Le diffractomètre à rayons X TD-3500 est principalement utilisé pour l'analyse qualitative et quantitative de phase, l'analyse de la structure cristalline, l'analyse de la structure des matériaux, l'analyse de l'orientation cristalline, la détermination des contraintes macroscopiques et microscopiques, la granulométrie et la cristallinité, etc., sur des échantillons de poudre, de blocs ou de films. Fabriqué par Dandong Tongda Technology Co., Ltd., le diffractomètre à rayons X TD-3500 est doté d'un automate programmable Siemens importé. Il se caractérise par une grande précision, une excellente stabilité, une longue durée de vie, une mise à niveau aisée, une utilisation simple et une grande intelligence, et s'adapte avec souplesse aux analyses et à la recherche dans divers secteurs.   Le diffractomètre à rayons X TD-3500 est équipé d'un générateur de rayons X (générateur à semi-conducteurs haute fréquence et haute tension, générateur de fréquence de puissance en option). Il présente un haut degré d'automatisation, un taux de défaillance extrêmement faible, une forte capacité anti-interférence, une bonne stabilité du système et peut prolonger la durée de vie de l'ensemble de la machine. L'API et l'interface informatique contrôlent automatiquement l'ouverture et la fermeture de la porte lumineuse, la montée et la descente de la pression et du débit du tube, et permettent l'entraînement automatique des tubes à rayons X. L'état de l'instrument est surveillé en temps réel via un écran tactile. Le diffractomètre à rayons X TD-3500 est doté d'une unité de contrôle d'enregistrement avancée, d'un circuit de commande PLC et d'un écran tactile couleur pour une interaction homme-machine optimale. Le matériel du système adopte une conception modulaire, ce qui améliore considérablement sa résistance aux interférences et sa stabilité. Grâce à l'utilisation de circuits de commande PLC Siemens importés, hautement précis et automatisés, le système peut fonctionner de manière stable et durable, sans aucune défaillance. Le système de diffractomètre à rayons X TD-3500 présente les avantages suivants par rapport aux circuits de microcontrôleurs utilisés par d'autres sociétés : Contrôle de circuit simple, facile à déboguer et à installer ; Grâce à sa conception modulaire, la maintenance du système est très simple et les utilisateurs peuvent le réparer et le déboguer eux-mêmes sans avoir besoin de la présence des techniciens du fabricant ; Adoptant un écran tactile couleur véritable avancé pour réaliser une interaction homme-ordinateur, avec des fonctions de protection complètes et un fonctionnement très pratique, la conception d'animation hautement tridimensionnelle est plus humanisée, intuitive et pratique pour les opérateurs à utiliser et à juger les informations de défaut, etc. ; Améliorant considérablement la stabilité de comptage du système, améliorant ainsi la stabilité globale de l'ensemble de la machine ; En raison de la forte capacité d'extension du PLC, il peut facilement étendre divers accessoires fonctionnels sans avoir besoin d'ajouter de circuits matériels supplémentaires. Détecteur du diffractomètre à rayons X TD-3500 Détecteur proportionnel (PC) ou détecteur à scintillation (SC). Instrument de mesure d'angle de haute précision pour diffractomètre à rayons X TD-3500 L'instrument de mesure d'angle de la série TD adopte une transmission à roulement importée de haute précision, et le contrôle du mouvement est assuré par un système d'asservissement vectoriel en boucle fermée de haute précision. Ce système intelligent comprend un microprocesseur RISC 32 bits et un codeur magnétique haute résolution, capables de corriger automatiquement les erreurs de position de mouvement extrêmement minimes, garantissant ainsi une précision et une exactitude élevées des résultats de mesure. La reproductibilité angulaire peut atteindre 0,0001 degré, et les angles de pas plus petits peuvent atteindre 0,0001 degré. Domaines d'application du diffractomètre à rayons X TD-3500 : Science des matériaux : utilisée pour étudier des informations clés telles que la structure cristalline, le comportement de transition de phase et la texture des matériaux. Analyse chimique : peut être utilisée pour l'analyse qualitative ou quantitative de composés organiques, inorganiques, polymères et d'autres substances. Géologie : aide les gens à comprendre la formation des gisements minéraux, l’évolution de la Terre et bien plus encore. Produits biopharmaceutiques : déterminer la structure cristalline des médicaments, optimiser les formulations de médicaments et améliorer l’efficacité des médicaments. Le diffractomètre à rayons X est un outil d'analyse puissant, largement utilisé dans de nombreux domaines. En mesurant avec précision l'angle et l'intensité de diffraction, il peut fournir des informations détaillées sur la structure cristalline et la composition des matériaux.

