Le changeur d'échantillons automatique utilisé dans les diffractomètres à rayons X est un dispositif utilisé pour le remplacement automatisé des échantillons, visant à améliorer l'efficacité et la précision des expériences de diffraction des rayons X. Entraîné par un moteur pas à pas importé et contrôlé par un automate programmable industriel (API) Siemens importé, le remplacement manuel des échantillons est superflu. Le système mesure automatiquement les échantillons en continu et enregistre automatiquement les données. Plusieurs échantillons peuvent être chargés simultanément pour une mesure continue. Les principaux composants d'un passeur d'échantillons automatique sont : Mécanisme de transfert d'échantillons : comprend généralement une bande transporteuse, une plaque de pression élastique et un moteur d'entraînement, chargés de transférer séquentiellement les plaques d'échantillons de test vers la position de récupération. Mécanisme de remplacement d'échantillon : généralement composé de composants de serrage, de composants d'entraînement d'action et d'un plateau tournant, il peut remplacer automatiquement la plaque d'échantillon entre la position de ramassage de la bande transporteuse et l'étage d'échantillon de l'instrument de diffraction. Module de capteur : tel que le module de capteur photoélectrique et le module de capteur à photorésistance, utilisé pour détecter la position de l'échantillon et l'état de fonctionnement du diffractomètre, afin de contrôler le module de circuit pour effectuer les actions de contrôle correspondantes. Module de circuit de contrôle : connectez et contrôlez le travail collaboratif des mécanismes et modules mentionnés ci-dessus pour assurer un fonctionnement précis et stable du processus de changement automatique d'échantillons. Module d'alimentation : fournit un support d'alimentation pour l'ensemble du dispositif de changement automatique d'échantillons. 2. Principe de fonctionnement du changeur d'échantillons automatique : Une fois que le diffractomètre a terminé le test de l'échantillon actuel, le module de capteur détecte le changement d'état de la lumière de l'obturateur du diffractomètre et transmet le signal au module du circuit de commande. Après avoir reçu le signal, le module de circuit de commande active le mécanisme de remplacement de l'échantillon pour le déplacer vers la position de ramassage de la bande transporteuse et l'étage d'échantillon de l'instrument de diffraction, et serre les plaques d'échantillon aux deux positions respectivement via les pièces de serrage. Ensuite, le mécanisme de remplacement d'échantillon échange les positions des deux plaques d'échantillon pour terminer l'opération de remplacement d'échantillon. Ensuite, le tapis roulant démarre et transporte la prochaine planche d'échantillons vers la position de prélèvement, en attendant le prochain changement d'échantillon. 3. Avantages et caractéristiques des changeurs d’échantillons automatiques : • Améliorer l'efficacité des tests : il peut remplacer automatiquement les échantillons pendant le processus de test de l'instrument de diffraction sans intervention manuelle, raccourcissant considérablement le cycle de test et améliorant l'efficacité du travail. • Réduire les erreurs humaines : éviter les erreurs opérationnelles et les fautes qui peuvent survenir lors du remplacement manuel des échantillons et améliorer la précision et la fiabilité des résultats des tests. • Protection de l'instrument : réduit le risque de défaillance de l'instrument causée par l'ouverture et la fermeture manuelles fréquentes de la porte du diffractomètre et prolonge la durée de vie du diffractomètre. • Convient pour tester un grand nombre d'échantillons : il peut charger plusieurs échantillons pour répondre aux besoins de tests continus d'un grand nombre d'échantillons et convient à la détection à haut débit dans des domaines tels que la recherche scientifique et la production. En résumé, le changeur d'échantillons automatique utilisé dans les instruments de diffraction des rayons X est un équipement automatisé efficace et précis qui apporte de nombreuses commodités et avantages aux expériences de diffraction des rayons X, contribuant à améliorer l'efficacité et la qualité expérimentales.

