Dans le domaine des technologies modernes, de nombreux produits de haute technologie – des substrats d'écrans de smartphones aux composants de base des générateurs laser – reposent sur un matériau fondamental : les monocristaux synthétiques. La précision de l'angle de coupe de ces cristaux détermine directement les performances et le rendement des produits finaux.

L'analyseur d'orientation des rayons XC'est un instrument indispensable à la fabrication de précision de dispositifs à cristaux. Utilisant le principe de la diffraction des rayons X, il mesure avec précision et rapidité les angles de coupe des monocristaux naturels et synthétiques, notamment les cristaux piézoélectriques, optiques, laser et semi-conducteurs.

Dandong Tongda Science and Technology Co., Ltd. propose une gamme d'analyseurs d'orientation de rayons X fiables adaptés aux besoins de recherche, de traitement et de fabrication de l'industrie des matériaux cristallins.

01 Machine polyvalente pour divers besoins d'orientation des cristaux

Analyseurs d'orientation des rayons X de Dandong Tongdacomprennent principalement des modèles tels que le TYX-200 et le TYX-2H8.

Le modèle TYX-200 offre une précision de mesure de ±30″, avec un affichage numérique et une lecture minimale de 10″. Le modèle TYX-2H8 est une version améliorée du TYX-200, intégrant des améliorations au niveau de la structure du goniomètre, du rail porteur, du manchon du tube à rayons X, du corps de support et d'une platine porte-échantillon surélevée. Ces améliorations permettent au TYX-2H8 de traiter des échantillons de 1 à 30 kg et de diamètres compris entre 2 et 8 pouces. Il conserve un affichage numérique de l'angle et une précision de mesure de ±30″.

02 Fonctionnalités techniques avancées pour une utilisation conviviale

Les analyseurs d'orientation à rayons X de Dandong Tongda sont conçus pour être pratiques et fiables. Leur utilisation conviviale ne requiert aucune connaissance ni compétence particulière de la part de l'opérateur.

L'instrument est doté d'un affichage numérique de l'angle, garantissant des mesures intuitives et faciles à lire, tout en minimisant les risques d'erreur de lecture. L'affichage peut être remis à zéro à n'importe quelle position, permettant une lecture directe de l'écart d'angle de la plaquette.

Certains modèles sont équipés de deux goniomètres pour un fonctionnement simultané, améliorant considérablement l'efficacité de la détection. Un intégrateur spécial avec amplification de crête améliore la précision des mesures.

Le tube à rayons X et le câble haute tension adoptent une conception intégrée, améliorant la fiabilité de la haute tension. Le système haute tension du détecteur utilise un module haute tension CC, et la platine d'échantillonnage à aspiration sous vide améliore encore la précision et la rapidité des mesures.

03 modèles d'étages d'échantillonnage dédiés pour divers besoins de test

Pour répondre aux exigences de mesure d'échantillons de formes et de tailles différentes, Dandong Tongda propose une variété de platines d'échantillonnage spécialisées :

• Platine d'échantillonnage TA : Conçue pour les cristaux en forme de tige, elle est dotée d'une piste porteuse et permet de tester des tiges de cristal pesant de 1 à 30 kg et d'un diamètre de 2 à 6 pouces (extensible jusqu'à 8 pouces). Cette platine permet de mesurer les surfaces de référence des cristaux en forme de tige ainsi que celles des cristaux en forme de plaquette.

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• Platine d'échantillonnage TB : Également conçue pour les cristaux en forme de tige, elle comprend un rail porteur et des rails de support en V. Elle permet de tester des tiges de cristal pesant de 1 à 30 kg, d'un diamètre de 2 à 6 pouces (extensible jusqu'à 8 pouces) et d'une longueur maximale de 500 mm. Elle mesure les extrémités des cristaux en forme de tige et les surfaces des cristaux en forme de plaquette.

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• Platine d'échantillonnage TC : Principalement utilisée pour la détection des surfaces de référence externes des plaquettes monocristallines telles que le silicium et le saphir. Sa plaque d'aspiration ouverte évite l'obstruction des rayons X et les imprécisions de positionnement. La pompe d'aspiration de la platine maintient fermement les plaquettes de 5 à 20 cm, garantissant une détection précise.

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• Platine d'échantillonnage TD : conçue pour les mesures multipoints de plaquettes telles que le silicium et le saphir. Les plaquettes peuvent être tournées manuellement sur la platine (par exemple, 0°, 90°, 180°, 270°) pour répondre aux besoins spécifiques du client.

04 Modèle haute performance pour les défis liés aux grands échantillons

Pour la détection d'échantillons volumineux et complexes, les analyseurs d'orientation à rayons X de Dandong Tongda affichent des performances exceptionnelles. Le modèle TYX-2H8, par exemple, est particulièrement adapté à l'orientation des lingots et des tiges de cristal de saphir.

Cet instrument permet de mesurer les orientations des cristaux de saphir A, C, M et R, avec une plage de mesure réglable de 0 à 45° par automatisation électrique. Ses spécifications techniques sont impressionnantes :

• Tube à rayons X à cible en cuivre avec anode mise à la terre et refroidissement par air forcé.

• Courant du tube réglable : 0–4 mA ; tension du tube : 30 kV.

• Fonctionnement via ordinateur ou commande par écran tactile.

• Mouvement synchronisé du tube à rayons X et du détecteur ; table rotative à entraînement électrique.

• Consommation électrique totale : ≤ 2 kW.

Sa capacité de traitement d'échantillons comprend notamment des lingots de cristal pesant jusqu'à 30 à 180 kg, avec des dimensions maximales de 350 mm de diamètre et 480 mm de longueur. Ces capacités le rendent idéal pour la détection d'échantillons volumineux dans la plupart des scénarios industriels.

05 Applications étendues prenant en charge de multiples industries

Les analyseurs d'orientation des rayons X de Dandong Tongda sont largement utilisés dans diverses industries impliquées dans la recherche, le traitement et la fabrication de matériaux cristallins.

• Dans l'industrie des semi-conducteurs, ils permettent une découpe d'orientation précise des plaquettes de silicium.

• Dans le domaine de l'optoélectronique, ils sont utilisés pour le traitement de précision des substrats de saphir, des cristaux optiques et des cristaux laser.

• Dans le secteur des matériaux piézoélectriques, ils garantissent des mesures précises de l'angle de coupe pour des performances stables du produit final.

Ces instruments sont particulièrement adaptés aux matériaux en saphir, très recherchés pour leur dureté, leur haute transmission lumineuse et leur excellente stabilité physico-chimique. Le saphir est largement utilisé dans les substrats LED, les écrans électroniques grand public et les fenêtres optiques.

Les analyseurs d'orientation des rayons X de Dandong Tongda sont devenus des outils essentiels dans les domaines de la recherche et de la fabrication de matériaux cristallins en Chine, grâce à leurs performances fiables, leurs configurations diverses et leur forte adaptabilité.

Leur conception modulaire et la variété des options d'étage d'échantillonnage permettent aux utilisateurs de sélectionner des configurations qui répondent à des besoins spécifiques, garantissant une précision de détection élevée tout en améliorant l'efficacité du travail.

Qu'ils soient destinés aux institutions de recherche ou au contrôle de la qualité de fabrication et à l'optimisation des processus, ces instruments fournissent un support technique robuste, permettant aux utilisateurs de réaliser des percées dans la fabrication de précision.