche sur la culture cellulaire et l'inhibition de la division, l'induction de changements génétiques, la recherche sur les cellules souches, l'irradiation des petits animaux, la recherche sur les cellules tuberculeuses, la recherche sur les cellules sanguines, l'irradiation de la transplantation de moelle osseuse, l'immunité de transplantation, la thérapie immunosuppressive, la recherche sur la sensibilité aux radiations, la recherche sur les dommages à l'ADN, etc. L'irradiateur à rayons X peut être utilisé dans le domaine médical : dans le traitement des tumeurs, il peut être utilisé pour irradier localement le site tumoral, tuer les cellules cancéreuses ou inhiber leur croissance ; L'irradiateur à rayons X peut également être utilisé comme diagnostic auxiliaire pour certaines maladies, par exemple en aidant à déterminer l'état en observant les changements d'imagerie des tissus et des organes grâce aux rayons X. L'irradiateur à rayons X peut être utilisé dans l'industrie alimentaire : il peut être utilisé pour la conservation par irradiation des aliments, en tuant les micro-organismes dans les aliments par irradiation aux rayons X, en inhibant l'activité enzymatique, prolongeant ainsi la durée de conservation des aliments tout en conservant leur goût d'origine et leur contenu nutritionnel. L'irradiateur à rayons X peut être utilisé dans le domaine industriel : il peut être utilisé pour tester et modifier les performances des matériaux, comme le traitement de réticulation des matériaux polymères pour améliorer leur résistance et leur stabilité ; Il peut également être utilisé pour des tests non destructifs afin de détecter les défauts et les fissures à l'intérieur des matériaux. En résumé, l’irradiateur à rayons X est un dispositif scientifique et industriel important avec de larges perspectives d’application et de valeur.

L'orienteur à cristaux X est un instrument indispensable pour l'usinage et la fabrication de précision de dispositifs à cristaux. Il utilise le principe de la diffraction des rayons X pour déterminer avec précision et rapidité l'angle de coupe des monocristaux naturels et artificiels (cristaux piézoélectriques, cristaux optiques, cristaux laser, cristaux semi-conducteurs). Il est équipé d'une machine de découpe pour la découpe directionnelle des cristaux mentionnés ci-dessus. L'orienteur à cristaux X est largement utilisé dans la recherche, la transformation et la fabrication de matériaux cristallins. 1. Principe de l'orienteur de cristal à rayons X : L'orienteur de cristaux à rayons X utilise le principe de la diffraction des rayons X pour déterminer avec précision et rapidité l'angle de coupe des monocristaux naturels et artificiels (cristaux piézoélectriques, cristaux optiques, cristaux laser, cristaux semi-conducteurs). Équipé d'une machine de découpe, l'orienteur de cristaux à rayons X permet la découpe directionnelle des cristaux mentionnés ci-dessus et constitue un instrument indispensable à l'usinage et à la fabrication de précision de dispositifs à cristaux. L'instrument d'orientation de cristaux à rayons X offre une précision de mesure de ± 30 pouces, avec un affichage numérique et une lecture plus petite de 10 pouces. Il peut mesurer des échantillons de 1 à 30 kilogrammes de diamètre et de 2 à 8 pouces. Affichage de l'angle : mode numérique, précision de mesure de ± 30 pouces. 2. Caractéristiques de l'orienteur à cristal à rayons X : Facile à utiliser, aucune connaissance professionnelle ni compétence particulière n'est requise. L'affichage numérique des angles facilite l'observation et réduit les erreurs de lecture. Le moniteur peut être mis à zéro à n'importe quelle position pour un affichage aisé des valeurs d'écart d'angle de la puce. L'instrument de mesure d'angle double peut fonctionner simultanément, améliorant ainsi l'efficacité. L'orienteur à cristal à rayons X est doté d'un intégrateur spécial avec amplification de crête, ce qui améliore la précision de détection. L'intégration du tube à rayons X et du câble haute tension améliore la fiabilité de la haute tension. Le détecteur haute tension intègre un module haute tension CC et une carte d'échantillonnage à aspiration sous vide, ce qui améliore la précision et la vitesse de mesure de l'angle. Les principaux composants d'un orienteur à cristal à rayons X sont : Tube à rayonnement : En général, une cible en cuivre est utilisée comme anode et mise à la terre, tandis qu'un refroidissement par air forcé est utilisé pour le refroidissement. Alimentation haute tension : fournit une tension et un courant élevés stables pour les tubes à rayons X et constitue l'un des composants essentiels de l'ensemble du système. Détecteur : utilisé pour recevoir des photons X diffractés et les convertir en signaux électriques pour un traitement et une analyse ultérieurs. Goniomètre : utilisé pour mesurer avec précision l'angle de rotation des échantillons de cristal, déterminant ainsi les informations d'orientation du plan de diffraction. Système de traitement de données : traite, analyse et stocke les signaux émis par le détecteur pour obtenir des informations sur la structure cristalline. 4. Domaines d'application de l'orienteur à cristaux à rayons X : Science des matériaux : utilisée pour étudier les structures cristallines de divers matériaux, notamment les métaux, les céramiques, les semi-conducteurs, etc. Géologie : Utilisée pour identifier les types de minéraux, analyser les structures rocheuses, etc. Chimie : utilisée pour étudier la structure et les changements des cristaux moléculaires. Physique : utilisée pour explorer la microstructure et les propriétés physiques de la matière. En résumé, avec les progrès et l'innovation continus de la science et de la technologie, l'orienteur de cristaux à rayons X est convaincu qu'il y aura davantage de nouveaux matériaux et technologies appliqués dans divers domaines à l'avenir, favorisant le développement continu de la société humaine.