Le diffractomètre à rayons X haute résolution TD-3700 est un nouveau membre de la série TD. Il est équipé d'une variété de détecteurs hautes performances, tels que des détecteurs multiéléments unidimensionnels rapides, des détecteurs bidimensionnels et des détecteurs SDD. Il allie rapidité d'analyse, simplicité d'utilisation et sécurité d'utilisation. Son architecture matérielle modulaire et son logiciel personnalisé offrent une combinaison parfaite, réduisant considérablement le taux de défaillance, offrant d'excellentes performances anti-interférences et garantissant un fonctionnement stable et durable de l'alimentation haute tension. Le diffractomètre à rayons X haute résolution TD-3700 prend en charge non seulement la méthode de balayage des données par diffraction classique, mais également la méthode de balayage des données par transmission. La résolution du mode transmission est bien supérieure à celle du mode diffraction, ce qui est adapté à l'analyse structurale et à d'autres domaines. Le mode diffraction produit des signaux de diffraction puissants et est plus adapté à l'identification de phase en laboratoire. De plus, en mode transmission, l'échantillon de poudre peut être présent à l'état de traces, ce qui est adapté à l'acquisition de données lorsque la taille de l'échantillon est relativement petite et ne répond pas aux exigences de la méthode de diffraction pour la préparation de l'échantillon. Le détecteur matriciel exploite pleinement la technologie de comptage mixte de photons, sans bruit, avec une acquisition de données rapide et une vitesse plus de dix fois supérieure à celle des détecteurs à scintillation. Il offre une excellente résolution énergétique et permet d'éliminer efficacement les effets de fluorescence. Les détecteurs multicanaux offrent des temps de lecture plus rapides et un meilleur rapport signal/bruit. Un système de contrôle du détecteur avec déclenchement électronique et externe assure une synchronisation optimale. Le principe de fonctionnement du diffractomètre à rayons X haute résolution TD-3700 : En exploitant les fluctuations des rayons X lorsqu'ils sont irradiés sur un cristal, les atomes ou les ions du cristal agissent comme des centres de diffusion, diffusant les rayons X dans toutes les directions. Du fait de la régularité de l'arrangement atomique dans les cristaux, ces ondes diffusées interfèrent et se renforcent mutuellement dans certaines directions, formant ainsi la diffraction. La mesure de l'angle et de l'intensité de diffraction permet d'obtenir des informations structurelles sur le cristal. Les principales caractéristiques du diffractomètre à rayons X haute résolution TD-3700 sont : (1) Facile à utiliser, système de collecte en un clic ; (2) Conception modulaire, accessoires d'instruments plug and play, pas besoin d'étalonnage ; (3) Surveillance en ligne en temps réel à l'aide d'un écran tactile pour afficher l'état de l'instrument ; (4) Dispositif de verrouillage électronique de porte en plomb, double protection, garantissant la sécurité de l'utilisateur ; (5) Générateur de rayons X haute fréquence et haute tension, avec des performances stables et fiables ; (6) Unité de contrôle d'enregistrement avancée avec une forte capacité anti-interférence. La haute précision du diffractomètre à rayons X haute résolution TD-3700 permet une analyse de haute précision de la structure cristalline des matériaux, comme la détermination précise des constantes de réseau, des paramètres cellulaires, etc. La précision de mesure d'angle peut atteindre ± 0,0001°. La haute résolution du diffractomètre à rayons X haute résolution TD-3700 peut clairement distinguer les pics de diffraction adjacents, analyser avec précision les informations de diffraction de différents plans cristallins pour des structures cristallines complexes et révéler les caractéristiques de microstructure des matériaux. La nature non destructive du diffractomètre à rayons X haute résolution TD-3700 : il n'endommagera pas l'échantillon pendant le processus de test, et l'échantillon peut être conservé dans son état d'origine pour plusieurs tests, ce qui est particulièrement important pour les échantillons précieux ou difficiles à obtenir. Analyse rapide du diffractomètre à rayons X haute résolution TD-3700 : les diffractomètres à rayons X haute résolution modernes ont des capacités de détection rapides et peuvent effectuer des tests d'échantillons dans un court laps de temps, améliorant ainsi l'efficacité du travail. 