Spectromètre Dandong Tongda XAFS : un outil d'analyse de la structure des matériaux pour le laboratoire Analyse précise de la structure du matériau atomique sans dépendance aux sources de rayonnement synchrotron. La spectroscopie de structure fine par absorption des rayons X (XAFS) est une technique importante pour étudier les structures atomiques et électroniques locales des matériaux, avec de larges applications en catalyse, en recherche énergétique et en science des matériaux. La méthodologie XAFS conventionnelle repose principalement sur des sources de rayonnement synchrotron, ce qui présente des défis tels qu'une disponibilité limitée du faisceau, des procédures d'application complexes et la nécessité de transporter les échantillons vers des installations scientifiques de grande envergure pour analyse. La structure fine d'absorption des rayons X développée par Dandong Tongda Technology Co., Ltd. vise à intégrer cette capacité analytique sophistiquée dans les environnements de laboratoire standard. Principaux avantages et valeur pratique La conception de cet instrument répond à plusieurs défis critiques auxquels les chercheurs sont confrontés : Alternative en laboratoire au rayonnement synchrotron : élimine la dépendance traditionnelle aux sources de rayonnement synchrotron, permettant aux chercheurs d'effectuer efficacement des tests XAFS de routine dans leurs propres laboratoires, améliorant ainsi considérablement la productivité de la recherche. Capacités de test in situ : prend en charge l'intégration de diverses chambres d'échantillonnage in situ (par exemple, électrochimiques, à température variable), permettant la surveillance en temps réel des changements dynamiques dans la structure atomique locale du matériau dans des conditions opérationnelles simulées (telles que les réactions catalytiques ou les processus de charge/décharge de la batterie), fournissant des informations précieuses sur les mécanismes de réaction. Fonctionnement automatisé pour une efficacité améliorée : une tourelle d'échantillons à 18 positions permet le changement automatique d'échantillons, facilitant la mesure automatisée continue de plusieurs échantillons et le fonctionnement sans pilote, simplifiant ainsi le criblage d'échantillons par lots et les expériences in situ prolongées. Champ d'application étendu Le spectromètre TD-XAFS trouve des applications dans de nombreux domaines nécessitant une étude détaillée des structures locales des matériaux : Nouveaux matériaux énergétiques : analyse des changements d'état de valence et de la stabilité structurelle des matériaux d'électrodes de batteries lithium-ion pendant les processus de charge/décharge ; étude des environnements de coordination sur les sites actifs catalytiques des piles à combustible. Science de la catalyse : Particulièrement adapté à l'étude des structures de coordination précises des nanocatalyseurs et des catalyseurs à atome unique, des caractéristiques du site actif et de leurs interactions avec les matériaux de support, même à de faibles charges métalliques (<1%). Science des matériaux : étude des structures désordonnées, des matériaux amorphes, des effets de surface/interface et des processus de transition de phase dynamique. Sciences de l'environnement : Analyse des états de valence et des structures de coordination des éléments métalliques lourds dans les échantillons environnementaux (par exemple, sol, eau), essentiels pour évaluer la toxicité et la mobilité. Macromolécules biologiques : étude des structures électroniques et des configurations géométriques des centres actifs métalliques dans les métalloprotéines et les enzymes. Résumé Le spectromètre TD-XAFS de Dandong Tongda constitue une plateforme d'essai de paillasse domestique hautes performances, conçue pour les universités, les instituts de recherche et les centres de R&D des entreprises. Il intègre avec succès des capacités de niveau synchrotron dans les laboratoires conventionnels, réduisant ainsi considérablement les obstacles à l'accès à la technologie XAFS. Cet instrument offre aux chercheurs des outils pratiques, efficaces et flexibles pour l'analyse de la structure des matériaux microscopiques, constituant une solution pratique pour les scientifiques explorant le monde microscopique de la matière.