1. The working principle of X-ray crystal analyzer: The X-ray crystal analyzer is based on Bragg's law, which states that when X-rays are irradiated onto a crystal, diffraction occurs at a specific angle, forming diffraction spots or peaks. By measuring the angles and intensities of these diffractions, the internal structure and composition of the crystal can be inferred. 2. Components of X-ray crystal analyzer: (1) X-ray source of X-ray crystal analyzer: a device that generates X-rays, usually an X-ray tube, consisting of a filament, a target material, and a high-voltage power supply. X-ray tube of X ray crystal analyzer: Rated power: 2.4KW; Focus size (mm2): Point focus (1 × 1) Line focus (1 × 10); Target materials: Cu, Co, Fe, Cr, Mo, W, etc. High voltage generator of X-ray crystal analyzer (controlled by imported PLC): Tube voltage: 10-60KV; Tube current: 2-60mA; Stability of tube voltage and tube current ≤ ± 0.005%; Rated output power: 3KW. High voltage cable for X ray crystal analyzer: Dielectric voltage ≥ 100KV; Length: 2M. (2) The spectral crystal of X ray crystal analyzer: used to separate X-rays of different wavelengths, it is a key component for achieving spectral separation. (3) Detector of X-ray crystal analyzer: used to detect X-rays scattered by the sample and convert them into electrical signals for subsequent processing. (4) Angle measuring instrument of X-ray crystal analyzer: an instrument used for precise measurement of diffraction angle, which is one of the important components to ensure measurement accuracy. (5) The control and data processing system of X-ray crystal analyzer: used to control the entire analysis process, process and analyze the collected data. Modern instruments are usually equipped with computer software to simplify the data analysis process. 3. Characteristics of X-ray crystal analyzer: ​The TDF series X ray crystal analyzer adopts a vertical tube sleeve, and four windows can be used simultaneously. The TDF series X-ray crystal analyzer adopts imported PLC control technology, with high control accuracy and good anti-interference performance, which can achieve reliable operation of the system. The PLC controls the high-voltage switch, lifting, and has the function of automatically training the X-ray tube, effectively extending the service life of the X-ray tube and instrument. 4. Application areas of X-ray crystal analyzer Materials Science: Research the crystal structure, phase transition, defects, etc. of materials to provide important support for the development of new materials. Chemistry: involving crystal chemistry, medicinal chemistry, etc., can be used to analyze compound structures, study chemical reaction mechanisms, etc. Biology: Used for structural analysis of biomolecules, drug design and screening, etc., it is of great significance for understanding life processes and disease mechanisms. Environmental science plays an important role in the development of catalysts, characterization of nanomaterials, and analysis of pollutants.