3. Domaines d'application du diffractomètre à rayons X haute résolution TD-3700 : Matériaux semi-conducteurs : utilisés pour détecter la qualité cristalline des matériaux monocristallins semi-conducteurs et des films minces épitaxiaux, analyser les discordances de réseau, les défauts et d'autres informations, ce qui contribue à optimiser les performances des dispositifs semi-conducteurs. Matériaux supraconducteurs : étudier la structure cristalline et le processus de transition de phase des matériaux supraconducteurs pour fournir une base pour l'optimisation des propriétés supraconductrices. Nanomatériaux : l’analyse de la granulométrie, de la structure cristalline, de la déformation microscopique, etc. des nanomatériaux aide les chercheurs à mieux comprendre leurs propriétés et leurs applications. Autres domaines : Il est également largement utilisé dans la recherche et le contrôle qualité des matériaux métalliques, céramiques, polymères, biomatériaux et autres. Le diffractomètre à rayons X haute résolution est un instrument d'analyse de haute précision, haute résolution, non destructif et rapide, présentant une valeur d'application importante dans de nombreux domaines.

1. Fonction du diffractomètre monocristallin : Le diffractomètre monocristallin à rayons X TD-5000 est principalement utilisé pour déterminer la structure spatiale tridimensionnelle et la densité du nuage électronique des substances cristallines telles que les complexes inorganiques, organiques et métalliques, et pour analyser la structure de matériaux spéciaux tels que le maclage, les cristaux non commensurables, les quasi-cristaux, etc. Déterminez l'espace tridimensionnel précis (y compris la longueur de liaison, l'angle de liaison, la configuration, la conformation et même la densité électronique de liaison) de nouvelles molécules composées (cristallines) et la disposition réelle des molécules dans le réseau ; Le diffractomètre monocristallin à rayons X peut fournir des informations sur les paramètres de la cellule cristalline, le groupe spatial, la structure moléculaire cristalline, les liaisons hydrogène intermoléculaires et les interactions faibles, ainsi que des informations structurelles telles que la configuration et la conformation moléculaires. Le diffractomètre monocristallin à rayons X est largement utilisé dans la recherche analytique en cristallographie chimique, biologie moléculaire, pharmacologie, minéralogie et science des matériaux. Le diffractomètre monocristallin à rayons X est un produit de haute technologie financé par le ministère des Sciences et Technologies du Projet national de développement d'instruments et d'équipements scientifiques majeurs de Chine, dirigé par Dandong Tongda Technology Co., Ltd., comblant le vide dans le développement et la production de diffractomètres monocristallins en Chine. 2. Caractéristiques du diffractomètre monocristallin : L'ensemble de la machine adopte la technologie de contrôle du contrôleur logique programmable (PLC) ; Facile à utiliser, système de collecte en un clic ; Conception modulaire, accessoires plug and play, pas besoin d'étalonnage ; Surveillance en ligne en temps réel via écran tactile, affichage de l'état de l'instrument ; Générateur de rayons X haute puissance avec des performances stables et fiables ; Dispositif de verrouillage électronique de porte en plomb, double protection. 3. Précision du diffractomètre monocristallin : Précision de répétabilité de l'angle 2 θ : 0,0001 ° ; Angle de pas minimal : 0,0001 ° ; Plage de contrôle de température : 100 K-300 K ; Précision de contrôle : ± 0,3 K. 4. Instrument de mesure d'angle utilisé dans le diffractomètre monocristallin : L'utilisation de la technique des quatre cercles concentriques garantit que le centre de l'instrument de mesure d'angle reste inchangé, quelle que soit la rotation, ce qui permet d'obtenir des données extrêmement précises et complètes. La technique des quatre cercles concentriques est indispensable au balayage d'un diffractomètre monocristallin conventionnel. 