Dans des domaines de recherche tels que les sciences de la vie, la radiobiologie et la lutte antiparasitaire, des méthodes d'irradiation précises, sûres et contrôlables sont essentielles à de nombreuses expériences critiques. Forte de son expertise en technologie des rayons X, Dandong Tongda Technology Co., Ltd. a développé l'irradiateur à rayons X WBK-01, conçu pour offrir une alternative moderne aux sources d'isotopes radioactifs traditionnelles à divers laboratoires. I. Principe fondamental et objectif de conception L'équipement fonctionne en accélérant des électrons à travers un champ électrique à haute tension pour frapper une cible métallique (par exemple, une cible en or), générant ainsi des rayons X de haute énergie. Cette conception de « source de rayonnement générée électriquement » évite fondamentalement l'utilisation d'isotopes radioactifs comme le cobalt 60 (Co-60) ou le césium 137 (Cs-137), éliminant ainsi la conservation à long terme, les coûts de démantèlement importants et les risques potentiels pour la sécurité associés aux matières premières. II. Principales caractéristiques du produit Haute sécurité : Aucun rayonnement hors tension : les rayons X ne sont générés que lorsque l'appareil est sous tension et en fonctionnement. Aucun rayonnement résiduel n'est émis après utilisation, ce qui réduit considérablement les coûts de sécurité et de gestion du laboratoire. Verrouillages de sécurité multiples : équipé de plusieurs fonctions de protection de sécurité, notamment le verrouillage du fonctionnement des portes, l'arrêt d'urgence et la protection contre les surdoses, garantissant la sécurité des opérateurs et de l'environnement. Contrôle précis et bonne reproductibilité : Utilise un système de contrôle numérique, permettant aux utilisateurs de définir avec précision les paramètres d'irradiation, notamment la tension (kV), le courant (mA) et le temps d'irradiation, via une interface à écran tactile. Le système permet une production de dose stable, garantissant l’uniformité des conditions expérimentales et la reproductibilité des résultats. Utilisation facile et entretien simple : L'interface utilisateur est simple et intuitive, facile à apprendre et à utiliser, réduisant ainsi la barrière à l'utilisation. Comparé aux sources d'isotopes qui nécessitent un remplacement régulier et une surveillance de la désintégration, la maintenance principale de cet équipement se concentre sur le remplacement périodique du tube à rayons X, ce qui entraîne des coûts de maintenance à long terme relativement fixes et gérables. Compatibilité des échantillons flexibles : La chambre d'irradiation est conçue pour accueillir divers échantillons, des boîtes de culture cellulaire et des plaques multipuits aux petits animaux (par exemple, les mouches des fruits, les moustiques ou les souris). La platine d'échantillonnage peut être conçue pour tourner, garantissant ainsi l'uniformité de la distribution de la dose de rayonnement. III. Principaux scénarios d'application Recherche biomédicale : utilisée pour créer des modèles animaux immunodéficients (par exemple, l'ablation de cellules de moelle osseuse chez la souris), l'induction de l'apoptose cellulaire, la synchronisation des cycles cellulaires, la recherche en oncologie et le prétraitement pour la transplantation de cellules souches. Technique de l'insecte stérile (TIS) : Il s'agit d'un domaine d'application important. Elle permet d'irradier les pupes de ravageurs agricoles (par exemple, la mouche méditerranéenne des fruits) ou de moustiques afin de les rendre stériles, contribuant ainsi à des programmes de contrôle des populations écologiques et non polluants. Recherche sur la modification des matériaux : peut être utilisée pour étudier les effets des rayons X sur les propriétés de divers matériaux (par exemple, polymères, semi-conducteurs). IV. Paramètres typiques du modèle (en utilisant WBK-01 comme exemple) Tension du tube à rayons X : réglable en fonction des besoins, généralement dans une plage de plusieurs dizaines à plusieurs centaines de kilovolts (kV), pour s'adapter à différentes profondeurs de pénétration et besoins en débit de dose. Débit de dose : peut être ajusté en fonction de la tension, du courant et de la distance pour répondre aux exigences spécifiques des différents protocoles expérimentaux. Uniformité : assurée par la conception du système optique et un mécanisme de rotation de l'échantillon, garantissant une distribution uniforme de la dose dans le champ d'irradiation pour des expériences fiables. Résumé L'intérêt principal de l'irradiateur à rayons X Dandong Tongda réside dans le remplacement des sources d'isotopes radioactifs peu pratiques par une source de rayons X électriquement contrôlée et sûre. Loin de rechercher des fonctionnalités excessives, il vise à fournir un outil d'irradiation stable, fiable, conforme et facile à gérer pour la recherche scientifique et les applications industrielles. Pour les laboratoires recherchant des alternatives aux isotopes ou envisageant de créer de nouvelles plateformes d'irradiation, cet équipement pratique mérite d'être évalué et pris en considération par les utilisateurs en recherche fondamentale et appliquée.

L'analyseur de contraintes résiduelles multifonctionnel développé par Dandong Tongda Technology Co., Ltd. est conçu pour répondre aux besoins de mesures rapides et précises, en laboratoire comme sur le terrain. Basé principalement sur le principe de la diffraction des rayons X, il permet des contrôles non destructifs de l'état des contraintes résiduelles à l'intérieur des matériaux. Analyse polyvalente tout-en-un Cet analyseur intègre plusieurs fonctions d'analyse de matériaux, améliorant considérablement l'utilité et l'efficacité de l'équipement : Analyse des contraintes résiduelles : prend en charge divers modes de mesure tels que l'inclinaison oméga standard, l'inclinaison psi standard et l'oscillation standard, capables de déterminer les contraintes principales et les contraintes de cisaillement pour une évaluation complète de l'état de contrainte. Analyse de l'austénite retenue : utilise la méthode des quatre pics pour les tests d'austénite retenue, avec un calcul de données entièrement automatisé pour des résultats rapides. Analyse de phase par diffraction : utilisée pour analyser les structures cristallines, la composition chimique et la distribution, aidant les chercheurs à obtenir des informations plus approfondies sur la constitution des matériaux. Analyse de la granulométrie : prend en charge l'évaluation de la granulométrie de l'échelle nanométrique à l'échelle submicronique, particulièrement adaptée aux grains fins ≤ 200 nm. Caractéristiques techniques et performances Cet instrument dispose de multiples caractéristiques techniques visant à assurer précision, stabilité et facilité d'utilisation : Mesure et contrôle de haute précision : utilise un système d'asservissement vectoriel en boucle fermée de haute précision pour garantir la précision et la répétabilité des mesures. Acquisition de données efficace : équipé d'un détecteur linéaire à bande de silicium multicanal, qui offre des performances sans bruit, une mesure de haute intensité et une collecte de données rapide pour améliorer l'efficacité de la détection. Conception portable : présente une construction légère, ce qui le rend adapté non seulement aux environnements de laboratoire mais également aux mesures rapides sur site, s'adaptant à divers scénarios de test. Fonctionnement convivial : intègre le système d'exploitation Windows ou des fonctions d'automatisation, prenant en charge les tests en un clic et l'affichage des résultats en temps réel, abaissant ainsi la barrière opérationnelle. Modularité et sécurité : Utilise un système de contrôle PLC de conception modulaire pour une utilisation aisée et des performances stables. Côté sécurité, sa conception à rayons X à faible consommation d'énergie est conforme aux normes de sécurité en vigueur, avec des niveaux de rayonnement nettement inférieurs à la limite de dose annuelle pour le public. Larges domaines d'application L'analyseur de contraintes résiduelles multifonctionnel de Dandong Tongda a de nombreuses applications, couvrant presque tous les secteurs industriels et les institutions de recherche nécessitant l'évaluation des propriétés mécaniques des matériaux : Contrôle de la qualité de fabrication : utilisé pour détecter les contraintes résiduelles dans les pièces estampées, moulées et laminées pendant le traitement. Industrie automobile : teste les contraintes résiduelles dans les composants critiques tels que les arbres à cames et les bielles pour garantir la fiabilité et la durabilité. Aérospatiale : Évalue les charges de travail dans les zones critiques des matériaux aérospatiaux pour évaluer la sécurité. Recherche en science des matériaux : applicable à divers matériaux métalliques (par exemple, acier au carbone, acier allié, alliage de titane, matériaux à base de nickel), verre et matériaux composites pour l'analyse des contraintes résiduelles, de l'austénite retenue, de la phase et de la taille des grains. L'analyseur de contraintes résiduelles multifonctionnel de Dandong Tongda Technology Co., Ltd. démontre l'expertise technique de l'entreprise dans le domaine des essais de matériaux en intégrant de multiples fonctions analytiques. Cet instrument offre aux ingénieurs et aux chercheurs un aperçu de l'état de contrainte intrinsèque des matériaux, contribuant ainsi au contrôle de la qualité des produits à la source, à l'optimisation des paramètres de procédé et, par conséquent, à l'amélioration de la fiabilité et de la durabilité des produits.

L'analyseur de contraintes résiduelles multifonctionnel développé par Dandong Tongda Technology Co., Ltd. est conçu pour répondre aux besoins de mesures rapides et précises, en laboratoire comme sur le terrain. Basé principalement sur le principe de la diffraction des rayons X, il permet des contrôles non destructifs de l'état des contraintes résiduelles à l'intérieur des matériaux. Analyse polyvalente tout-en-un Cet analyseur intègre plusieurs fonctions d'analyse de matériaux, améliorant considérablement l'utilité et l'efficacité de l'équipement : Analyse des contraintes résiduelles : prend en charge divers modes de mesure tels que l'inclinaison oméga standard, l'inclinaison psi standard et l'oscillation standard, capables de déterminer les contraintes principales et les contraintes de cisaillement pour une évaluation complète de l'état de contrainte. Analyse de l'austénite retenue : utilise la méthode des quatre pics pour les tests d'austénite retenue, avec un calcul de données entièrement automatisé pour des résultats rapides. Analyse de phase par diffraction : utilisée pour analyser les structures cristallines, la composition chimique et la distribution, aidant les chercheurs à obtenir des informations plus approfondies sur la constitution des matériaux. Analyse de la granulométrie : prend en charge l'évaluation de la granulométrie de l'échelle nanométrique à l'échelle submicronique, particulièrement adaptée aux grains fins ≤ 200 nm. Caractéristiques techniques et performances Cet instrument dispose de multiples caractéristiques techniques visant à assurer précision, stabilité et facilité d'utilisation : Mesure et contrôle de haute précision : utilise un système d'asservissement vectoriel en boucle fermée de haute précision pour garantir la précision et la répétabilité des mesures. Acquisition de données efficace : équipé d'un détecteur linéaire à bande de silicium multicanal, qui offre des performances sans bruit, une mesure de haute intensité et une collecte de données rapide pour améliorer l'efficacité de la détection. Conception portable : présente une construction légère, ce qui le rend adapté non seulement aux environnements de laboratoire mais également aux mesures rapides sur site, s'adaptant à divers scénarios de test. Fonctionnement convivial : intègre le système d'exploitation Windows ou des fonctions d'automatisation, prenant en charge les tests en un clic et l'affichage des résultats en temps réel, abaissant ainsi la barrière opérationnelle. Modularité et sécurité : Utilise un système de contrôle PLC de conception modulaire pour une utilisation aisée et des performances stables. Côté sécurité, sa conception à rayons X à faible consommation d'énergie est conforme aux normes de sécurité en vigueur, avec des niveaux de rayonnement nettement inférieurs à la limite de dose annuelle pour le public. Larges domaines d'application L'analyseur de contraintes résiduelles multifonctionnel de Dandong Tongda a de nombreuses applications, couvrant presque tous les secteurs industriels et les institutions de recherche nécessitant l'évaluation des propriétés mécaniques des matériaux : Contrôle de la qualité de fabrication : utilisé pour détecter les contraintes résiduelles dans les pièces estampées, moulées et laminées pendant le traitement. Industrie automobile : teste les contraintes résiduelles dans les composants critiques tels que les arbres à cames et les bielles pour garantir la fiabilité et la durabilité. Aérospatiale : Évalue les charges de travail dans les zones critiques des matériaux aérospatiaux pour évaluer la sécurité. Recherche en science des matériaux : applicable à divers matériaux métalliques (par exemple, acier au carbone, acier allié, alliage de titane, matériaux à base de nickel), verre et matériaux composites pour l'analyse des contraintes résiduelles, de l'austénite retenue, de la phase et de la taille des grains. L'analyseur de contraintes résiduelles multifonctionnel de Dandong Tongda Technology Co., Ltd. démontre l'expertise technique de l'entreprise dans le domaine des essais de matériaux en intégrant de multiples fonctions analytiques. Cet instrument offre aux ingénieurs et aux chercheurs un aperçu de l'état de contrainte intrinsèque des matériaux, contribuant ainsi au contrôle de la qualité des produits à la source, à l'optimisation des paramètres de procédé et, par conséquent, à l'amélioration de la fiabilité et de la durabilité des produits.

