Entraîné par un moteur pas à pas importé et contrôlé par un automate programmable industriel (PLC) Siemens importé, il n'est pas nécessaire de remplacer manuellement les échantillons. Le système mesure automatiquement les échantillons en continu et enregistre automatiquement les données. Six échantillons peuvent être chargés simultanément pour une mesure continue. Dans l'ensemble, en tant qu'équipement auxiliaire expérimental efficace, le changeur d'échantillons automatique joue un rôle important dans de nombreux domaines. Avec l'avancement continu de la technologie et la demande croissante d'applications, les performances et les fonctionnalités du changeur d'échantillons automatique seront également encore améliorées et perfectionnées.

Les accessoires de mesure intégrés multifonctionnels sont utilisés pour analyser les films sur les cartes, les blocs et les substrats, et peuvent effectuer des tests tels que la détection de phase cristalline, l'orientation, la texture, la contrainte et la structure dans le plan des films minces. Les accessoires de mesure intégrés multifonctionnels sont généralement conçus pour améliorer la fonctionnalité du diffractomètre à rayons X, leur permettant de s'adapter à des besoins de test plus divers. Il existe une relation étroite entre les accessoires de mesure intégrés multifonctionnels et le diffractomètre à rayons X. Ces accessoires améliorent non seulement la fonctionnalité et les performances du diffractomètre à rayons X, mais améliorent également sa facilité d'utilisation et sa sécurité. Dans les applications pratiques, les utilisateurs peuvent choisir des accessoires adaptés à leurs besoins spécifiques pour élargir les scénarios d'application du diffractomètre à rayons X et améliorer l'efficacité de la mesure.

L'accessoire in situ à moyenne et basse température est conçu pour comprendre les changements de structure cristalline au cours du processus de réfrigération à basse température ; afin de fournir un environnement d'échantillonnage à moyenne et basse température (généralement inférieure à la température ambiante mais pas extrêmement basse, comme une plage entre -100 ℃ et la température ambiante) pour les microscopes et autres instruments. Environnement sous vide : -196~500℃ Précision du contrôle de la température : ±0,5℃ Méthode de réfrigération : azote liquide (consommation inférieure à 4L/h) Matériau de la fenêtre : Film polyester Méthode de refroidissement : refroidissement par circulation d'eau déionisée

L'accessoire haute température est conçu pour comprendre les changements dans la structure cristalline des échantillons pendant le chauffage à haute température, ainsi que les changements dans la dissolution mutuelle de diverses substances pendant le chauffage à haute température.  Les accessoires haute température jouent un rôle crucial en tant qu'équipement expérimental et industriel important dans de nombreux domaines. Leur large gamme de domaines d'application, leurs paramètres techniques précis et leurs divers types de produits font des accessoires haute température un élément indispensable de la recherche scientifique et de la production industrielle. paramètre technique Réglage de la température : environnement de gaz inerte de la température ambiante à 1200 ℃ Environnement sous vide à haute température de 1600 ℃ Précision du contrôle de la température : ± 0,5 ℃ Matériau de la fenêtre : Film polyester

Tubes à rayons X spécialement conçus pour les instruments d'analyse : tubes en céramique ondulés, tubes en cermet et tubes en verre, adaptés à divers modèles d'analyseurs XRD, XRF, à cristaux et d'instruments d'orientation au pays et à l'étranger. Paramètres techniques des tubes à rayons X : 1. Types de matériaux cibles facultatifs : Cu, Co, Fe, Cr, Mo, Ti, W, etc. 2. Type de mise au point : 0,2 × 12 mm² ou 1 × 10 mm² ou 0,4 × 14 mm² (mise au point fine)

Accessoire de batterie d'origine, plage de test : 0,5-160 degrés, résistance à la température : 400 ℃, taille de la fenêtre en béryllium (film polyester) : diamètre 15 mm (personnalisable) ; épaisseur 0,1 mm (personnalisable). Ils sont largement utilisés comme accessoires de diffractomètre à rayons X dans les systèmes électrochimiques contenant du carbone, de l'oxygène, de l'azote, du soufre, des complexes métalliques intégrés, etc. L'accessoire de batterie d'origine est utilisé pour fixer l'ensemble de la platine d'échantillonnage de la batterie d'origine sur l'instrument de mesure d'angle du diffractomètre à rayons X, servant de connexion et de support.