5. Détecteur bidimensionnel à grande vitesse utilisé dans le diffractomètre monocristallin à rayons X : Le détecteur combine les technologies clés du comptage de photons uniques et de la technologie à pixels mixtes pour obtenir une qualité de données optimale tout en garantissant une faible consommation d'énergie et un refroidissement minimal. Il est utilisé dans divers domaines, tels que le rayonnement synchrotron et les sources lumineuses conventionnelles de laboratoire, éliminant efficacement les interférences dues au bruit de lecture et au courant d'obscurité. La technologie à pixels mixtes permet de détecter directement les rayons X, de faciliter la distinction du signal et de fournir des données de haute qualité. 6. Équipement à basse température utilisé dans le diffractomètre monocristallin à rayons X : Les données recueillies grâce à un équipement à basse température produisent des résultats plus optimaux. Grâce à cet équipement, des conditions plus favorables peuvent être créées pour permettre aux cristaux indésirables d'obtenir des résultats optimaux, et aux cristaux idéaux d'obtenir des résultats encore plus optimaux. Plage de contrôle de température : 100 K~300 K ; Précision de contrôle : ± 0,3 K ; Consommation d'azote liquide : 1,1~2 litres/heure ; 7. Accessoire optionnel, lentille de focalisation à film multicouche : Puissance du tube à rayons X : 30 W ou 50 W, etc. Divergence : 0,5 à 1 mrad ; Matériau cible du tube à rayons X : cible Mo/Cu ; point focal : 0,5 à 2 mm.

Le spectre de structure fine d'absorption des rayons X (XAFS) est un outil puissant pour étudier la structure atomique ou électronique locale des matériaux, largement utilisé dans des domaines populaires tels que la catalyse, l'énergie et la nanotechnologie. Le principe du spectre de structure fine d'absorption des rayons X (XAFS) : Le spectre d'absorption des rayons X à structure fine désigne les spectres haute résolution proches des limites caractéristiques des électrons du noyau atomique absorbant les rayons X. Lorsque l'énergie des rayons X est égale à l'énergie d'excitation des électrons de la couche interne de l'élément mesuré, ils sont fortement absorbés, ce qui entraîne une limite d'absorption (ou limite d'absorption). À proximité de cette limite, en raison de la diffusion multiple et d'autres facteurs, le coefficient d'absorption des rayons X présente des phénomènes oscillatoires, à savoir une structure fine. 2. Principaux avantages du spectre d'absorption des rayons X à structure fine (XAFS) : (1) Le produit de flux lumineux le plus élevé, avec un flux de photons dépassant 1 000 000 photons/seconde/eV, et une efficacité spectrale plusieurs fois supérieure à celle des autres produits ; Obtenir une qualité de données équivalente au rayonnement synchrotron (2) Excellente stabilité, la stabilité de l'intensité lumineuse monochromatique de la source lumineuse est meilleure que 0,1 % et la dérive énergétique répétée est inférieure à 50 meV (3) Une limite de détection de 1 %, un flux lumineux élevé, une excellente optimisation du chemin optique et une excellente stabilité de la source lumineuse garantissent que des données EXAFS de haute qualité peuvent toujours être obtenues lorsque la teneur en éléments mesurés est > 1 %. 3. Domaines d'application de XAFS : Catalyse industrielle, matériaux de stockage d'énergie, nanomatériaux, toxicologie environnementale, analyse qualitative, analyse d'éléments lourds, etc. 4. Principales caractéristiques de XAFS : (1) Ordre à courte portée : EXAFS dépend des interactions à courte portée et ne repose pas sur un ordre à longue portée. XAFS peut être utilisé pour étudier la structure de systèmes désordonnés tels que les centres actifs amorphes, liquides, fondus et catalytiques. (2) Spécificité de l'élément : La méthode de fluorescence permet de mesurer des échantillons d'éléments dont la concentration peut atteindre un millionième. En ajustant l'énergie incidente des rayons X, il est possible d'étudier les structures voisines des atomes de différents éléments d'un même composé. (3) Caractéristiques de polarisation : les rayons X polarisés peuvent être utilisés pour mesurer les angles de liaison atomique et les structures de surface dans des échantillons orientés. Le spectre de structure fine d'absorption des rayons X, avec ses principes uniques, ses caractéristiques importantes et ses vastes domaines d'application, est devenu un outil indispensable et important dans de nombreux domaines tels que la science des matériaux, la chimie catalytique et la recherche énergétique, offrant un soutien solide pour une exploration approfondie des microstructures des matériaux et des états électroniques.