Dans le domaine des technologies modernes, de nombreux produits de haute technologie – des substrats d'écrans de smartphones aux composants de base des générateurs laser – reposent sur un matériau fondamental : les monocristaux synthétiques. La précision de l'angle de coupe de ces cristaux détermine directement les performances et le rendement des produits finaux. L'analyseur d'orientation des rayons X est un instrument indispensable à la fabrication de précision de dispositifs à cristaux. Utilisant le principe de la diffraction des rayons X, il mesure avec précision et rapidité les angles de coupe des monocristaux naturels et synthétiques, notamment les cristaux piézoélectriques, optiques, laser et semi-conducteurs. Dandong Tongda Science and Technology Co., Ltd. propose une gamme d'analyseurs d'orientation de rayons X fiables adaptés aux besoins de recherche, de traitement et de fabrication de l'industrie des matériaux cristallins. 01 Machine polyvalente pour divers besoins d'orientation des cristaux Les analyseurs d'orientation des rayons X de Dandong Tongda comprennent principalement des modèles tels que le TYX-200 et le TYX-2H8. Le modèle TYX-200 offre une précision de mesure de ±30″, avec un affichage numérique et une lecture minimale de 10″. Le modèle TYX-2H8 est une version améliorée du TYX-200, intégrant des améliorations au niveau de la structure du goniomètre, du rail porteur, du manchon du tube à rayons X, du corps de support et d'une platine porte-échantillon surélevée. Ces améliorations permettent au TYX-2H8 de traiter des échantillons de 1 à 30 kg et de diamètres compris entre 2 et 8 pouces. Il conserve un affichage numérique de l'angle et une précision de mesure de ±30″. 02 Fonctionnalités techniques avancées pour une utilisation conviviale Les analyseurs d'orientation à rayons X de Dandong Tongda sont conçus pour être pratiques et fiables. Leur utilisation conviviale ne requiert aucune connaissance ni compétence particulière de la part de l'opérateur. L'instrument est doté d'un affichage numérique de l'angle, garantissant des mesures intuitives et faciles à lire, tout en minimisant les risques d'erreur de lecture. L'affichage peut être remis à zéro à n'importe quelle position, permettant une lecture directe de l'écart d'angle de la plaquette. Certains modèles sont équipés de deux goniomètres pour un fonctionnement simultané, améliorant considérablement l'efficacité de la détection. Un intégrateur spécial avec amplification de crête améliore la précision des mesures. Le tube à rayons X et le câble haute tension adoptent une conception intégrée, améliorant la fiabilité de la haute tension. Le système haute tension du détecteur utilise un module haute tension CC, et la platine d'échantillonnage à aspiration sous vide améliore encore la précision et la rapidité des mesures. 03 modèles d'étages d'échantillonnage dédiés pour divers besoins de test Pour répondre aux exigences de mesure d'échantillons de formes et de tailles différentes, Dandong Tongda propose une variété de platines d'échantillonnage spécialisées : Platine d'échantillonnage TA : Conçue pour les cristaux en forme de tige, elle est dotée d'une piste porteuse et permet de tester des tiges de cristal pesant de 1 à 30 kg et d'un diamètre de 2 à 6 pouces (extensible jusqu'à 8 pouces). Cette platine permet de mesurer les surfaces de référence des cristaux en forme de tige ainsi que celles des cristaux en forme de plaquette. Platine d'échantillonnage TB : Également conçue pour les cristaux en forme de tige, elle comprend un rail porteur et des rails de support en V. Elle permet de tester des tiges de cristal pesant de 1 à 30 kg, d'un diamètre de 2 à 6 pouces (extensible jusqu'à 8 pouces) et d'une longueur maximale de 500 mm. Elle mesure les extrémités des cristaux en forme de tige et les surfaces des cristaux en forme de plaquette. Platine d'échantillonnage TC : Principalement utilisée pour la détection des surfaces de référence externes des plaquettes monocristallines telles que le silicium et le saphir. Sa plaque d'aspiration ouverte évite l'obstruction des rayons X et les imprécisions de positionnement. La pompe d'aspiration de la platine maintient fermement les plaquettes de 5 à 20 cm, garantissant une détection précise. ​ Platine d'échantillonnage TD : conçue pour les mesures multipoints de plaquettes telles que le silicium et le saphir. Les plaquettes peuvent être tournées manuellement sur la platine (par exemple, 0°, 90°, 180°, 270°) pour répondre aux besoins spécifiques du client. 04 Modèle haute performance pour les défis liés aux grands échantillons Pour la détection d'échantillons volumineux et complexes, les analyseurs d'orientation à rayons X de Dandong Tongda affichent des performances exceptionnelles. Le modèle TYX-2H8, par exemple, est particulièrement adapté à l'orientation des lingots et des tiges de cristal de saphir. Cet instrument permet de mesurer les orientations des cristaux de saphir A, C, M et R, avec une plage de mesure réglable de 0 à 45° par automatisation électrique. Ses spécifications techniques sont impressionnantes : Tube à rayons X à cible en cuivre avec anode mise à la terre et refroidissement par air forcé. Courant du tube réglable : 0–4 mA ; tension du tube : 30 kV. Fonctionnement via ordinateur ou commande par écran tactile. Mouvement synchronisé du tube à rayons X et du détecteur ; table rotative à entraînement électrique. Consommation électrique totale : ≤ 2 kW. Sa capacité de traitement d'échantillons comprend notamment des lingots de cristal pesant jusqu'à 30 à 180 kg, avec des dimensions maximales de 350 mm de diamètre et 480 mm de longueur. Ces capacités le rendent idéal pour la détection d'échantillons volumineux dans la plupart des scénarios industriels. 