Le monochromateur à cristal incurvé en graphite utilisé dans les diffractomètres à rayons X est un composant essentiel pour sélectionner des longueurs d'onde spécifiques de rayons X et éliminer les rayonnements indésirables tels que les raies Kβ et les rayons X fluorescents. Installé devant le détecteur de rayons X, il monochromatise les rayons X traversant la fente réceptrice et ne détecte que les rayons X caractéristiques Kα du spectre. Ce dispositif permet d'éliminer totalement les rayons X continus, les rayons X caractéristiques Kβ et les rayons X fluorescents, permettant ainsi une analyse par diffraction des rayons X avec un rapport signal/bruit élevé. L'utilisation de tubes à rayons X à cible en cuivre avec les monochromateurs correspondants permet d'éliminer les rayons X fluorescents générés par des échantillons à base de manganèse, de fer, de cobalt et de nickel, ce qui les rend adaptés à l'analyse de divers échantillons. principe de fonctionnement : Diffraction de Bragg : selon la loi de Bragg, lorsque des rayons X frappent un cristal sous un certain angle, si 2dsin θ=n λ (où d est l'espacement interplanaire du cristal, θ l'angle d'incidence, λ la longueur d'onde des rayons X et n un entier), une diffraction se produit. Ce principe permet d'ajuster l'orientation du cristal afin que seuls les rayons X répondant à des conditions spécifiques puissent le traverser, permettant ainsi la sélection des longueurs d'onde des rayons X. Résolution énergétique : Grâce à l'espacement interplanaire et aux caractéristiques structurelles des cristaux de graphite, ils permettent de distinguer efficacement les rayons X de différentes énergies. Un monochromateur à cristal incurvé en graphite à haute résolution énergétique permet de réduire davantage les rayonnements indésirables et d'améliorer la qualité des données de diffraction. Caractéristiques structurelles : Forme incurvée : les monochromateurs à cristal incurvé en graphite présentent généralement une forme incurvée, ce qui favorise la focalisation des rayons X et améliore l'efficacité de la diffraction. Cette forme incurvée contribue également à réduire les contraintes sur le cristal, améliorant ainsi sa stabilité et sa durée de vie. Graphite de haute pureté : Le monochromateur à cristal incurvé en graphite est généralement fabriqué à partir de matériaux en graphite de haute pureté pour garantir leurs bonnes performances de diffraction et leur stabilité. Efficacité de diffraction élevée : il a une efficacité de diffraction élevée, qui peut sélectionner efficacement les rayons X de la longueur d'onde souhaitée, améliorant ainsi la qualité des données de diffraction. Large gamme de longueurs d'onde : il peut fonctionner sur une large gamme de longueurs d'onde et convient à divers types d'expériences de diffraction des rayons X. Bonne stabilité : Grâce à l'utilisation d'un matériau en graphite de haute pureté, il présente une bonne stabilité et une longue durée de vie. Domaines d'application : Science des matériaux : Dans ce domaine, les diffractomètres à rayons X sont largement utilisés pour étudier la structure cristalline, la composition des phases et d'autres propriétés des matériaux. Le monochromateur à cristal incurvé en graphite, composant essentiel du diffractomètre à rayons X, apporte un soutien technique précieux à la recherche en science des matériaux. Physique : Dans le domaine de la physique, les diffractomètres à rayons X sont également utilisés pour étudier la microstructure et les propriétés physiques de la matière. En résumé, le monochromateur à cristal incurvé en graphite utilisé dans les diffractomètres à rayons X est un dispositif de sélection et de filtrage des rayons X efficace et précis, fournissant un support technique important pour les expériences de diffraction des rayons X.