Le porte-échantillon rotatif d'un diffractomètre à rayons X est un élément clé pour un réglage et une fixation précis de la position de l'échantillon. Ce dernier peut pivoter sur son propre plan, ce qui est avantageux pour les erreurs dues aux grains grossiers. Pour les échantillons texturés et cristallographiques, le porte-échantillon rotatif assure une bonne reproductibilité de l'intensité de diffraction et élimine l'orientation préférentielle. Principe de fonctionnement du porte-échantillon rotatif : Lorsque le diffractomètre à rayons X fonctionne, les rayons X de haute énergie générés par la source sont irradiés sur l'échantillon fixé sur la platine rotative. En raison de la structure cristalline et des paramètres de maille spécifiques de l'échantillon, les rayons X subissent des phénomènes de diffusion, d'absorption et de diffraction lors de leur interaction avec l'échantillon, phénomènes qui se produisent conformément à l'équation de Bragg. Le porte-échantillon rotatif peut pivoter à des angles plus petits selon le réglage, permettant ainsi à l'échantillon de recevoir des rayons X sous différents angles et d'obtenir ainsi des diagrammes de diffraction sous différents angles. Ainsi, le détecteur peut mesurer l'intensité des rayons X après diffraction de l'échantillon et la convertir en signal électrique transmis à l'ordinateur pour le traitement des données. La fonction principale du porte-échantillon rotatif est : Méthode de rotation : axe β (plan d'échantillonnage) Vitesse de rotation : 1 à 60 tr/min Petite largeur de pas : 0,1 º Mode de fonctionnement : Rotation à vitesse constante pour le balayage des échantillons (étape, continu) Avantages du porte-échantillon rotatif : Le porte-échantillon rotatif peut améliorer la précision des données de diffraction : pour les échantillons de poudre ou de particules de forme irrégulière, la caractéristique d'orientation préférentielle est susceptible de se produire lors de la préparation conventionnelle des échantillons de poudre, ce qui entraîne des écarts dans la distribution de l'intensité de diffraction et affecte la précision de l'analyse des résultats. La rotation du porte-échantillon permet de déplacer l'échantillon selon une certaine forme dans un espace approprié, éliminant ainsi dans une certaine mesure l'influence de l'orientation préférentielle et améliorant ainsi la précision des données de diffraction. Le porte-échantillon rotatif s'adapte à divers besoins d'essai : il peut s'adapter à différents types d'instruments de mesure d'angle par diffraction des rayons X, tels que les instruments de mesure d'angle vertical, les équipements de diffraction sur poudre compacts à faible consommation, etc., ce qui facilite la réalisation de divers essais. De plus, il peut s'adapter aux exigences de divers échantillons et conditions d'essai en ajustant des paramètres tels que la vitesse et la direction. Le porte-échantillon rotatif peut étendre les capacités d'analyse de l'instrument : de nouveaux types de platines d'échantillons rotatives sont constamment développés et appliqués, tels que certaines platines d'échantillons pour l'analyse par diffraction électrochimique des rayons X in situ, qui peuvent surveiller et analyser les changements de matériaux dans différents environnements ou conditions en temps réel, élargissant ainsi les capacités d'analyse des équipements de diffraction des rayons X. En résumé, le porte-échantillon rotatif dans le diffractomètre à rayons X est essentiel pour obtenir avec précision des informations sur la structure cristalline des substances. Le porte-échantillon rotatif peut non seulement améliorer la précision des données de diffraction, mais également s'adapter à divers besoins de test et étendre les capacités analytiques de l'instrument.