L'instrument de diffraction des rayons X de bureau TDM-10 est un instrument utilisé pour analyser la structure de phase des matériaux, qui peut être équipé de détecteurs à scintillation/proportionnels/à réseau linéaire. 1. Principe de fonctionnement de l'instrument de diffraction des rayons X de bureau TDM-10 : selon la loi de Bragg, lorsqu'un faisceau de rayons X monochromatique frappe un cristal, si la condition de diffraction de Bragg est satisfaite (n λ = 2 d sin θ, où λ est la longueur d'onde du rayon X, d l'espacement interplanaire et θ l'angle d'incidence), les atomes ou molécules du cristal se dispersent et interfèrent avec le rayon X, formant un motif de diffraction spécifique. La mesure de l'intensité de diffraction sous différents angles permet d'obtenir des informations structurelles du cristal. 2. Caractéristiques de l'instrumentation de diffraction des rayons X de bureau TDM-10 : La haute résolution d'un instrument de diffraction des rayons X de bureau permet une mesure précise de la structure cristalline des substances, ce qui est crucial pour étudier des mélanges complexes ou rechercher des phases polycristallines et traces à faible teneur. Analyse non destructive de l'instrumentation de diffraction des rayons X de bureau : pendant le processus de test, cela n'endommagera pas l'échantillon et l'échantillon peut rester dans son état d'origine pour des tests ou une utilisation supplémentaires. Le fonctionnement de l'équipement de diffraction des rayons X sur poudre de bureau est simple : les équipements de diffraction des rayons X sur poudre de bureau modernes disposent généralement de fonctions d'automatisation et d'intelligence, ce qui rend l'opération plus pratique et réduit les exigences en matière de connaissances et de compétences professionnelles de l'opérateur. La polyvalence de l'équipement de diffraction des rayons X sur poudre de bureau : l'équipement de diffraction des rayons X sur poudre peut effectuer diverses analyses telles que l'analyse qualitative et quantitative de phase, l'analyse de la constante de réseau, l'analyse des contraintes, etc. 3. Paramètres techniques de l'équipement de diffraction des rayons X sur poudre de bureau TDM-10 : La machine de diffraction des rayons X de bureau a un petit volume ; L'alimentation haute fréquence et haute tension réduit la consommation électrique globale de la machine ; Peut calibrer et tester rapidement des échantillons ; Contrôle de circuit simple, facile à déboguer et à installer ; La précision de mesure de la position du pic de diffraction est de 0,001 ° ; Détecteur : scintillation, proportionnel, réseau linéaire ; Plage de 2 θ : -10°~150° Puissance : 600 W ; Tension maximale : 40 kV ; Courant maximal : 15 mA ; Tubes à rayons X : tubes céramiques ondulés, tubes métallo-céramiques, tubes en verre. 4. Domaines d'application de la machine de diffraction des rayons X de bureau TDM-10 : Science des matériaux : utilisée pour étudier la structure cristalline, la composition des phases, la granulométrie, la cristallinité, etc. des métaux, des céramiques, des semi-conducteurs et d'autres matériaux, aidant les scientifiques des matériaux à comprendre les propriétés et les caractéristiques des matériaux. Dans le domaine de la chimie, la machine de diffraction des rayons X peut être utilisée dans l'industrie de fabrication de catalyseurs, de ciment, de produits pharmaceutiques et d'autres produits pour identifier les phases dans des échantillons inconnus, ainsi que pour analyser quantitativement les phases connues dans des échantillons mixtes. Géologie : Réalisation d'analyses de phase sur des minerais, des roches, etc. pour déterminer leur composition minérale et leur structure. Sciences de l’environnement : utilisées pour analyser la composition minérale et les formes de polluants dans des échantillons environnementaux tels que le sol et les sédiments. Industrie alimentaire : détection de composants cristallins, d'additifs, etc. dans les aliments. La machine de diffraction des rayons X de bureau TDM-10 est un instrument d'analyse puissant avec une valeur d'application importante dans de nombreux domaines.

Le diffractomètre à rayons X haute puissance TDM-20 (DRX de paillasse) est principalement utilisé pour l'analyse de phase des poudres, des solides et des matériaux pâteux similaires. Le principe de la diffraction des rayons X peut être utilisé pour l'analyse qualitative ou quantitative, l'analyse de la structure cristalline et d'autres matériaux polycristallins tels que les échantillons de poudre et les échantillons métalliques. La DRX de paillasse est largement utilisée dans des secteurs tels que l'industrie, l'agriculture, la défense nationale, l'industrie pharmaceutique, l'industrie minérale, la sécurité alimentaire, le pétrole, l'éducation et la recherche scientifique. 