Le porte-échantillon multifonction fait partie des accessoires de diffractomètre à rayons X (accessoire XRD), qui adopte une technologie de conception avancée et des idées de conception modulaire, et réalise des fonctions telles que la rotation, le différentiel de levage et la résistance à l'oxydation à haute température grâce à la combinaison de différents modules. Le porte-échantillon multifonction convient à diverses technologies avancées de croissance et de dépôt de couches minces, notamment l'épitaxie par faisceaux moléculaires (MBE), le dépôt par laser pulsé (PLD), la pulvérisation magnétron et l'évaporation par faisceau d'électrons (EB), et peut également être utilisé pour le recuit du substrat, le dégazage à haute température et la modification des matériaux. Le substrat du porte-échantillon multifonction peut atteindre une température de chauffage maximale de 1100 ℃ et peut être connecté à RF/DC, avec une rotation automatique et une vitesse de 0 à 20 tours par minute. Il est réglable en continu et offre un positionnement zéro. La conception modulaire permet de sélectionner plusieurs configurations de combinaison et la taille de l'échantillon peut accueillir jusqu'à 8 pouces. En résumé, le porte-échantillon multifonctionnel est un équipement expérimental puissant et flexible, adapté à diverses recherches scientifiques et applications industrielles en tant qu'accessoire de diffractomètre à rayons X (accessoire XRD). La conception modulaire et les multiples fonctions du porte-échantillon multifonctionnel en font un outil indispensable dans les laboratoires et la production industrielle.

L'accessoire de mesure de film optique parallèle est un outil spécialisé pour l'analyse par diffraction des rayons X, qui filtre les lignes plus dispersées en augmentant la longueur de la plaque de réseau, réduisant ainsi l'influence du signal du substrat sur les résultats et améliorant l'intensité du signal du film mince. Dans le domaine de la science des matériaux, l'accessoire de mesure de film optique parallèle est couramment utilisé pour étudier la structure cristalline, le comportement de transition de phase et l'état de contrainte des matériaux à film mince. Avec le développement de la nanotechnologie, l'accessoire de mesure de film optique parallèle a également été largement utilisé dans les tests d'épaisseur et l'analyse par diffraction à petit angle des films multicouches nanométriques. La conception et la fabrication de l'accessoire de mesure de film optique parallèle visent une haute précision pour répondre aux exigences de la recherche scientifique et de la production industrielle en matière de précision des données. Pendant l'utilisation, l'accessoire de mesure de film optique parallèle doit maintenir un degré élevé de stabilité pour garantir la fiabilité des résultats des tests. Avec l'avancement de la technologie et le développement de l'industrie, la demande d'instruments d'analyse de haute précision et de haute stabilité augmente constamment. Les accessoires de mesure de film optique parallèle, en tant que composant important, connaissent également une croissance soutenue de la demande du marché. Afin de répondre à la demande du marché et d'améliorer les performances des produits, la technologie des accessoires de mesure de film optique parallèle innove et s'améliore constamment. Par exemple, l'amélioration du matériau et de la conception des plaques de réseau, l'optimisation du système optique et d'autres moyens peuvent améliorer l'effet de filtrage et la capacité d'amélioration du signal. En résumé, les accessoires de mesure de film optique parallèle jouent un rôle crucial dans l'analyse par diffraction des rayons X. Avec l'avancement de la technologie et le développement de l'industrie, ses perspectives d'application s'élargiront encore.

Les accessoires de diffractomètre à petit angle sont des appareils spéciaux utilisés dans les expériences de diffraction des rayons X (DRX), principalement pour mesurer les pics de diffraction dans la plage d'angles faibles afin d'étudier la microstructure et les propriétés des matériaux. Les accessoires de diffractomètre à petit angle sont des appareils spécialisés pour les diffractomètres à rayons X qui permettent des mesures de diffraction précises dans une plage d'angles 2θ inférieure (généralement de 0° à 5° ou moins). Cette technologie est d'une grande importance pour l'étude des nanostructures, des matériaux mésoporeux, des films multicouches et d'autres matériaux. En configurant les accessoires de diffractomètre à petit angle correspondants, l'épaisseur des films multicouches nano peut être mesurée avec précision. Dans l'ensemble, les accessoires de diffractomètre à petit angle sont un composant indispensable et important des diffractomètres à rayons X, avec de larges perspectives d'application dans la science des matériaux, la chimie, la physique et d'autres domaines.