Dans le diffractomètre à rayons X, les accessoires de mesure intégrés multifonctions sont essentiels pour améliorer considérablement la fonctionnalité et la flexibilité de l'instrument. Utilisés pour l'analyse des films sur cartes, blocs et substrats, ils permettent d'effectuer des tests tels que la détection de phase cristalline, l'orientation, la texture, la contrainte et la structure plane des films minces. Aperçu de base des accessoires de mesure intégrés multifonctionnels : Définition : Il s'agit d'un terme général désignant une série de dispositifs ou de modules supplémentaires utilisés dans un diffractomètre à rayons X pour étendre les fonctions de l'instrument, améliorer la précision et l'efficacité des mesures. Objectif : Ces accessoires visent à permettre au diffractomètre à rayons X de répondre à une plus large gamme de besoins expérimentaux et de fournir des informations plus complètes et plus précises sur la structure des matériaux. Les caractéristiques fonctionnelles des accessoires de mesure intégrés multifonctionnels : Effectuer des tests de diagramme polaire en utilisant des méthodes de transmission ou de réflexion ; Les tests de résistance peuvent être effectués soit en utilisant la méthode d’inclinaison parallèle, soit en utilisant la même méthode d’inclinaison ; Test de couche mince (rotation dans le plan de l'échantillon). Caractéristiques techniques des accessoires de mesure intégrés multifonctionnels : Haute précision : ils utilisent généralement une technologie de détection et des systèmes de contrôle avancés pour garantir une haute précision et une répétabilité des mesures. Automatisation : de nombreux accessoires prennent en charge les opérations automatisées et peuvent être intégrés de manière transparente à l'hôte du diffractomètre à rayons X pour réaliser une mesure en un clic. Conception modulaire : permet aux utilisateurs de sélectionner et de combiner différents modules d'accessoires en fonction de leurs besoins réels. Domaines d'application des accessoires de mesure intégrés multifonctionnels : Largement utilisé dans des domaines tels que la science des matériaux, la physique, la chimie, la biologie et la géologie ; Évaluation des structures d'assemblage métalliques telles que les plaques laminées ; Evaluation de l'orientation de la céramique ; Évaluation de l'orientation prioritaire des cristaux dans des échantillons de films minces ; Essais de contraintes résiduelles de divers matériaux métalliques et céramiques (évaluation de la résistance à l'usure, de la résistance à la coupe, etc.) ; Essais de contraintes résiduelles de films multicouches (évaluation du décollement du film, etc.) ; Analyse de l'oxydation de surface et des films de nitrure sur des matériaux supraconducteurs à haute température tels que des films minces et des plaques métalliques ; Verre Si, Analyse de films multicouches sur substrats métalliques (films minces magnétiques, films durcissants de surface métalliques, etc.) ; Analyse de matériaux de galvanoplastie tels que les matériaux macromoléculaires, le papier et les lentilles. Les accessoires de mesure multifonctionnels intégrés au diffractomètre à rayons X sont essentiels pour améliorer les performances de l'instrument. Ils optimisent non seulement les fonctionnalités de l'instrument, mais aussi la précision et l'efficacité des mesures, offrant aux chercheurs des méthodes d'analyse des matériaux plus complètes et plus approfondies. Grâce aux progrès technologiques constants, ces accessoires continueront de jouer un rôle important dans la promotion de la recherche scientifique dans des domaines connexes et permettront de nouvelles avancées.

L'irradiateur à rayons X génère des rayons X à haute énergie pour irradier des objets cibles ou des tissus biologiques. La génération de rayons X est généralement obtenue en accélérant des électrons pour entrer en collision avec des cibles métalliques (telles que le tungstène, le cuivre, etc.), générant un rayonnement de freinage et formant des faisceaux de rayons X, qui irradient ensuite des cellules ou de petits animaux. L'irradiateur à rayons X est utilisé pour diverses recherches fondamentales et appliquées. Historiquement, des irradiateurs à isotopes radioactifs étaient utilisés, ce qui nécessitait le transport d'échantillons vers une installation d'irradiation centrale. Cependant, aujourd'hui, des irradiateurs à rayons X plus petits, plus sûrs, plus simples et moins coûteux peuvent être installés dans les laboratoires pour une irradiation pratique et rapide des cellules. Divers échantillons peuvent être irradiés directement en laboratoire sans affecter la fertilité ou la sécurité. L'irradiateur à rayons X est pratique pour le personnel qui n'a pas reçu de formation professionnelle en rayons X, et il n'y a pas de demandes de licence coûteuses ni de coûts de sécurité ou de maintenance de la source de rayonnement. L'irradiateur à rayons X est facile à utiliser, sûr, fiable et rentable et peut remplacer les sources d'isotopes radioactifs. 1. Les principaux domaines d'application de l'irradiateur à rayons X comprennent le domaine médical, le domaine de la recherche scientifique, etc. 2. Précautions de sécurité pour les équipements d’irradiation aux rayons X : Radioprotection : les opérateurs doivent porter des vêtements de protection pour éviter une exposition prolongée aux rayons X. Entretien de l’équipement : Inspecter régulièrement l’équipement pour assurer son fonctionnement normal et éviter les fuites de rayonnement. Contrôle de la dose : Contrôlez strictement la dose d’irradiation pour éviter tout dommage inutile à l’échantillon ou au corps humain.