1、Caractéristiques principales du diffractomètre à rayons X de paillasse TDM-20 (XRD de paillasse) : Français Le chargement du nouveau détecteur de réseau haute performance a considérablement amélioré les performances globales de l'appareil, avec une petite taille et un poids léger ; L'ensemble de la machine est intégré dans la taille du bureau (généralement ≤ 1 m³), ​​économisant de l'espace et adapté aux petits laboratoires ou aux environnements d'enseignement ; La puissance de travail de l'alimentation haute fréquence et haute tension peut atteindre 1600 W ; Analyse rapide, capable d'étalonner et de tester rapidement des échantillons ; En utilisant des détecteurs hautes performances (tels que des détecteurs bidimensionnels) et en optimisant le chemin optique, le balayage des échantillons peut être terminé en quelques minutes ; Contrôle de circuit simple, facile à déboguer et à installer ; La répétabilité de l'angle peut atteindre 0,0001 ; Faible consommation d'énergie et sécurité, utilisant des tubes à rayons X de faible puissance (tels que ≤ 50 W), équipés d'une protection contre les radiations multiples, pas besoin de salles de blindage spéciales ; Convivial, équipé d'un logiciel d'automatisation, prenant en charge l'opération en un clic, la visualisation des données en temps réel et la comparaison de bases de données standard (telles que ICDD PDF). 2. Scénarios d'application typiques du diffractomètre à rayons X de paillasse TDM-20 (XRD de paillasse) : Science des matériaux du diffractomètre à rayons X (XRD de paillasse) : Identification rapide de la structure cristalline et de la composition des phases (telles que les métaux, les céramiques, les polymères). Science des matériaux du diffractomètre à rayons X (XRD de paillasse) : Test sur site industriel de la pureté cristalline des matières premières ou des produits finis (tels que les produits pharmaceutiques et les matériaux de batterie). Science des matériaux du diffractomètre à rayons X (XRD de paillasse) : Enseignement expérimental de premier cycle, démontrant visuellement le principe de diffraction de Bragg. Science des matériaux du diffractomètre à rayons X (XRD de paillasse) : analyse de la composition minérale des reliques culturelles ou criblage préliminaire d'échantillons de terrain. 3. Paramètres techniques du diffractomètre à rayons X de paillasse TDM-20 (XRD de paillasse) : Projet : plage de paramètres Source de rayons X : cible Cu (λ = 1,54 Å), cible Mo en option Tension/courant : 10-50 kV/0,1-2 mA Plage de mesure d'angle : 0-90 ° 2θ (certains modèles peuvent être étendus) Résolution angulaire : ≤ 0,01 ° Type de détecteur : détecteur linéaire unidimensionnel ou détecteur de surface bidimensionnel Taille de l'échantillon : Poudre (milligrammes), film ou bloc 4. Avantages et limites du diffractomètre à rayons X de paillasse TDM-20 (XRD de paillasse) : Avantages : Faible coût (environ 1/3-1/2 d'un grand XRD), entretien facile. Prend en charge l'analyse non destructive et la préparation simple des échantillons (comme le placement direct de poudre). limites: La résolution et la sensibilité sont légèrement inférieures à celles des appareils haut de gamme et peuvent ne pas convenir à une analyse structurelle ultra-fine. Les tests dans des conditions extrêmes (comme les expériences in situ à haute température/haute pression) ne sont généralement pas réalisables.

Le diffractomètre à rayons X TD-3500 est principalement utilisé pour l'analyse qualitative et quantitative de phase, l'analyse de la structure cristalline, l'analyse de la structure des matériaux, l'analyse de l'orientation cristalline, la détermination des contraintes macroscopiques et microscopiques, la granulométrie et la cristallinité, etc., sur des échantillons de poudre, de blocs ou de films. Fabriqué par Dandong Tongda Technology Co., Ltd., le diffractomètre à rayons X TD-3500 est doté d'un automate programmable Siemens importé. Il se caractérise par une grande précision, une excellente stabilité, une longue durée de vie, une mise à niveau aisée, une utilisation simple et une grande intelligence, et s'adapte avec souplesse aux analyses et à la recherche dans divers secteurs.   Le diffractomètre à rayons X TD-3500 est équipé d'un générateur de rayons X (générateur à semi-conducteurs haute fréquence et haute tension, générateur de fréquence de puissance en option). Il présente un haut degré d'automatisation, un taux de défaillance extrêmement faible, une forte capacité anti-interférence, une bonne stabilité du système et peut prolonger la durée de vie de l'ensemble de la machine. L'API et l'interface informatique contrôlent automatiquement l'ouverture et la fermeture de la porte lumineuse, la montée et la descente de la pression et du débit du tube, et permettent l'entraînement automatique des tubes à rayons X. L'état de l'instrument est surveillé en temps réel via un écran tactile. Le diffractomètre à rayons X TD-3500 est doté d'une unité de contrôle d'enregistrement avancée, d'un circuit de commande PLC et d'un écran tactile couleur pour une interaction homme-machine optimale. Le matériel du système adopte une conception modulaire, ce qui améliore considérablement sa résistance aux interférences et sa stabilité. Grâce à l'utilisation de circuits de commande PLC Siemens importés, hautement précis et automatisés, le système peut fonctionner de manière stable et durable, sans aucune défaillance. Le système de diffractomètre à rayons X TD-3500 présente les avantages suivants par rapport aux circuits de microcontrôleurs utilisés par d'autres sociétés : Contrôle de circuit simple, facile à déboguer et à installer ; Grâce à sa conception modulaire, la maintenance du système est très