Un diffractomètre à rayons X est un instrument utilisé pour mesurer les contraintes résiduelles à l'intérieur d'un matériau. En analysant lesradiographiediagramme de diffraction du matériau, la répartition des contraintes résiduelles à l'intérieur du matériau est calculée.
Comment préparer les échantillons :
1. Préparation de l'échantillon : coupez l'échantillon à tester à la taille et à la forme appropriées et polissez la surface jusqu'à ce qu'elle soit lisse.
2. Sélection de la source de rayons X : sélectionnez la source appropriéeSource de rayons Xselon la composition et les exigences de l'échantillon.
3. Mesure de l'angle de diffraction :Diffractomètre à rayons Xest utilisé pour mesurer l’intensité de diffraction de l’échantillon sous différents angles.
4. Traitement des données : D'après l'équation de Bragg etdiffractionles données d'intensité, la constante de réseau et la taille des grains de l'échantillon sont calculées.
5. Calcul des contraintes résiduelles : en fonction du changement de constante de réseau et de la taille des grains, combiné aux propriétés des matériaux et de la technologie de traitement, calculez la répartition des contraintes résiduelles à l'intérieur de l'échantillon.
Caractéristiques:
2. Haute précision
3. Large gamme d'applications
4. Prenez des mesures rapides
5. Facile à utiliser