05 Applications étendues prenant en charge de multiples industries Les analyseurs d'orientation des rayons X de Dandong Tongda sont largement utilisés dans diverses industries impliquées dans la recherche, le traitement et la fabrication de matériaux cristallins. Dans l'industrie des semi-conducteurs, ils permettent une découpe d'orientation précise des plaquettes de silicium. Dans le domaine de l'optoélectronique, ils sont utilisés pour le traitement de précision des substrats de saphir, des cristaux optiques et des cristaux laser. Dans le secteur des matériaux piézoélectriques, ils garantissent des mesures précises de l'angle de coupe pour des performances stables du produit final. Ces instruments sont particulièrement adaptés aux matériaux en saphir, très recherchés pour leur dureté, leur haute transmission lumineuse et leur excellente stabilité physico-chimique. Le saphir est largement utilisé dans les substrats LED, les écrans électroniques grand public et les fenêtres optiques. Les analyseurs d'orientation des rayons X de Dandong Tongda sont devenus des outils essentiels dans les domaines de la recherche et de la fabrication de matériaux cristallins en Chine, grâce à leurs performances fiables, leurs configurations diverses et leur forte adaptabilité. Leur conception modulaire et la variété des options d'étage d'échantillonnage permettent aux utilisateurs de sélectionner des configurations qui répondent à des besoins spécifiques, garantissant une précision de détection élevée tout en améliorant l'efficacité du travail. Qu'ils soient destinés aux institutions de recherche ou au contrôle de la qualité de fabrication et à l'optimisation des processus, ces instruments fournissent un support technique robuste, permettant aux utilisateurs de réaliser des percées dans la fabrication de précision.

L'analyseur de cristaux à rayons X de Dandong Tongda adopte une technologie avancée de diffraction des rayons X, permettant la détection non destructive des informations microstructurales de divers matériaux. Qu'il s'agisse d'orientation de monocristal, d'inspection de défauts, de mesure des paramètres de réseau ou d'analyse des contraintes résiduelles, cet instrument fournit des données d'essai précises et fiables, offrant un support solide à la recherche sur les matériaux et au contrôle qualité. L'instrument est équipé d'un générateur de rayons X extrêmement stable offrant des performances exceptionnelles. La tension du tube peut être réglée avec précision entre 10 et 60 kV, et le courant entre 2 et 60 mA, avec une stabilité maximale de ± 0,005 %. Cela garantit des résultats de test hautement reproductibles et précis, offrant aux chercheurs une garantie de données fiables. L'analyseur de cristaux à rayons X de Dandong Tongda intègre un contrôle intelligent et une protection de sécurité complète. Il est doté d'un système de contrôle automatique PLC importé, permettant des mesures automatiques et chronométrées sans surveillance. Le système de protection multi-niveaux inclut des protections contre l'absence de pression, l'absence de courant, la surtension, la surintensité, la surtension, l'absence d'eau et la surchauffe du tube à rayons X, garantissant ainsi la sécurité des opérateurs. L'analyseur de cristaux à rayons X de la série TDF adopte un boîtier tubulaire vertical avec quatre fenêtres utilisables simultanément. Il utilise une technologie de contrôle PLC importée, offrant une haute précision et de solides capacités anti-interférences, garantissant un fonctionnement fiable du système. Le PLC contrôle la commutation et le réglage de la haute tension et inclut une fonction d'apprentissage automatique du tube à rayons X, prolongeant ainsi efficacement la durée de vie du tube et de l'instrument. L'enceinte de protection contre les radiations de l'instrument est construite avec du verre au plomb haute densité et haute transparence, avec des fuites de rayonnement externes bien inférieures aux normes de sécurité nationales, permettant aux chercheurs de mener des études expérimentales dans un environnement sécurisé. Entreprise nationale de haute technologie, Dandong Tongda Technology Co., Ltd. dispose d'un système complet de gestion de la qualité et d'une équipe de R&D technique. Ses produits répondent non seulement aux exigences du marché intérieur, mais sont également exportés vers de nombreux pays et régions, démontrant ainsi la force et la capacité de la Chine à fabriquer des instruments scientifiques. L'analyseur de cristaux à rayons X de Dandong Tongda, grâce à ses performances exceptionnelles et à sa qualité fiable, est devenu un outil précieux dans le domaine de l'analyse des matériaux. Il aide les chercheurs et les ingénieurs à dévoiler les couches du monde des matériaux et à explorer des possibilités encore plus inexplorées.