simple et les utilisateurs peuvent le réparer et le déboguer eux-mêmes sans avoir besoin de la présence des techniciens du fabricant ; Adoptant un écran tactile couleur véritable avancé pour réaliser une interaction homme-ordinateur, avec des fonctions de protection complètes et un fonctionnement très pratique, la conception d'animation hautement tridimensionnelle est plus humanisée, intuitive et pratique pour les opérateurs à utiliser et à juger les informations de défaut, etc. ; Améliorant considérablement la stabilité de comptage du système, améliorant ainsi la stabilité globale de l'ensemble de la machine ; En raison de la forte capacité d'extension du PLC, il peut facilement étendre divers accessoires fonctionnels sans avoir besoin d'ajouter de circuits matériels supplémentaires. Détecteur du diffractomètre à rayons X TD-3500 Détecteur proportionnel (PC) ou détecteur à scintillation (SC). Instrument de mesure d'angle de haute précision pour diffractomètre à rayons X TD-3500 L'instrument de mesure d'angle de la série TD adopte une transmission à roulement importée de haute précision, et le contrôle du mouvement est assuré par un système d'asservissement vectoriel en boucle fermée de haute précision. Ce système intelligent comprend un microprocesseur RISC 32 bits et un codeur magnétique haute résolution, capables de corriger automatiquement les erreurs de position de mouvement extrêmement minimes, garantissant ainsi une précision et une exactitude élevées des résultats de mesure. La reproductibilité angulaire peut atteindre 0,0001 degré, et les angles de pas plus petits peuvent atteindre 0,0001 degré. Domaines d'application du diffractomètre à rayons X TD-3500 : Science des matériaux : utilisée pour étudier des informations clés telles que la structure cristalline, le comportement de transition de phase et la texture des matériaux. Analyse chimique : peut être utilisée pour l'analyse qualitative ou quantitative de composés organiques, inorganiques, polymères et d'autres substances. Géologie : aide les gens à comprendre la formation des gisements minéraux, l’évolution de la Terre et bien plus encore. Produits biopharmaceutiques : déterminer la structure cristalline des médicaments, optimiser les formulations de médicaments et améliorer l’efficacité des médicaments. Le diffractomètre à rayons X est un outil d'analyse puissant, largement utilisé dans de nombreux domaines. En mesurant avec précision l'angle et l'intensité de diffraction, il peut fournir des informations détaillées sur la structure cristalline et la composition des matériaux.

Le diffractomètre à rayons X haute résolution TD-3700 est un nouveau membre de la série TD. Il est équipé d'une variété de détecteurs hautes performances, tels que des détecteurs multiéléments unidimensionnels rapides, des détecteurs bidimensionnels et des détecteurs SDD. Il allie rapidité d'analyse, simplicité d'utilisation et sécurité d'utilisation. Son architecture matérielle modulaire et son logiciel personnalisé offrent une combinaison parfaite, réduisant considérablement le taux de défaillance, offrant d'excellentes performances anti-interférences et garantissant un fonctionnement stable et durable de l'alimentation haute tension. Le diffractomètre à rayons X haute résolution TD-3700 prend en charge non seulement la méthode de balayage des données par diffraction classique, mais également la méthode de balayage des données par transmission. La résolution du mode transmission est bien supérieure à celle du mode diffraction, ce qui est adapté à l'analyse structurale et à d'autres domaines. Le mode diffraction produit des signaux de diffraction puissants et est plus adapté à l'identification de phase en laboratoire. De plus, en mode transmission, l'échantillon de poudre peut être présent à l'état de traces, ce qui est adapté à l'acquisition de données lorsque la taille de l'échantillon est relativement petite et ne répond pas aux exigences de la méthode de diffraction pour la préparation de l'échantillon. Le détecteur matriciel exploite pleinement la technologie de comptage mixte de photons, sans bruit, avec une acquisition de données rapide et une vitesse plus de dix fois supérieure à celle des détecteurs à scintillation. Il offre une excellente résolution énergétique et permet d'éliminer efficacement les effets de fluorescence. Les détecteurs multicanaux offrent des temps de lecture plus rapides et un meilleur rapport signal/bruit. Un système de contrôle du détecteur avec déclenchement électronique et externe assure une synchronisation optimale. Le principe de fonctionnement du diffractomètre à rayons X haute résolution TD-3700 : En exploitant les fluctuations des rayons X lorsqu'ils sont irradiés sur un cristal, les atomes ou les ions du cristal agissent comme des centres de diffusion, diffusant les rayons X dans toutes les directions. Du fait de la régularité de l'arrangement atomique dans les cristaux, ces ondes diffusées interfèrent et se renforcent mutuellement dans certaines directions, formant ainsi la diffraction. La mesure de l'angle et de l'intensité de diffraction permet d'obtenir des informations structurelles sur le cristal. Les principales caractéristiques du diffractomètre à rayons X haute résolution TD-3700 sont : (1) Facile