Les accessoires de fibre sont testés pour leur structure cristalline unique à l'aide de la méthode de diffraction des rayons X (transmission). Testez l'orientation de l'échantillon en fonction de données telles que la cristallinité de la fibre et la largeur à mi-pic. Les accessoires en fibre ont une large gamme d'applications dans divers domaines, notamment la science des matériaux, la biomédecine, le génie chimique, la nanotechnologie, l'exploration géologique, la surveillance de l'environnement, etc.

Le système d'irradiation à rayons X de l'armoire génère des rayons X à haute énergie pour irradier des cellules ou des petits animaux. Utilisé pour diverses recherches fondamentales et appliquées. Dans l'histoire, des équipements d'irradiation à isotopes radioactifs ont été utilisés, ce qui nécessite le transport d'échantillons vers une installation d'irradiation centrale. Aujourd'hui, des dispositifs d'irradiation à rayons X plus petits, plus sûrs, plus simples et moins coûteux peuvent être installés dans les laboratoires pour une irradiation pratique et rapide des cellules. Divers échantillons peuvent être directement irradiés en laboratoire sans affecter la fertilité ou la sécurité. Cet appareil d'irradiation à rayons X biologique est pratique pour le personnel sans formation professionnelle en rayons X, et il n'y a pas de demandes de licence coûteuses ni de coûts de maintenance pour la sécurité ou les sources de rayonnement. L'instrument d'irradiation à rayons X est facile à utiliser, sûr, fiable et rentable, et peut remplacer les sources d'isotopes radioactifs.

L'analyseur d'orientation des rayons X est un appareil qui utilise le principe de la diffraction des rayons X pour déterminer l'orientation des cristaux. Il est largement utilisé dans des domaines tels que la science des matériaux, la géologie, la physique, etc., pour étudier la structure cristalline, les paramètres du réseau, les défauts cristallins, etc. Le principe de fonctionnement d'un analyseur d'orientation des rayons X consiste à irradier un faisceau de rayons X monochromatique sur le cristal testé. Lorsque les rayons X interagissent avec les atomes du cristal, une diffusion se produit. Selon la loi de Bragg, lorsque la longueur d'onde des rayons X est un multiple entier de l'espacement atomique dans un cristal, la lumière diffusée interfère et forme une série de bandes alternées claires et sombres, appelées réflexions de Bragg. En mesurant les angles et les intensités de ces réflexions de Bragg, des informations telles que l'orientation du cristal et les paramètres du réseau peuvent être calculées. L'analyseur d'orientation des rayons X comprend généralement les éléments principaux suivants : 1. Source de rayons X : un dispositif qui produit des rayons X monochromatiques, généralement à l'aide d'un tube à rayons X ou d'une source de rayonnement synchrotron. 2. Étape d'échantillonnage : une plate-forme utilisée pour placer le cristal à tester, qui peut ajuster la position et l'angle du cristal. 3. Détecteur : utilisé pour recevoir les rayons X diffusés et les convertir en signaux électriques. Les détecteurs courants comprennent les compteurs à scintillation, les compteurs proportionnels, etc. 4. Système d'acquisition et de traitement des données : utilisé pour collecter les signaux émis par les détecteurs et effectuer le traitement et l'analyse des données. Comprend généralement des analyseurs multicanaux, des ordinateurs et d'autres équipements. 5. Système de contrôle : utilisé pour contrôler le mouvement de la source de rayons X, de la platine d'échantillonnage et du détecteur pour réaliser la mesure des cristaux dans différentes directions. En utilisant un analyseur d'orientation à rayons X, les chercheurs peuvent déterminer avec précision l'orientation et les paramètres de réseau des cristaux, acquérant ainsi une compréhension plus approfondie de leur structure et de leurs propriétés. Cela revêt une grande importance pour le développement de nouveaux matériaux, l'exploration géologique, la croissance cristalline et d'autres domaines.