Leaccessoire de diffraction à petit angleest un composant spécialisé utilisé dans les instruments de diffraction des rayons X, principalement pour l'analyse de la structure et de l'épaisseur des matériaux nanométriques.

1. Fonctions principales deaccessoires de diffraction à petit angle

(1) Plage d'angles de diffraction : couvrant une petite plage d'angles de 0° à 5°, adaptée à l'analyse de diffraction des matériaux nanométriques.

(2) Application principale : Il peut tester avec précision l'épaisseur des films multicouches nano et soutenir l'étude de la structure de surface ou d'interface des matériaux.

2. Appareils compatibles pouraccessoires de diffraction à petit angle

Cet accessoire est généralement utilisé en conjonction avec des diffractomètres à rayons X (tels que TD-3500, TD-3700, TDM-20, etc.).

3. Scénarios d'application deaccessoires de diffraction à petit angle

(1) Science des matériaux : Caractérisation des structures de nanofilms et de films multicouches.

(2) Chimie et génie chimique : Traitement de surface des matériaux, essais d'épaisseur de revêtement.

(3) Autres domaines : Analyse à l'échelle nanométrique de matériaux tels que la géologie, les minéraux, les céramiques et les produits pharmaceutiques.

Dandong Tongda Technology Co., Ltd.L'entreprise est un fabricant majeur d'accessoires de ce type. Ses instruments d'analyse de la série TD sont reconnus pour leur conformité aux normes internationales et exportés notamment vers les États-Unis et l'Azerbaïdjan. Son dispositif de diffraction aux petits angles est spécialement conçu pour une intégration parfaite avec les diffractomètres à rayons X de la série TD, développés en interne. Outil essentiel pour l'analyse des nanomatériaux et la mesure de l'épaisseur des couches minces, cet accessoire doit être utilisé avec des instruments de diffraction des rayons X spécialisés. Ses applications se concentrent dans des domaines de pointe tels que la science des matériaux et le génie chimique. Techniquement, il fonctionne selon le principe fondamental de la diffraction des rayons X et intègre une technologie avancée d'automate programmable (PLC) importée, ainsi qu'une conception modulaire héritée des instruments de la série TD. Cette approche technique améliore considérablement l'automatisation, la stabilité de fonctionnement et la résistance aux interférences de l'équipement. Grâce à cet accessoire, le champ d'application des diffractomètres à rayons X peut être efficacement étendu pour englober la caractérisation microstructurale de divers matériaux avancés, notamment les films minces, les matériaux polymères et les nanomatériaux, fournissant un soutien technique essentiel à la recherche sur les nanomatériaux dans les secteurs scientifiques et industriels.