à utiliser, système de collecte en un clic ; (2) Conception modulaire, accessoires d'instruments plug and play, pas besoin d'étalonnage ; (3) Surveillance en ligne en temps réel à l'aide d'un écran tactile pour afficher l'état de l'instrument ; (4) Dispositif de verrouillage électronique de porte en plomb, double protection, garantissant la sécurité de l'utilisateur ; (5) Générateur de rayons X haute fréquence et haute tension, avec des performances stables et fiables ; (6) Unité de contrôle d'enregistrement avancée avec une forte capacité anti-interférence. La haute précision du diffractomètre à rayons X haute résolution TD-3700 permet une analyse de haute précision de la structure cristalline des matériaux, comme la détermination précise des constantes de réseau, des paramètres cellulaires, etc. La précision de mesure d'angle peut atteindre ± 0,0001°. La haute résolution du diffractomètre à rayons X haute résolution TD-3700 peut clairement distinguer les pics de diffraction adjacents, analyser avec précision les informations de diffraction de différents plans cristallins pour des structures cristallines complexes et révéler les caractéristiques de microstructure des matériaux. La nature non destructive du diffractomètre à rayons X haute résolution TD-3700 : il n'endommagera pas l'échantillon pendant le processus de test, et l'échantillon peut être conservé dans son état d'origine pour plusieurs tests, ce qui est particulièrement important pour les échantillons précieux ou difficiles à obtenir. Analyse rapide du diffractomètre à rayons X haute résolution TD-3700 : les diffractomètres à rayons X haute résolution modernes ont des capacités de détection rapides et peuvent effectuer des tests d'échantillons dans un court laps de temps, améliorant ainsi l'efficacité du travail. 3. Domaines d'application du diffractomètre à rayons X haute résolution TD-3700 : Matériaux semi-conducteurs : utilisés pour détecter la qualité cristalline des matériaux monocristallins semi-conducteurs et des films minces épitaxiaux, analyser les discordances de réseau, les défauts et d'autres informations, ce qui contribue à optimiser les performances des dispositifs semi-conducteurs. Matériaux supraconducteurs : étudier la structure cristalline et le processus de transition de phase des matériaux supraconducteurs pour fournir une base pour l'optimisation des propriétés supraconductrices. Nanomatériaux : l’analyse de la granulométrie, de la structure cristalline, de la déformation microscopique, etc. des nanomatériaux aide les chercheurs à mieux comprendre leurs propriétés et leurs applications. Autres domaines : Il est également largement utilisé dans la recherche et le contrôle qualité des matériaux métalliques, céramiques, polymères, biomatériaux et autres. Le diffractomètre à rayons X haute résolution est un instrument d'analyse de haute précision, haute résolution, non destructif et rapide, présentant une valeur d'application importante dans de nombreux domaines.

1. Fonction du diffractomètre monocristallin : Le diffractomètre monocristallin à rayons X TD-5000 est principalement utilisé pour déterminer la structure spatiale tridimensionnelle et la densité du nuage électronique des substances cristallines telles que les complexes inorganiques, organiques et métalliques, et pour analyser la structure de matériaux spéciaux tels que le maclage, les cristaux non commensurables, les quasi-cristaux, etc. Déterminez l'espace tridimensionnel précis (y compris la longueur de liaison, l'angle de liaison, la configuration, la conformation et même la densité électronique de liaison) de nouvelles molécules composées (cristallines) et la disposition réelle des molécules dans le réseau ; Le diffractomètre monocristallin à rayons X peut fournir des informations sur les paramètres de la cellule cristalline, le groupe spatial, la structure moléculaire cristalline, les liaisons hydrogène intermoléculaires et les interactions faibles, ainsi que des informations structurelles telles que la configuration et la conformation moléculaires. Le diffractomètre monocristallin à rayons X est largement utilisé dans la recherche analytique en cristallographie chimique, biologie moléculaire, pharmacologie, minéralogie et science des matériaux. Le diffractomètre monocristallin à rayons X est un produit de haute technologie financé par le ministère des Sciences et Technologies du Projet national de développement d'instruments et d'équipements scientifiques majeurs de Chine, dirigé par Dandong Tongda Technology Co., Ltd., comblant le vide dans le développement et la production de diffractomètres monocristallins en Chine. 2. Caractéristiques du diffractomètre monocristallin : L'ensemble de la machine adopte la technologie de contrôle du contrôleur logique programmable (PLC) ; Facile à utiliser, système de collecte en un clic ; Conception modulaire, accessoires plug and play, pas besoin d'étalonnage ; Surveillance en ligne en temps réel via écran tactile, affichage de l'état de l'instrument ; Générateur de rayons X haute puissance avec des performances stables et fiables ; Dispositif de verrouillage électronique de porte en plomb, double protection. 