Le porte-échantillon rotatif d'un diffractomètre à rayons X est un élément clé pour un réglage et une fixation précis de la position de l'échantillon. Ce dernier peut pivoter sur son propre plan, ce qui est avantageux pour les erreurs dues aux grains grossiers. Pour les échantillons texturés et cristallographiques, le porte-échantillon rotatif assure une bonne reproductibilité de l'intensité de diffraction et élimine l'orientation préférentielle. Principe de fonctionnement du porte-échantillon rotatif : Lorsque le diffractomètre à rayons X fonctionne, les rayons X de haute énergie générés par la source sont irradiés sur l'échantillon fixé sur la platine rotative. En raison de la structure cristalline et des paramètres de maille spécifiques de l'échantillon, les rayons X subissent des phénomènes de diffusion, d'absorption et de diffraction lors de leur interaction avec l'échantillon, phénomènes qui se produisent conformément à l'équation de Bragg. Le porte-échantillon rotatif peut pivoter à des angles plus petits selon le réglage, permettant ainsi à l'échantillon de recevoir des rayons X sous différents angles et d'obtenir ainsi des diagrammes de diffraction sous différents angles. Ainsi, le détecteur peut mesurer l'intensité des rayons X après diffraction de l'échantillon et la convertir en signal électrique transmis à l'ordinateur pour le traitement des données. La fonction principale du porte-échantillon rotatif est : Méthode de rotation : axe β (plan d'échantillonnage) Vitesse de rotation : 1 à 60 tr/min Petite largeur de pas : 0,1 º Mode de fonctionnement : Rotation à vitesse constante pour le balayage des échantillons (étape, continu) Avantages du porte-échantillon rotatif : Le porte-échantillon rotatif peut améliorer la précision des données de diffraction : pour les échantillons de poudre ou de particules de forme irrégulière, la caractéristique d'orientation préférentielle est susceptible de se produire lors de la préparation conventionnelle des échantillons de poudre, ce qui entraîne des écarts dans la distribution de l'intensité de diffraction et affecte la précision de l'analyse des résultats. La rotation du porte-échantillon permet de déplacer l'échantillon selon une certaine forme dans un espace approprié, éliminant ainsi dans une certaine mesure l'influence de l'orientation préférentielle et améliorant ainsi la précision des données de diffraction. Le porte-échantillon rotatif s'adapte à divers besoins d'essai : il peut s'adapter à différents types d'instruments de mesure d'angle par diffraction des rayons X, tels que les instruments de mesure d'angle vertical, les équipements de diffraction sur poudre compacts à faible consommation, etc., ce qui facilite la réalisation de divers essais. De plus, il peut s'adapter aux exigences de divers échantillons et conditions d'essai en ajustant des paramètres tels que la vitesse et la direction. Le porte-échantillon rotatif peut étendre les capacités d'analyse de l'instrument : de nouveaux types de platines d'échantillons rotatives sont constamment développés et appliqués, tels que certaines platines d'échantillons pour l'analyse par diffraction électrochimique des rayons X in situ, qui peuvent surveiller et analyser les changements de matériaux dans différents environnements ou conditions en temps réel, élargissant ainsi les capacités d'analyse des équipements de diffraction des rayons X. En résumé, le porte-échantillon rotatif dans le diffractomètre à rayons X est essentiel pour obtenir avec précision des informations sur la structure cristalline des substances. Le porte-échantillon rotatif peut non seulement améliorer la précision des données de diffraction, mais également s'adapter à divers besoins de test et étendre les capacités analytiques de l'instrument.

Dans le diffractomètre à rayons X, les accessoires de mesure intégrés multifonctions sont essentiels pour améliorer considérablement la fonctionnalité et la flexibilité de l'instrument. Utilisés pour l'analyse des films sur cartes, blocs et substrats, ils permettent d'effectuer des tests tels que la détection de phase cristalline, l'orientation, la texture, la contrainte et la structure plane des films minces. Aperçu de base des accessoires de mesure intégrés multifonctionnels : Définition : Il s'agit d'un terme général désignant une série de dispositifs ou de modules supplémentaires utilisés dans un diffractomètre à rayons X pour étendre les fonctions de l'instrument, améliorer la précision et l'efficacité des mesures. Objectif : Ces accessoires visent à permettre au diffractomètre à rayons X de répondre à une plus large gamme de besoins expérimentaux et de fournir des informations plus complètes et plus précises sur la structure des matériaux. Les caractéristiques fonctionnelles des accessoires de mesure intégrés multifonctionnels : Effectuer des tests de diagramme polaire en utilisant des méthodes de transmission ou de réflexion ; Les tests de résistance peuvent être effectués soit en utilisant la méthode d’inclinaison parallèle, soit en utilisant la même méthode d’inclinaison ; Test de couche mince (rotation dans le plan de l'échantillon). Caractéristiques techniques des accessoires de mesure intégrés multifonctionnels : Haute précision : ils utilisent généralement une technologie de détection et des systèmes de contrôle avancés pour garantir une haute précision et une répétabilité des mesures. Automatisation : de nombreux accessoires prennent en charge les opérations automatisées et peuvent être intégrés de manière transparente à l'hôte du diffractomètre à rayons X pour réaliser une mesure en un clic. Conception modulaire : permet aux utilisateurs de sélectionner et de combiner différents modules d'accessoires en fonction de leurs besoins