Dans les domaines de la science des matériaux et des essais industriels, chaque infime modification de la structure cristalline peut déterminer les propriétés finales d'un matériau. Aujourd'hui, un instrument de précision, fruit de la recherche et développement de Dandong Tongda Science and Technology, le diffractomètre à rayons X TD-3500, ouvre une nouvelle fenêtre sur le monde microscopique pour les chercheurs et les inspecteurs industriels grâce à ses performances exceptionnelles et à sa conception intelligente. L'évolution par l'artisanat et la technologie Les diffractomètres de la série TD intègrent des années d'expertise technologique de Tongda Science and Technology et évoluent constamment. Référence absolue en analyse des matériaux, la technologie de diffraction des rayons X permet une analyse structurale complète d'échantillons de poudre, de matériaux en vrac ou de couches minces : analyse de phase qualitative et quantitative, analyse de la structure cristalline et de la structure des matériaux, analyse de l'orientation, mesure des contraintes macro/micro, granulométrie et détermination de la cristallinité : le TD-3500 est polyvalent. Noyau intelligent, stable et fiable Le principal atout du diffractomètre à rayons X TD-3500 réside dans l'utilisation d'un système de contrôle-commande Siemens importé. Cette conception innovante confère à l'instrument des caractéristiques exceptionnelles : haute précision, excellente stabilité, longue durée de vie, évolutivité aisée, utilisation intuitive et fonctionnalités intelligentes, lui permettant de s'adapter avec souplesse aux besoins d'essais et de recherche de divers secteurs. Le générateur de rayons X propose deux options : un générateur à semi-conducteurs haute fréquence et haute tension ou un générateur à fréquence de ligne (工频). Ce générateur offre un haut niveau d'automatisation, un taux de défaillance extrêmement faible, de solides capacités anti-interférences et une excellente stabilité. Le système contrôle automatiquement l'interrupteur de l'obturateur, ajuste la tension et le courant du tube et intègre une fonction d'apprentissage automatique du tube à rayons X. La surveillance en temps réel via un écran tactile réduit considérablement la complexité opérationnelle. Contrôle innovant, fonctionnement révolutionnaire Par rapport aux circuits de micro-ordinateur monopuce traditionnels, la technologie de contrôle PLC utilisée dans le TD-3500 offre de multiples avancées : Contrôle de circuit simple pour un débogage et une installation faciles La conception modulaire permet aux utilisateurs d'effectuer eux-mêmes la maintenance et le débogage, réduisant ainsi considérablement les coûts Forte extensibilité pour l'ajout facile de divers accessoires fonctionnels sans modifications matérielles Écran tactile en vraies couleurs pour l'interaction homme-machine, utilisation conviviale et affichage intuitif des informations sur les défauts Mesure de précision, sécurité assurée Le goniomètre de la série TD utilise une transmission à roulement importée de haute précision et est équipé d'un système d'asservissement vectoriel en boucle fermée de haute précision. Ce système intelligent comprend un microprocesseur RISC 32 bits et un codeur magnétique haute résolution, capable de corriger automatiquement les infimes erreurs de position afin de garantir une précision et une exactitude élevées des résultats de mesure, avec une reproductibilité angulaire atteignant 0,0001 degré. Pour plus de sécurité, le TD-3500 adopte une structure à axe creux avec verrouillage électronique de la porte principale, offrant une double protection. La fenêtre de l'obturateur est reliée à la porte principale : à l'ouverture de celle-ci, l'obturateur se ferme automatiquement, garantissant ainsi une sécurité optimale à l'opérateur. Configuration flexible, compatibilité complète L'instrument offre deux choix de détecteurs : compteur proportionnel (PC) ou compteur à scintillation (SC) et plusieurs options de tubes à rayons X, notamment des tubes en verre, en céramique ondulée et en métal-céramique, répondant à différents scénarios d'application et exigences budgétaires. Le diffractomètre à rayons X TD-3500 est non seulement un instrument d'analyse haute performance, mais aussi le reflet de la quête incessante de qualité de Tongda Science and Technology. Il joue discrètement un rôle essentiel dans les laboratoires du pays, soutenant l'innovation scientifique et le contrôle qualité, et devenant le partenaire analytique de confiance des scientifiques et des ingénieurs. Que vous soyez engagé dans le développement de nouveaux matériaux, l'analyse des ressources minérales, le contrôle de la qualité pharmaceutique ou les tests de matériaux métalliques, le TD-3500 peut vous fournir un support de données précis et fiable, vous aidant à découvrir davantage de possibilités dans le monde microscopique. Explorez l'inconnu avec le TD-3500 — Laissez Tongda Science and Technology travailler avec vous pour découvrir les mystères de la science des matériaux.