Le principe et l'application de la machine d'essai de soudage à rayons X portable NDT : La machine d'essai de soudage à rayons X portable CND utilise les propriétés acoustiques, optiques, magnétiques et électriques des matériaux pour détecter la présence de défauts ou d'irrégularités dans l'objet testé sans endommager ou affecter ses performances. Il fournit des informations sur la taille, l'emplacement, la nature et la quantité des défauts. Par rapport aux tests destructifs, les tests non destructifs présentent les caractéristiques suivantes. La première est non destructive, car elle ne compromet pas les performances de l'objet détecté pendant le test ; La deuxième est complète, car la détection est non destructrice, il est nécessaire d'effectuer une détection complète à 100 % de l'objet testé, ce qui ne peut être réalisé par une détection destructive ; La troisième est complète, et les tests destructifs ne s'appliquent généralement qu'aux tests de matières premières, telles que la tension, la compression, la flexion, etc. couramment utilisées en génie mécanique. Les tests destructifs sont effectués sur les matières premières de fabrication, et pour les produits finis et les articles en cours d'utilisation, les tests destructifs ne peuvent être effectués que s'ils ne sont pas destinés à continuer à servir. Les tests non destructifs, en revanche, n'endommagent pas les performances de l'objet testé. Ainsi, il peut non seulement effectuer des tests de processus complets sur les matières premières de fabrication, les processus intermédiaires et même les produits finis, mais également tester les équipements en service. Caractéristiques de la machine d'essai de soudage à rayons X portable NDT : Le générateur de rayons X a un petit volume, avec une anode mise à la terre et un refroidissement forcé par un ventilateur ; ◆ Léger, facile à transporter et simple à utiliser ; Travail et repos dans un rapport 1:1 ; Belle apparence et structure raisonnable; ◆ Exposition différée pour assurer la sécurité de l’opérateur ; L'objectif principal de la machine d'essai de soudage à rayons X portable NDT : L'objectif principal de l'équipement est d'inspecter la qualité du traitement et du soudage des matériaux et des composants tels que les coques de navires, les pipelines, les récipients à haute pression, les chaudières, les avions, les véhicules et les ponts dans les secteurs industriels tels que la défense nationale, la construction navale, le pétrole, la chimie, la mécanique, l'aérospatiale et la construction, ainsi que les défauts internes et la qualité inhérente de divers métaux légers, caoutchouc, céramique, etc.