réels. Domaines d'application des accessoires de mesure intégrés multifonctionnels : Largement utilisé dans des domaines tels que la science des matériaux, la physique, la chimie, la biologie et la géologie ; Évaluation des structures d'assemblage métalliques telles que les plaques laminées ; Evaluation de l'orientation de la céramique ; Évaluation de l'orientation prioritaire des cristaux dans des échantillons de films minces ; Essais de contraintes résiduelles de divers matériaux métalliques et céramiques (évaluation de la résistance à l'usure, de la résistance à la coupe, etc.) ; Essais de contraintes résiduelles de films multicouches (évaluation du décollement du film, etc.) ; Analyse de l'oxydation de surface et des films de nitrure sur des matériaux supraconducteurs à haute température tels que des films minces et des plaques métalliques ; Verre Si, Analyse de films multicouches sur substrats métalliques (films minces magnétiques, films durcissants de surface métalliques, etc.) ; Analyse de matériaux de galvanoplastie tels que les matériaux macromoléculaires, le papier et les lentilles. Les accessoires de mesure multifonctionnels intégrés au diffractomètre à rayons X sont essentiels pour améliorer les performances de l'instrument. Ils optimisent non seulement les fonctionnalités de l'instrument, mais aussi la précision et l'efficacité des mesures, offrant aux chercheurs des méthodes d'analyse des matériaux plus complètes et plus approfondies. Grâce aux progrès technologiques constants, ces accessoires continueront de jouer un rôle important dans la promotion de la recherche scientifique dans des domaines connexes et permettront de nouvelles avancées.

L'accessoire haute température d'un diffractomètre est un dispositif supplémentaire permettant d'effectuer une analyse par diffraction des rayons X sur des échantillons soumis à des températures élevées. Il permet de comprendre les modifications de la structure cristalline des échantillons lors d'un chauffage à haute température et les variations de dissolution mutuelle de diverses substances lors de ce chauffage. Principe de fonctionnement de l'accessoire haute température : Grâce à des méthodes telles que le chauffage par résistance, le chauffage par induction ou le chauffage par rayonnement, l'échantillon est chauffé dans une plage de température définie. Parallèlement, l'appareil est équipé de capteurs de température et de systèmes de contrôle de haute précision pour surveiller et ajuster la température de l'échantillon en temps réel, garantissant ainsi sa stabilité et sa précision. La précision du contrôle de température peut atteindre ±0,5 °C, voire plus. Afin de maintenir la stabilité de l'échantillon à haute température et d'éviter toute réaction avec l'oxygène de l'air, les accessoires haute température nécessitent généralement un système de protection de l'atmosphère. Les atmosphères courantes comprennent des gaz inertes tels que l'argon et l'azote. Ce système de contrôle de l'atmosphère permet de contrôler avec précision le débit et la pression de l'atmosphère, offrant ainsi un environnement expérimental stable pour l'échantillon. Les principales fonctions de l'accessoire haute température sont : La surveillance en temps réel des transitions de phase, des réactions chimiques, des modifications de la structure cristalline et d'autres processus d'un échantillon peut être réalisée dans des environnements à haute température afin d'obtenir des informations sur la structure et les propriétés des substances à différentes températures. L'analyse de la position, de l'intensité et de la forme des pics de diffraction permet d'obtenir les paramètres de la cellule cristalline, la structure cristalline, la composition de la phase et d'autres informations sur l'échantillon, et de mesurer avec précision la teneur de chaque composant. L'étude de la vitesse, du mécanisme et du comportement de diffusion des réactions chimiques permet, par exemple, d'observer les modifications structurelles des catalyseurs lors de réactions à haute température, de comprendre la formation et la disparition de leurs centres actifs et d'optimiser leurs performances. Domaine d'application de l'accessoire haute température : Utilisé pour étudier la transition de phase, l'évolution de la structure cristalline et les variations de performances des matériaux supraconducteurs haute température, des alliages métalliques, des matériaux céramiques, etc. à différentes températures, fournissant ainsi une base pour la conception et la préparation des matériaux. Le suivi des modifications des substances au cours des réactions chimiques, comme l'étude des changements structuraux des catalyseurs et de l'évolution des centres actifs dans les réactions catalytiques à haute température, peut contribuer au développement de catalyseurs efficaces. Étudiez les propriétés physiques des substances à haute température, telles que le magnétisme, la structure électronique et leur relation avec la température, et explorez de nouveaux phénomènes et lois physiques. Paramètre technique de l'accessoire haute température : Réglage de la température : environnement de gaz inerte de la température ambiante à 1200 ℃ Environnement sous vide : température élevée de 1600 ℃ Précision du contrôle de la température : ± 0,5 ℃ Matériau de la fenêtre : Film polyester Méthode de refroidissement : refroidissement par circulation d'eau déionisée En résumé, l'accessoire haute température du diffractomètre est un outil de test important qui peut effectuer une analyse par diffraction des rayons X sur des échantillons dans des conditions de température élevée, offrant un soutien solide à la recherche dans des domaines tels que la science des matériaux, le génie chimique et la physique.