Dans les domaines de la science des matériaux et de l'inspection industrielle, l'analyse par diffraction des rayons X, hautement efficace et précise, a toujours été essentielle aux avancées scientifiques et au contrôle qualité. Le diffractomètre à rayons X de la série TD-3700 repousse les limites des performances des équipements de diffraction grâce à de multiples technologies innovantes, offrant une solution d'une efficacité inégalée pour la recherche universitaire, la R&D en entreprise et les applications de contrôle qualité. La synergie multi-détecteurs ouvre une nouvelle ère d'analyse à grande vitesse La série TD-3700 repousse les limites des détecteurs traditionnels en offrant une variété d'options, notamment des détecteurs matriciels unidimensionnels haute vitesse, des détecteurs bidimensionnels et des détecteurs SDD. Comparé aux détecteurs à scintillation ou proportionnels conventionnels, il multiplie par dix l'intensité du signal de diffraction, capturant des diagrammes de diffraction haute sensibilité et haute résolution avec des cycles d'échantillonnage extrêmement courts et améliorant considérablement l'efficacité de la sortie des données. Associés à la technologie de comptage de photons hybride, ces détecteurs fonctionnent sans bruit, suppriment efficacement le bruit de fond de fluorescence et présentent une excellente résolution énergétique et un excellent rapport signal/bruit, ce qui les rend particulièrement adaptés à l'analyse d'échantillons complexes et de traces. Les modes de diffraction/transmission doubles élargissent les limites des applications L'instrument prend non seulement en charge le balayage par diffraction conventionnel, mais intègre également un mode de transmission innovant. Ce mode offre une résolution nettement supérieure à celle du mode diffraction, ce qui le rend particulièrement adapté aux applications haut de gamme telles que l'analyse de la structure cristalline et la recherche sur les nanomatériaux. Grâce à sa stabilité de signal ultra-élevée, le mode diffraction est idéal pour l'identification de phase en routine. Un autre avantage majeur du mode transmission est sa prise en charge des tests d'échantillons traces, ce qui simplifie considérablement la préparation des échantillons et leur disponibilité limitée. Cela ouvre de nouvelles perspectives pour le développement pharmaceutique, l'analyse géologique, l'identification du patrimoine culturel et d'autres domaines. Conception modulaire et intelligente pour une plateforme expérimentale fiable et conviviale Le TD-3700 adopte une conception matérielle modulaire où tous les composants sont prêts à l'emploi sans nécessiter d'étalonnage, ce qui réduit considérablement les coûts de maintenance et les taux de panne. Son système d'acquisition en un clic et son logiciel personnalisé améliorent considérablement le confort d'utilisation, permettant même aux non-spécialistes de démarrer rapidement. Une interface tactile permet de surveiller en temps réel l'état de l'instrument, affichant la progression des expériences en un coup d'œil. La sécurité est également sans compromis : un dispositif de verrouillage électronique des portes en plomb offre une double protection, tandis qu'un générateur de rayons X haute fréquence et haute tension assure des performances stables et fiables. Associé à une unité de contrôle anti-interférence, il assure une fiabilité opérationnelle à long terme tout en garantissant la sécurité des utilisateurs. Né pour l'époque : une référence tournée vers l'avenir en matière de technologie de diffraction Le diffractomètre à rayons X de la série TD-3700 allie rapidité d'analyse, fonctionnement intelligent et sécurité totale. Il hérite non seulement de la stabilité de la série TD-3500, mais réalise également des avancées en matière de technologie de détection, de flexibilité d'application et d'intégration système. Son développement répond parfaitement aux besoins des laboratoires modernes en matière d'analyse d'échantillons à haut débit, haute précision et diversifiés, ce qui en fait un outil indispensable pour la caractérisation des matériaux, l'analyse chimique, l'industrie pharmaceutique et la recherche universitaire.

