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Le logiciel chinois de mesure et d'analyse des contraintes résiduelles prend en charge les méthodes d'ajustement linéaire et elliptique. Il utilise des équations de contrainte complètes sans supposer une contrainte de cisaillement nulle, ainsi que la méthode d'ajustement elliptique, permettant la mesure simultanée des contraintes normales et de cisaillement. Chaque mesure utilise plus de 9 angles ψ. L'ajustement du profil de pic inclut des fonctions gaussiennes, lorentziennes, Pearson VII, paraboliques, etc. Les résultats de mesure affichent simultanément les valeurs de contrainte normale et de contrainte de cisaillement, ainsi que des informations telles que l'intensité du pic, la largeur intégrale et la largeur à mi-hauteur (FWHM).

Avantages : Profondeur de pénétration des rayons X réglable en continu Capacité à observer la distribution des plans cristallins avec différentes orientations Analyse de la distribution d'orientation dans des échantillons tels que des fibres, des films minces et des poudres Examen des caractéristiques structurelles telles que la distorsion du réseau cristallin et la taille des cristallites

Analyseur de contraintes résiduelles TD-RSD XRD Précision de ±7 MPa, innovation à double détecteur, fonctionnement entièrement automatisé et logiciel performant. Optimisez vos processus et améliorez la fiabilité de vos produits. Solution compacte, efficace et de pointe.

1. Puissance maximale de la poudre : 3 kW 2. Type de détecteur : détecteur matriciel ou détecteur SDD 3. Disponible avec une variété d'accessoires pour diffractomètres 4. Mode de fonctionnement : Calculs de contrôle automatique par automate programmable, conversion de la méthode d’intégration, exécution automatique de l’analyse des risques par automate programmable et correction du temps mort. 5. Type d'échantillon mesuré : échantillons de poudre, échantillons liquides, échantillons à l'état fondu, échantillons visqueux, poudres libres, échantillons solides en vrac

1. Puissance de sortie maximale de la poudre : 1200 W ; 2. Type de détecteur : détecteur matriciel ou détecteur SDD, tous les types de détecteurs peuvent être adaptés à ce mode ; 3. Mode de fonctionnement : Calculs de contrôle automatique par automate programmable, conversion de la méthode d'intégration, analyse des risques de phase (PHA) et correction du temps mort effectuées automatiquement par l'automate programmable.

Le spectromètre XAFS atteint une qualité de données de niveau synchrotron avec un flux > 4M photons/s/eV,<0.1% stability, and a 1% detection limit. It empowers research across energy, catalysis, and materials science.

Contrôle polarographique par transmission ou réflexion. Essais de contrainte par la méthode d'inclinaison ou par la méthode d'inclinaison directe. Essais de couches minces (rotation dans le plan de l'échantillon).

1. Type de détecteur : détecteur matriciel ou détecteur SDD ; 2. Calcul du contrôle automatique de l'API, conversion du mode d'intégration, l'API exécute automatiquement le PHA, correction du temps mort 3. Type de mesure d'échantillon : échantillon de poudre, échantillons liquides, échantillons à l'état fondu, échantillons visqueux, poudres libres, échantillons solides en vrac 4.Disponible avec une variété d'accessoires de diffractomètre 5. Puissance de sortie maximale de poudre : 3 kW

Le diffractomètre à rayons X entièrement automatisé par IA intègre la manipulation de haute précision d'un bras robotisé dans un diffractomètre portable. Comparé aux diffractomètres traditionnels, il réduit considérablement l'intervention manuelle, ce qui le rend idéal pour les applications de R&D exigeant un débit et une répétabilité élevés. Pilotable à distance via smartphone ou application mobile, il est doté d'un système d'ouverture et de fermeture automatique des portes. Grâce à ses capacités d'échantillonnage et d'analyse autonomes, il offre précision et simplicité d'utilisation.

L'accessoire de diffraction aux petits angles de Dandong Tongda mesure avec précision l'épaisseur des films nano-multicouches (plage de 0° à 5°). Entièrement compatible avec les diffractomètres de la série TD, il offre une simplicité d'utilisation immédiate et une reproductibilité de 0,0001°, facilitant ainsi la recherche dans les domaines des énergies nouvelles et des semi-conducteurs.