Le porte-échantillon multifonction d'un diffractomètre à rayons X est un dispositif utilisé pour placer et fixer des échantillons, avec de multiples fonctions et fonctionnalités. Il peut tester des traces d'échantillons de poudre, ainsi que des échantillons en forme de feuille, de grande taille, irréguliers, qui ne peuvent pas être coupés ou broyés en poudre. Le porte-échantillon multifonctionnel permet la fixation et le support de l'échantillon : le porte-échantillon peut fixer fermement l'échantillon, garantissant que l'échantillon reste stable pendant la diffraction des rayons X et empêchant la précision et la fiabilité des données de diffraction d'être affectées par le mouvement de l'échantillon. Le support d'échantillon multifonction réglage de la hauteur et de l'angle : il a la fonction de réglage de la hauteur et de l'angle, et peut ajuster de manière flexible la distance et l'angle relatif entre l'échantillon et le tube à rayons X et le détecteur en fonction de la taille, de la forme et des exigences de détection de différents échantillons, afin d'obtenir le meilleur effet de diffraction. Fonction de rotation du porte-échantillon multifonction : certaines tables d'échantillons peuvent pivoter, permettant à l'échantillon de recevoir une irradiation aux rayons X sous différents angles, obtenant ainsi plus d'informations de diffraction sous différents angles, ce qui permet d'analyser de manière complète la structure cristalline et l'orientation de l'échantillon. Adaptation du porte-échantillon multifonctionnel : il peut s'adapter à différents types d'échantillons, tels que solides, liquides, poudres, etc. En remplaçant différents supports ou accessoires d'échantillons, il peut répondre aux exigences de test de divers échantillons. Contrôle environnemental du porte-échantillon multifonctionnel : certains porte-échantillons avancés sont également équipés de systèmes de contrôle environnemental qui peuvent tester des échantillons dans des conditions de température, d'humidité, d'atmosphère et d'autres conditions spécifiques pour simuler les effets de différents environnements sur les échantillons, élargissant encore la gamme d'applications des diffractomètres à rayons X. Le porte-échantillon multifonction du diffractomètre à rayons X est un équipement auxiliaire puissant, flexible et polyvalent, qui est d'une grande importance pour améliorer la précision et l'efficacité des expériences de diffraction des rayons X.

L'accessoire de mesure de film optique parallèle est un composant optique utilisé pour améliorer l'intensité du signal des films minces et réduire l'influence des signaux du substrat sur les résultats de mesure. Il est généralement utilisé dans les expériences ou instruments optiques, principalement pour générer des faisceaux parallèles ou effectuer des mesures optiques sur des échantillons de films minces. En augmentant la longueur du réseau, un contrôle et un filtrage plus précis de la lumière peuvent être obtenus. Lorsque la lumière passe à travers, la plaque de réseau peut filtrer davantage de lignes diffusées, rendant la lumière transmise plus pure et plus concentrée, réduisant ainsi l'interférence de la lumière diffusée sur le signal du film mince et améliorant la force du signal du film mince lui-même, améliorant ainsi la précision et la fiabilité de la mesure. 1. Fonction principale de l'accessoire de mesure de film optique parallèle Amélioration de la précision de mesure : dans la détection et l'analyse liées aux films minces, telles que la mesure de l'épaisseur des films minces, la détermination de la constante optique, etc., les fixations de films minces à lumière parallèle peuvent réduire efficacement l'influence des signaux de substrat, rendant les résultats de mesure plus proches des véritables caractéristiques du film mince, améliorant ainsi la précision et l'exactitude de la mesure. Amélioration de la puissance du signal : elle permet d'augmenter l'intensité du signal lumineux réfléchi ou transmis par le film mince, ce qui est particulièrement important pour certains échantillons de film mince avec des signaux plus faibles. Le signal amélioré peut être reçu et reconnu plus clairement par le détecteur, réduisant ainsi la limite de détection et améliorant la sensibilité de l'instrument pour la détection d'échantillons de film mince. Amélioration de la qualité de l'image : dans certaines applications qui nécessitent une observation d'imagerie de films minces, comme l'observation de la morphologie de surface de films minces au microscope, les fixations de films minces à lumière parallèle peuvent réduire le bruit de fond et le flou causés par la lumière diffusée, rendant l'image du film mince plus claire, avec un contraste plus élevé et plus facile à observer et à analyser la structure détaillée du film mince. 