Le spectromètre à structure fine d'absorption des rayons X est un outil puissant pour étudier la structure atomique ou électronique locale des matériaux, largement utilisé dans des domaines populaires tels que la catalyse, l'énergie et la nanotechnologie. Principaux avantages de XAFS : Produit à flux lumineux le plus élevé : Flux de photons dépassant 1 000 000 photons/seconde/eV, avec une efficacité spectrale plusieurs fois supérieure à celle des autres produits ; Obtenir une qualité de données équivalente au rayonnement synchrotron Excellente stabilité : La stabilité de l'intensité lumineuse monochromatique de la source lumineuse est supérieure à 0,1 % et la dérive énergétique lors de la collecte répétée est inférieure à 50 meV Limite de détection de 1 % : High luminous flux, excellent optical path optimization, and excellent light source stability ensure high-quality EXAFS data is obtained even when the measured element content is>1%.

Utilisation de la méthode de diffraction (transmission) des rayons X pour tester la structure cristalline unique des fibres. Testez l’orientation de l’échantillon en fonction de données telles que la texture des fibres et la largeur du demi-pic.

Les données collectées grâce à des équipements à basse température donnent des résultats plus idéaux. À l'aide d'un équipement à basse température, des conditions plus avantageuses peuvent être fournies, permettant aux cristaux indésirables d'obtenir des résultats idéaux, ainsi qu'aux cristaux idéaux d'obtenir des résultats plus idéaux.

Structure θ - θ, l'échantillon reste stationnaire tandis que la source de rayonnement et le détecteur tournent ; Adopter une transmission à roulement de haute précision importée, avec une bonne stabilité ; Contrôle du système d'asservissement vectoriel en boucle fermée de haute précision, Contient un microprocesseur RISC 32 bits et un encodeur magnétique haute résolution pour la correction automatique des erreurs ;

La structure cristalline des films de pérovskite modifiés par le liquide ionique (IL) BMIMAc sous différentes durées de recuit a été caractérisée par diffraction des rayons X.

L'analyse des matériaux des batteries permet de comprendre et d'optimiser les performances des batteries, d'améliorer leur sécurité et leur durée de vie, de réduire les coûts et de promouvoir le développement et l'application de nouveaux matériaux.

La spectroscopie d'absorption des rayons X est une technique spectrale permettant d'analyser la composition élémentaire et les états électroniques des matériaux en utilisant les changements de signal avant et après l'incident des rayons X du rayonnement synchrotron.

XAFS, en tant que technique de caractérisation avancée pour l'analyse de la structure locale des matériaux, peut fournir des informations de coordination de structure atomique plus précises dans la plage des structures à courte portée que la diffraction cristalline des rayons X.

Matériau dont les propriétés sont dominées par des effets bidimensionnels, les propriétés du matériau à une échelle bidimensionnelle sont différentes de ses propriétés à plus grande échelle.

Récemment, une nouvelle étude a réussi à fusionner des oxydes métalliques avec de la zéolite A et a révélé le mystère de ce processus grâce aux technologies XRD et FTIR.

La structure fine d'absorption des rayons X (XAFS) est un outil puissant pour étudier la structure atomique ou électronique locale des matériaux basée sur une source de lumière à rayonnement synchrotron.