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    Diffraction des rayons X sur monocristal
    1. La machine à monocristal adopte la technologie de contrôle PLC. 2. Conception modulaire, accessoires plug and play. 3. Équipement de verrouillage électronique de porte d'entrée avec double protection. 4. Tube à rayons X monocristallin : une variété de cibles peuvent être sélectionnées, telles que Cu, Mo, etc. 5. Le monocristal adopte une technologie concentrique à quatre cercles pour garantir que le centre du goniomètre ne reste pas inchangé.
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    1. La précision du diffractomètre est élevée. 2. Le champ d'application du diffractomètre est vaste. 3. Le diffractomètre est facile à utiliser, pratique et efficace.
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    1. L'appareil à rayons X est facile à utiliser et rapide à détecter. 2. L'appareil à rayons X est précis et fiable, avec d'excellentes performances. 3. L'appareil à rayons X possède divers accessoires fonctionnels pour répondre aux besoins des différents objectifs de test.
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Analyseur de contraintes résiduelles par diffraction des rayons X

  • Tongda
  • Liaoning, Chine
  • 1 à 2 mois
  • 100 unités par an
Analyseur de contraintes résiduelles TD-RSD XRD Précision de ±7 MPa, innovation à double détecteur, fonctionnement entièrement automatisé et logiciel performant. Optimisez vos processus et améliorez la fiabilité de vos produits. Solution compacte, efficace et de pointe.

Présentation du produit

L'analyseur de contraintes résiduelles par diffraction des rayons X TD-RSD utilise un générateur de rayons X haute puissance de 3 kW associé à un détecteur de surface à comptage de photons de pointe, garantissant des données de mesure fiables même dans des conditions de travail complexes. L'instrument présente d'excellentes performances lors des essais sur poudre de fer sans contrainte, avec un écart type de contrainte strictement maîtrisé à ±7 MPa sur cinq mesures consécutives.

x-ray diffractometer

Paramètres techniques :

Dimensions générales : 1300 × 1200 × 1880 mm

Configuration d'alimentation : 3 kW

Précision de mesure : ±7 MPa

Configuration du détecteur : Détecteurs de surface à double comptage de photons

Système de contrôle : Entièrement automatisécontrôle informatique ted

Configuration standard

Conception innovante de la géométrie de diffraction
L'instrument est doté d'un système unique à double détecteur, prenant en charge :

Méthode à double détecteur ψ (Psi) : Optimise les procédures conventionnelles de mesure des contraintes.

Méthode Ω (Omega) à double détecteur : Traite les échantillons présentant des formes géométriques complexes.

Technique d'oscillation : Améliore considérablement la précision des mesures d'intensité de diffraction.

Plateforme de contrôle de mouvement de précision
Au cœur de l'instrument se trouve un mécanisme de précision permettant d'ajuster l'angle et la verticalité du faisceau de rayons X. Ceci garantit une relation géométrique idéale entre le faisceau et la surface de l'échantillon en permanence. Associé à un système goniométrique entièrement informatisé, il permet aux utilisateurs de basculer facilement entre les méthodes ψ et Ω et d'appliquer simultanément la fonction d'oscillation, offrant ainsi une grande flexibilité dans les modes de mesure.

Système intelligent de positionnement des échantillons

Système de mise au point manuelle/automatique : Équipé d'un dispositif de positionnement laser de haute précision.

Platine d'échantillonnage à trois axes : Capable de tracer des cartes de contours de contrainte et de calculer l'amplitude et la direction des contraintes principales.

Interface de fonctionnement visuel: Permet une surveillance en temps réel de la position de l'échantillon et de l'état de la mesure.

 Spécifications des composants principaux

Tube à rayons X haute performance
Cet instrument utilise un tube à rayons X en céramique à foyer fin doté d'un système de refroidissement intégré à circulation autonome et étanche, garantissant ainsi un fonctionnement continu 24 h/24 et 7 j/7. Le système intègre une protection automatique contre la surchauffe pour une sécurité renforcée. Un large choix de matériaux cibles, notamment le chrome (Cr), le cuivre (Cu), le manganèse (Mn), le cobalt (Co), le vanadium (V), le titane (Ti), le fer (Fe) et le molybdène (Mo), est disponible pour répondre aux besoins d'analyse de différents matériaux.

X-ray Diffraction Residual Stress Analyzer

Système de détection avancé
Doté de deux détecteurs de photons à comptage de surface haute vitesse disposés symétriquement, cet appareil affiche un taux de comptage total supérieur à 1 × 10⁹ coups par seconde (cps), évitant ainsi la saturation technique courante des détecteurs traditionnels. Cette conception symétrique optimise l'agencement spatial et garantit l'efficacité et la précision des mesures, tout en offrant un format compact, une réponse rapide et une sensibilité extrêmement élevée.

Logiciel d'analyse puissant

Le logiciel d'analyse dédié à l'analyseur TD-RSD intègre un module complet d'analyse des contraintes 3D, prenant en charge :

Algorithmes d'ajustement d'ellipses et d'ajustement de profils de lignes.

Analyse précise des états de contrainte complexes.

Génération automatique de cartes de contours de contrainte.

Calcul de l'amplitude et de la direction de la contrainte principale.

Valeur client clé

L'analyseur de contraintes résiduelles par diffraction des rayons X TD-RSD fournit des données précises et fiables sur les contraintes résiduelles, aidant ainsi les clients :

Optimiser les paramètres du processus de fabrication.

Améliorer la fiabilité et la durée de vie des produits.

Réduire le risque de défaillance du produit.

Accélérer les cycles de développement de nouveaux produits.


  • Êtes-vous un fabricant ou une société commerciale?

    Nous sommes un fabricant professionnel de système XRD.
  • Fournissez-vous des échantillons gratuits?

    Pas d'échantillons gratuits. Comme notre XRD n'est pas FMCG.
  • Qu'en est-il de votre délai de livraison?

    Si le XRD doit être personnalisé, cela dépend. Sinon, fondamentalement, depuis la réception du paiement anticipé, il faut 7 à 30 jours.
  • Avez-vous des qualifications?

    CE et OIN
  • Quels services pouvez-vous fournir ?

    Les conseils techniques et l'exploitation de l'installation sont gratuits.

Produits connexes

    Le logiciel chinois de mesure et d'analyse des contraintes résiduelles prend en charge les méthodes d'ajustement linéaire et elliptique. Il utilise des équations de contrainte complètes sans supposer une contrainte de cisaillement nulle, ainsi que la méthode d'ajustement elliptique, permettant la mesure simultanée des contraintes normales et de cisaillement. Chaque mesure utilise plus de 9 angles ψ. L'ajustement du profil de pic inclut des fonctions gaussiennes, lorentziennes, Pearson VII, paraboliques, etc. Les résultats de mesure affichent simultanément les valeurs de contrainte normale et de contrainte de cisaillement, ainsi que des informations telles que l'intensité du pic, la largeur intégrale et la largeur à mi-hauteur (FWHM).
    L'analyseur portable de contraintes résiduelles par rayons X est un appareil de contrôle non destructif basé sur la technologie de diffraction des rayons X. Il est principalement utilisé pour mesurer la distribution des contraintes résiduelles en surface et en subsurface dans des matériaux tels que les métaux et les plastiques, alliant haute précision et adaptabilité au terrain.

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