2. Principaux composants de l'accessoire de mesure de film optique parallèle Source de lumière : En général, des lasers, des LED ou d’autres sources de lumière monochromatique sont utilisés. Lentille collimatrice : convertit les faisceaux lumineux divergents en lumière parallèle. Support d'échantillon : utilisé pour placer des échantillons de films, généralement réglable en position et en angle. Détecteur : utilisé pour recevoir des signaux lumineux transmis ou réfléchis à des fins de mesure et d'analyse. 3. Domaines d'application de l'accessoire de mesure de film optique parallèle Recherche optique : utilisée pour étudier les propriétés optiques des films minces, telles que les interférences, la diffraction, etc. Science des matériaux : utilisée pour mesurer l'épaisseur et l'indice de réfraction des films minces et évaluer les propriétés des matériaux. Tests industriels : utilisés pour le contrôle qualité et les tests dans la production de films. 4. Instructions pour l'accessoire de mesure de film optique parallèle Ajustez la source lumineuse : Assurez-vous que la source lumineuse est stable et que le faisceau est uniforme. Faisceau collimaté : Ajustez le faisceau lumineux à travers une lentille de collimation pour le rendre parallèle. Placer l'échantillon : Placez l'échantillon de film sur la platine d'échantillon, ajustez la position et l'angle. Mesure et analyse : utiliser des détecteurs pour recevoir des signaux lumineux, enregistrer des données et effectuer des analyses. 5. Précautions Stabilité de la source lumineuse : Assurez la stabilité de la source lumineuse pour éviter les erreurs de mesure. Nettoyage des composants optiques : Gardez les composants optiques propres pour éviter que la poussière et les taches n'affectent les résultats de mesure. Préparation de l'échantillon : assurez-vous que l'échantillon de film est uniforme et sans défaut pour obtenir des résultats de mesure précis. En résumé, l'accessoire de mesure de film optique parallèle est un composant optique important qui joue un rôle crucial dans de nombreux domaines et revêt une grande importance dans la promotion de la recherche scientifique et du progrès technologique dans les domaines connexes.

L'accessoire moyenne et basse température d'un diffractomètre à rayons X est un élément clé utilisé pour l'analyse par diffraction des rayons X dans des environnements à basse température. L'accessoire moyenne et basse température est largement utilisé dans les travaux de recherche et développement en science des matériaux, physique, chimie et d'autres domaines, particulièrement adapté aux scénarios qui nécessitent une analyse structurelle des matériaux dans différentes conditions de température. Afin de comprendre les changements de structure cristalline au cours du processus de réfrigération à basse température, voici les paramètres techniques de l'accessoire moyenne et basse température : Environnement sous vide : - 196~500℃ Précision du contrôle de la température : ± 0,5 ℃ Méthode de réfrigération : azote liquide (consommation inférieure à 4L/h) Matériau de la fenêtre : Film polyester Méthode de refroidissement : refroidissement par circulation d'eau déionisée En bref, l'accessoire moyenne et basse température du diffractomètre à rayons X est un composant d'équipement important qui peut fournir un soutien solide à la recherche scientifique et à l'analyse des matériaux. L'accessoire moyenne et basse température d'un diffractomètre est l'un des outils importants dans le domaine de l'analyse de la structure des matériaux, avec de larges perspectives d'application et une valeur de recherche significative. L'accessoire moyenne et basse température du diffractomètre est un composant clé pour assurer le fonctionnement normal et la mesure précise de l'instrument dans des conditions de basse température. Sa conception et ses performances affectent directement la précision et la fiabilité des résultats expérimentaux. Lors de la sélection et de l'application de l'accessoire moyenne et basse température, les exigences expérimentales, les caractéristiques de l'échantillon, ainsi que les paramètres techniques et les caractéristiques de performance des accessoires doivent être pleinement pris en compte pour garantir les meilleurs résultats expérimentaux.