Le diffractomètre à rayons X TDM-20 (DRX de paillasse) est principalement utilisé pour l'analyse de phase des poudres, des solides et des substances pâteuses. Basé sur le principe de la diffraction des rayons X, il permet l'analyse qualitative et quantitative, ainsi que l'analyse de la structure cristalline, de matériaux polycristallins tels que des échantillons de poudre et des échantillons métalliques. Il est largement utilisé dans des secteurs tels que l'industrie, l'agriculture, la défense nationale, l'industrie pharmaceutique, la minéralogie, la sécurité alimentaire, le pétrole, ainsi que l'éducation et la recherche. Principe fondamental : la diffraction des rayons X, la clé du monde microscopique Le diffractomètre à rayons X TDM-20 fonctionne selon le principe de la diffraction des rayons X. Lorsque les rayons X éclairent un échantillon, ils interagissent avec les atomes qui le composent et se diffractent. Différentes structures cristallines produisent des motifs de diffraction uniques, comparables à des empreintes digitales. En analysant ces motifs, l'instrument révèle avec précision des informations clés sur la structure cristalline de l'échantillon, sa composition en phases, etc., révélant ainsi les secrets cachés à l'échelle microscopique. Percée en matière de performances Le diffractomètre à rayons X TDM-20 (DRX de paillasse) surpasse la précédente norme internationale de 600 W et bénéficie d'une mise à niveau complète pour atteindre 1 600 W. Cet instrument se distingue par sa simplicité d'utilisation, ses performances stables et sa faible consommation d'énergie. Il peut être équipé d'un détecteur proportionnel ou d'un nouveau détecteur matriciel haute vitesse, ce qui se traduit par une amélioration significative des performances globales. Caractéristiques de l'appareil Taille compacte et conception légère Conception d'alimentation haute fréquence et haute tension pour une consommation d'énergie globale plus faible Prend en charge l'étalonnage et les tests rapides des échantillons Contrôle de circuit simplifié pour un débogage et une installation faciles La précision linéaire de l'angle de diffraction à spectre complet atteint ± 0,01° Accessoires riches Compatible avec divers accessoires, notamment un détecteur de réseau 1D, un détecteur proportionnel, un changeur d'échantillons automatique à 6 positions et un étage d'échantillon rotatif. Conclusion Le diffractomètre à rayons X TDM-20, grâce à ses performances exceptionnelles, sa simplicité d'utilisation et son large éventail d'applications, est devenu un outil indispensable dans de nombreux secteurs industriels et de recherche. Véritable « détective » du monde microscopique, il nous aide à percer les mystères de la structure des matériaux et favorise le progrès dans divers domaines. Si vous aussi souhaitez explorer les secrets microscopiques de la matière, le TDM-20 vous permettra de vous lancer dans une recherche et une production précises et efficaces.

À l'origine, les accessoires de batterie sont des dispositifs expérimentaux conçus spécifiquement pour les tests électrochimiques, principalement utilisés pour la caractérisation in situ des matériaux de batterie pendant les processus de charge et de décharge, couramment trouvés dans la diffraction des rayons X (DRX). 1. Fonctions principales et scénarios d'application des accessoires de batterie d'origine (1)Test initial : La surveillance en temps réel des changements de structure des phases des matériaux (comme la structure cristalline et la transition de phase) pendant la charge et la décharge de la batterie permet d'éviter la contamination des échantillons ou les changements d'état causés par le démontage de la batterie. Prise en charge de nombreux systèmes électrochimiques, notamment les composites contenant du carbone, de l'oxygène, de l'azote, du soufre, des métaux, etc. (2) Compatibilité multimodale : Diffraction des rayons X (DRX) : utilisée pour analyser l'évolution structurelle des matériaux d'électrodes positives/négatives au cours des processus de charge et de décharge. 2. Composition structurelle et caractéristiques techniques des accessoires de batterie d'origine (1) Composants clés : Couvercle d'isolation inférieur : généralement constitué de céramique d'alumine ou de polytétrafluoroéthylène, contenant des canaux d'écoulement de liquide de refroidissement ou des canalisations d'installation de fils de résistance, utilisés pour le contrôle de la température. Couvercle conducteur supérieur : relié au couvercle isolant inférieur par des boulons pour former un espace fermé, avec une fenêtre en béryllium (diamètre 15 mm, épaisseur 0,1 mm) en partie supérieure pour transmettre les rayons X. Système d'électrodes : à l'origine, les accessoires de batterie comprennent une électrode inférieure (avec une colonne de support) et un ressort papillon, qui sont connectés électriquement par fixation par compression, simplifiant le processus d'assemblage. (2) Innovation technologique : Conception formelle : Par rapport à la méthode inversée traditionnelle, la structure formelle ne nécessite pas d'assemblage par retournement, ce qui facilite son utilisation dans la boîte à gants et garantit la planéité de la fenêtre en béryllium et du diaphragme. Étanchéité et contrôle de la température : Conduite de circulation de liquide de refroidissement intégrée et dispositif de chauffage à fil de résistance, adapté à une plage de température de -400 ℃ à 400 ℃. 3. Avantages techniques des accessoires de batterie d'origine (1) Fonctionnement simplifié : Réduisez les étapes d'assemblage, diminuez le temps d'utilisation en boîte à gants et améliorez l'efficacité. Le ressort papillon fixe l'électrode sans rotation ni serrage, évitant ainsi toute interférence avec la structure simulée de la batterie. (2) Amélioration des performances : La transmittance élevée des rayons X (> 90 %) des fenêtres en béryllium garantit la puissance du signal de détection. La platine d'échantillonnage multifonctionnelle prend en charge le changement automatique d'échantillon et convient aux tests à haut débit. Dans l’ensemble, les accessoires de batterie d’origine sont des outils importants pour la recherche électrochimique, car leur conception optimise le processus d’assemblage des structures de simulation de batterie traditionnelles et améliore la fiabilité et l’applicabilité des tests d’origine.