3. Précision du diffractomètre monocristallin : Précision de répétabilité de l'angle 2 θ : 0,0001 ° ; Angle de pas minimal : 0,0001 ° ; Plage de contrôle de température : 100 K-300 K ; Précision de contrôle : ± 0,3 K. 4. Instrument de mesure d'angle utilisé dans le diffractomètre monocristallin : L'utilisation de la technique des quatre cercles concentriques garantit que le centre de l'instrument de mesure d'angle reste inchangé, quelle que soit la rotation, ce qui permet d'obtenir des données extrêmement précises et complètes. La technique des quatre cercles concentriques est indispensable au balayage d'un diffractomètre monocristallin conventionnel. 5. Détecteur bidimensionnel à grande vitesse utilisé dans le diffractomètre monocristallin à rayons X : Le détecteur combine les technologies clés du comptage de photons uniques et de la technologie à pixels mixtes pour obtenir une qualité de données optimale tout en garantissant une faible consommation d'énergie et un refroidissement minimal. Il est utilisé dans divers domaines, tels que le rayonnement synchrotron et les sources lumineuses conventionnelles de laboratoire, éliminant efficacement les interférences dues au bruit de lecture et au courant d'obscurité. La technologie à pixels mixtes permet de détecter directement les rayons X, de faciliter la distinction du signal et de fournir des données de haute qualité. 6. Équipement à basse température utilisé dans le diffractomètre monocristallin à rayons X : Les données recueillies grâce à un équipement à basse température produisent des résultats plus optimaux. Grâce à cet équipement, des conditions plus favorables peuvent être créées pour permettre aux cristaux indésirables d'obtenir des résultats optimaux, et aux cristaux idéaux d'obtenir des résultats encore plus optimaux. Plage de contrôle de température : 100 K~300 K ; Précision de contrôle : ± 0,3 K ; Consommation d'azote liquide : 1,1~2 litres/heure ; 7. Accessoire optionnel, lentille de focalisation à film multicouche : Puissance du tube à rayons X : 30 W ou 50 W, etc. Divergence : 0,5 à 1 mrad ; Matériau cible du tube à rayons X : cible Mo/Cu ; point focal : 0,5 à 2 mm.

Le spectre de structure fine d'absorption des rayons X (XAFS) est un outil puissant pour étudier la structure atomique ou électronique locale des matériaux, largement utilisé dans des domaines populaires tels que la catalyse, l'énergie et la nanotechnologie. Le principe du spectre de structure fine d'absorption des rayons X (XAFS) : Le spectre d'absorption des rayons X à structure fine désigne les spectres haute résolution proches des limites caractéristiques des électrons du noyau atomique absorbant les rayons X. Lorsque l'énergie des rayons X est égale à l'énergie d'excitation des électrons de la couche interne de l'élément mesuré, ils sont fortement absorbés, ce qui entraîne une limite d'absorption (ou limite d'absorption). À proximité de cette limite, en raison de la diffusion multiple et d'autres facteurs, le coefficient d'absorption des rayons X présente des phénomènes oscillatoires, à savoir une structure fine. 2. Principaux avantages du spectre d'absorption des rayons X à structure fine (XAFS) : (1) Le produit de flux lumineux le plus élevé, avec un flux de photons dépassant 1 000 000 photons/seconde/eV, et une efficacité spectrale plusieurs fois supérieure à celle des autres produits ; Obtenir une qualité de données équivalente au rayonnement synchrotron (2) Excellente stabilité, la stabilité de l'intensité lumineuse monochromatique de la source lumineuse est meilleure que 0,1 % et la dérive énergétique répétée est inférieure à 50 meV (3) Une limite de détection de 1 %, un flux lumineux élevé, une excellente optimisation du chemin optique et une excellente stabilité de la source lumineuse garantissent que des données EXAFS de haute qualité peuvent toujours être obtenues lorsque la teneur en éléments mesurés est > 1 %. 3. Domaines d'application de XAFS : Catalyse industrielle, matériaux de stockage d'énergie, nanomatériaux, toxicologie environnementale, analyse qualitative, analyse d'éléments lourds, etc. 4. Principales caractéristiques de XAFS : (1) Ordre à courte portée : EXAFS dépend des interactions à courte portée et ne repose pas sur un ordre à longue portée. XAFS peut être utilisé pour étudier la structure de systèmes désordonnés tels que les centres actifs amorphes, liquides, fondus et catalytiques. (2) Spécificité de l'élément : La méthode de fluorescence permet de mesurer des échantillons d'éléments dont la concentration peut atteindre un millionième. En ajustant l'énergie incidente des rayons X, il est possible d'étudier les structures voisines des atomes de différents éléments d'un même composé. (3) Caractéristiques de polarisation : les rayons X polarisés peuvent être utilisés pour mesurer les angles de liaison atomique et les structures de surface dans des échantillons orientés. Le spectre de structure fine d'absorption des rayons X, avec ses principes uniques, ses caractéristiques importantes et ses vastes domaines d'application, est devenu un outil indispensable et important dans de nombreux domaines tels que la science des matériaux, la chimie catalytique et la recherche énergétique, offrant un soutien solide pour une exploration approfondie des microstructures des matériaux et des états électroniques.