L'irradiateur à rayons X génère des rayons X à haute énergie pour irradier des objets cibles ou des tissus biologiques. La génération de rayons X est généralement obtenue en accélérant des électrons pour entrer en collision avec des cibles métalliques (telles que le tungstène, le cuivre, etc.), générant un rayonnement de freinage et formant des faisceaux de rayons X, qui irradient ensuite des cellules ou de petits animaux. L'irradiateur à rayons X est utilisé pour diverses recherches fondamentales et appliquées. Historiquement, des irradiateurs à isotopes radioactifs étaient utilisés, ce qui nécessitait le transport d'échantillons vers une installation d'irradiation centrale. Cependant, aujourd'hui, des irradiateurs à rayons X plus petits, plus sûrs, plus simples et moins coûteux peuvent être installés dans les laboratoires pour une irradiation pratique et rapide des cellules. Divers échantillons peuvent être irradiés directement en laboratoire sans affecter la fertilité ou la sécurité. L'irradiateur à rayons X est pratique pour le personnel qui n'a pas reçu de formation professionnelle en rayons X, et il n'y a pas de demandes de licence coûteuses ni de coûts de sécurité ou de maintenance de la source de rayonnement. L'irradiateur à rayons X est facile à utiliser, sûr, fiable et rentable et peut remplacer les sources d'isotopes radioactifs. 1. Les principaux domaines d'application de l'irradiateur à rayons X comprennent le domaine médical, le domaine de la recherche scientifique, etc. 2. Précautions de sécurité pour les équipements d’irradiation aux rayons X : Radioprotection : les opérateurs doivent porter des vêtements de protection pour éviter une exposition prolongée aux rayons X. Entretien de l’équipement : Inspecter régulièrement l’équipement pour assurer son fonctionnement normal et éviter les fuites de rayonnement. Contrôle de la dose : Contrôlez strictement la dose d’irradiation pour éviter tout dommage inutile à l’échantillon ou au corps humain.

Le principe et l'application de la machine d'essai de soudage à rayons X portable NDT : La machine d'essai de soudage à rayons X portable CND utilise les propriétés acoustiques, optiques, magnétiques et électriques des matériaux pour détecter la présence de défauts ou d'irrégularités dans l'objet testé sans endommager ou affecter ses performances. Il fournit des informations sur la taille, l'emplacement, la nature et la quantité des défauts. Par rapport aux tests destructifs, les tests non destructifs présentent les caractéristiques suivantes. La première est non destructive, car elle ne compromet pas les performances de l'objet détecté pendant le test ; La deuxième est complète, car la détection est non destructrice, il est nécessaire d'effectuer une détection complète à 100 % de l'objet testé, ce qui ne peut être réalisé par une détection destructive ; La troisième est complète, et les tests destructifs ne s'appliquent généralement qu'aux tests de matières premières, telles que la tension, la compression, la flexion, etc. couramment utilisées en génie mécanique. Les tests destructifs sont effectués sur les matières premières de fabrication, et pour les produits finis et les articles en cours d'utilisation, les tests destructifs ne peuvent être effectués que s'ils ne sont pas destinés à continuer à servir. Les tests non destructifs, en revanche, n'endommagent pas les performances de l'objet testé. Ainsi, il peut non seulement effectuer des tests de processus complets sur les matières premières de fabrication, les processus intermédiaires et même les produits finis, mais également tester les équipements en service. Caractéristiques de la machine d'essai de soudage à rayons X portable NDT : Le générateur de rayons X a un petit volume, avec une anode mise à la terre et un refroidissement forcé par un ventilateur ; ◆ Léger, facile à transporter et simple à utiliser ; Travail et repos dans un rapport 1:1 ; Belle apparence et structure raisonnable; ◆ Exposition différée pour assurer la sécurité de l’opérateur ; L'objectif principal de la machine d'essai de soudage à rayons X portable NDT : L'objectif principal de l'équipement est d'inspecter la qualité du traitement et du soudage des matériaux et des composants tels que les coques de navires, les pipelines, les récipients à haute pression, les chaudières, les avions, les véhicules et les ponts dans les secteurs industriels tels que la défense nationale, la construction navale, le pétrole, la chimie, la mécanique, l'aérospatiale et la construction, ainsi que les défauts internes et la qualité inhérente de divers métaux légers, caoutchouc, céramique, etc.