L'orienteur à cristal à rayons X fonctionne sur le principe de la diffraction des rayons X. La haute tension générée par le transformateur haute tension agit sur le tube à rayons X, produisant des rayons X. Lorsque les rayons X sont irradiés sur l'échantillon, la diffraction se produit lorsque la condition de diffraction de Bragg (n λ=2dsin θ) est satisfaite. Parmi eux, λ est la longueur d'onde des rayons X, d est l'espacement entre les plans atomiques à l'intérieur du cristal et θ est l'angle entre les rayons X incidents et le plan du cristal. La ligne de diffraction est reçue par le tube de comptage et affichée sur le microampèremètre de l'amplificateur. Lors de l'utilisation d'un monochromateur, la ligne de diffraction est monochromatisée puis reçue par le compteur et affichée sur le microampèremètre de l'amplificateur, améliorant ainsi la précision de la mesure. L'orienteur de cristal à rayons X peut déterminer avec précision et rapidité l'angle de coupe des monocristaux naturels et artificiels (cristaux piézoélectriques, cristaux optiques, cristaux laser, cristaux semi-conducteurs) et est équipé d'une machine de découpe pour la découpe directionnelle des cristaux mentionnés ci-dessus. L'orienteur de cristal à rayons X est un instrument indispensable pour l'usinage de précision et la fabrication de dispositifs à cristal. L'orienteur de cristal à rayons X est largement utilisé dans les industries de recherche, de traitement et de fabrication de matériaux cristallins. L'orienteur à cristal à rayons X est facile à utiliser, ne nécessite pas de connaissances professionnelles ni de techniques spécialisées, affiche l'angle numériquement, est facile à observer et réduit les erreurs de lecture. L'affichage de l'instrument d'orientation à cristal à rayons X peut être mis à zéro à n'importe quelle position, ce qui facilite l'affichage de la valeur d'écart de l'angle de la puce. L'instrument de mesure d'angle double peut fonctionner simultanément, améliorant ainsi l'efficacité. L'orienteur à cristal à rayons X dispose d'un intégrateur spécial avec amplification de crête, ce qui améliore la précision de détection. L'intégration du tube à rayons X et du câble haute tension augmente la fiabilité de la haute tension. Le détecteur haute tension adopte un module haute tension CC et une carte d'échantillon à aspiration sous vide, ce qui améliore la précision et la vitesse de mesure de l'angle. Dans l’ensemble, l’orienteur de cristaux à rayons X est un instrument de précision basé sur le principe de la diffraction des rayons X, qui fournit un support technique important pour la recherche sur les matériaux cristallins et les applications associées en mesurant avec précision l’angle de coupe des cristaux.

Le diffractomètre à rayons X de table TDM-20 utilise un nouveau détecteur matriciel haute performance, et le chargement de ce détecteur a considérablement amélioré les performances globales de la machine. Le XRD de table TDM-20 est principalement utilisé pour l'analyse de phase des poudres, des solides et des matériaux similaires de type pâte. Le diffractomètre à rayons X de table TDM-20 utilise le principe de la diffraction des rayons X pour effectuer des analyses qualitatives ou quantitatives, des analyses de structure cristalline et d'autres matériaux polycristallins tels que des échantillons de poudre et des échantillons de métal. Le XRD de table est largement utilisé dans des secteurs tels que l'industrie, l'agriculture, la défense nationale, les produits pharmaceutiques, les minéraux, la sécurité alimentaire, le pétrole, l'éducation et la recherche scientifique.

Le diffractomètre à rayons X haute résolution TD-3700 est équipé d'une variété de détecteurs hautes performances tels que des détecteurs à réseau unidimensionnel à grande vitesse, des détecteurs bidimensionnels, des détecteurs SDD, etc. Le diffractomètre à rayons X TD-3700 intègre une analyse rapide, un fonctionnement pratique et la sécurité de l'utilisateur. L'architecture matérielle modulaire et le système logiciel personnalisé permettent d'obtenir une combinaison parfaite, ce qui rend son taux de défaillance extrêmement faible, ses performances anti-interférences bonnes et garantit un fonctionnement stable à long terme de l'alimentation haute tension. Le diffractomètre à rayons X TD-3700 peut augmenter l'intensité du calcul de diffraction de plusieurs dizaines de fois ou plus, obtenir des motifs de diffraction complets à haute sensibilité et haute résolution et une intensité de comptage plus élevée dans une période d'échantillonnage plus courte, et prend également en charge la numérisation des données de transmission. La résolution du mode de transmission est bien supérieure à celle du mode de diffraction, ce qui convient à l'analyse structurelle et à d'autres domaines. Le mode de diffraction a des signaux de diffraction puissants et est plus adapté à l'identification de phase de routine en laboratoire.

Les accessoires en fibre sont testés pour leur structure cristalline unique à l'aide de la méthode de diffraction des rayons X (transmission). Testez l'orientation de l'échantillon en fonction de données telles que la texture de la fibre et la largeur à mi-pic.