Le porte-échantillon rotatif d'un diffractomètre à rayons X est un élément clé pour un réglage et une fixation précis de la position de l'échantillon. Ce dernier peut pivoter sur son propre plan, ce qui est avantageux pour les erreurs dues aux grains grossiers. Pour les échantillons texturés et cristallographiques, le porte-échantillon rotatif assure une bonne reproductibilité de l'intensité de diffraction et élimine l'orientation préférentielle. Principe de fonctionnement du porte-échantillon rotatif : Lorsque le diffractomètre à rayons X fonctionne, les rayons X de haute énergie générés par la source sont irradiés sur l'échantillon fixé sur la platine rotative. En raison de la structure cristalline et des paramètres de maille spécifiques de l'échantillon, les rayons X subissent des phénomènes de diffusion, d'absorption et de diffraction lors de leur interaction avec l'échantillon, phénomènes qui se produisent conformément à l'équation de Bragg. Le porte-échantillon rotatif peut pivoter à des angles plus petits selon le réglage, permettant ainsi à l'échantillon de recevoir des rayons X sous différents angles et d'obtenir ainsi des diagrammes de diffraction sous différents angles. Ainsi, le détecteur peut mesurer l'intensité des rayons X après diffraction de l'échantillon et la convertir en signal électrique transmis à l'ordinateur pour le traitement des données. La fonction principale du porte-échantillon rotatif est : Méthode de rotation : axe β (plan d'échantillonnage) Vitesse de rotation : 1 à 60 tr/min Petite largeur de pas : 0,1 º Mode de fonctionnement : Rotation à vitesse constante pour le balayage des échantillons (étape, continu) Avantages du porte-échantillon rotatif : Le porte-échantillon rotatif peut améliorer la précision des données de diffraction : pour les échantillons de poudre ou de particules de forme irrégulière, la caractéristique d'orientation préférentielle est susceptible de se produire lors de la préparation conventionnelle des échantillons de poudre, ce qui entraîne des écarts dans la distribution de l'intensité de diffraction et affecte la précision de l'analyse des résultats. La rotation du porte-échantillon permet de déplacer l'échantillon selon une certaine forme dans un espace approprié, éliminant ainsi dans une certaine mesure l'influence de l'orientation préférentielle et améliorant ainsi la précision des données de diffraction. Le porte-échantillon rotatif s'adapte à divers besoins d'essai : il peut s'adapter à différents types d'instruments de mesure d'angle par diffraction des rayons X, tels que les instruments de mesure d'angle vertical, les équipements de diffraction sur poudre compacts à faible consommation, etc., ce qui facilite la réalisation de divers essais. De plus, il peut s'adapter aux exigences de divers échantillons et conditions d'essai en ajustant des paramètres tels que la vitesse et la direction. Le porte-échantillon rotatif peut étendre les capacités d'analyse de l'instrument : de nouveaux types de platines d'échantillons rotatives sont constamment développés et appliqués, tels que certaines platines d'échantillons pour l'analyse par diffraction électrochimique des rayons X in situ, qui peuvent surveiller et analyser les changements de matériaux dans différents environnements ou conditions en temps réel, élargissant ainsi les capacités d'analyse des équipements de diffraction des rayons X. En résumé, le porte-échantillon rotatif dans le diffractomètre à rayons X est essentiel pour obtenir avec précision des informations sur la structure cristalline des substances. Le porte-échantillon rotatif peut non seulement améliorer la précision des données de diffraction, mais également s'adapter à divers besoins de test et étendre les capacités analytiques de l'instrument.