L'orienteur à cristal à rayons X fonctionne sur le principe de la diffraction des rayons X. La haute tension générée par le transformateur haute tension agit sur le tube à rayons X, produisant des rayons X. Lorsque les rayons X sont irradiés sur l'échantillon, la diffraction se produit lorsque la condition de diffraction de Bragg (n λ=2dsin θ) est satisfaite. Parmi eux, λ est la longueur d'onde des rayons X, d est l'espacement entre les plans atomiques à l'intérieur du cristal et θ est l'angle entre les rayons X incidents et le plan du cristal. La ligne de diffraction est reçue par le tube de comptage et affichée sur le microampèremètre de l'amplificateur. Lors de l'utilisation d'un monochromateur, la ligne de diffraction est monochromatisée puis reçue par le compteur et affichée sur le microampèremètre de l'amplificateur, améliorant ainsi la précision de la mesure. L'orienteur de cristal à rayons X peut déterminer avec précision et rapidité l'angle de coupe des monocristaux naturels et artificiels (cristaux piézoélectriques, cristaux optiques, cristaux laser, cristaux semi-conducteurs) et est équipé d'une machine de découpe pour la découpe directionnelle des cristaux mentionnés ci-dessus. L'orienteur de cristal à rayons X est un instrument indispensable pour l'usinage de précision et la fabrication de dispositifs à cristal. L'orienteur de cristal à rayons X est largement utilisé dans les industries de recherche, de traitement et de fabrication de matériaux cristallins. L'orienteur à cristal à rayons X est facile à utiliser, ne nécessite pas de connaissances professionnelles ni de techniques spécialisées, affiche l'angle numériquement, est facile à observer et réduit les erreurs de lecture. L'affichage de l'instrument d'orientation à cristal à rayons X peut être mis à zéro à n'importe quelle position, ce qui facilite l'affichage de la valeur d'écart de l'angle de la puce. L'instrument de mesure d'angle double peut fonctionner simultanément, améliorant ainsi l'efficacité. L'orienteur à cristal à rayons X dispose d'un intégrateur spécial avec amplification de crête, ce qui améliore la précision de détection. L'intégration du tube à rayons X et du câble haute tension augmente la fiabilité de la haute tension. Le détecteur haute tension adopte un module haute tension CC et une carte d'échantillon à aspiration sous vide, ce qui améliore la précision et la vitesse de mesure de l'angle. Dans l’ensemble, l’orienteur de cristaux à rayons X est un instrument de précision basé sur le principe de la diffraction des rayons X, qui fournit un support technique important pour la recherche sur les matériaux cristallins et les applications associées en mesurant avec précision l’angle de coupe des cristaux.

Les accessoires pour diffractomètres à petit angle sont des accessoires importants utilisés dans les diffractomètres à rayons X. Les accessoires pour diffractomètres à petit angle permettent de prendre des mesures de diffraction des rayons X dans une plage d'angle très réduite, de 0° à 5°, pour tester l'épaisseur des films multicouches nanométriques. Ils jouent un rôle important dans des domaines tels que la science des matériaux, la physique, la chimie et la biologie. Types et caractéristiques courants : Accessoire pour film mince à lumière parallèle : cet accessoire peut générer des faisceaux de rayons X parallèles et convient aux mesures de diffraction à petit angle d'échantillons de films minces. Il peut améliorer la précision et la résolution des mesures, réduire les erreurs de mesure causées par la divergence du faisceau et mieux s'adapter aux échantillons de films minces de différentes épaisseurs et propriétés. Platine d'échantillon multifonctionnelle : équipée d'accessoires de diffraction à petit angle, la platine d'échantillon multifonctionnelle peut fournir divers environnements de test pour les échantillons, tels que le chauffage, le refroidissement, l'étirement in situ, etc. Cela rend plus pratique l'étude des changements structurels des matériaux dans différentes conditions externes et permet l'observation en temps réel de la réponse structurelle des matériaux pendant la température, la contrainte et d'autres changements. Les accessoires de diffractomètre à petit angle jouent un rôle important dans de nombreux domaines tels que la science des matériaux, la physique, la chimie et la biologie en réalisant une diffraction à petit angle et une mesure précise de l'épaisseur du film multicouche nano, offrant aux chercheurs un outil puissant pour une exploration approfondie des microstructures et des propriétés des matériaux.