Basée sur la loi de Bragg, la diffraction des rayons X (DRX) in situ peut être utilisée pour surveiller le changement de phase et ses paramètres de réseau dans l'électrode ou l'interface électrode-électrolyte en temps réel pendant le cycle de charge-décharge d'un batterie.
E-mailPlus
Les tests aux rayons X sont une méthode de test non destructive qui n'endommage pas l'objet lui-même et qui a été largement utilisée dans les tests de matériaux (CQ), l'analyse des défaillances (FA), le contrôle qualité (CQ), l'assurance qualité et la fiabilité (AQ/ QC), recherche et développement (R&D) et autres domaines.
E-mailPlus
Trois détecteurs à point unique sont partagés ci-dessous : un compteur proportionnel, un compteur à scintillation et un détecteur à semi-conducteur à semi-conducteur.
E-mailPlus
L'analyseur de cristaux à rayons X est une sorte de grand instrument analytique pour étudier la microstructure interne des substances, principalement utilisé dans l'orientation monocristalline, la détection de défauts, la détermination des contraintes résiduelles, la dislocation monocristalline, etc.
E-mailPlus
Diffraction des rayons X, à travers la diffraction des rayons X d'un matériau, l'analyse de son diagramme de diffraction, pour obtenir la composition du matériau, la structure ou la forme des atomes ou molécules à l'intérieur du matériau et d'autres moyens de recherche.
E-mailPlus
Les instruments XRF utilisent les rayons X pour « exciter » un matériau afin de caractériser sa composition en identifiant des éléments dans l'échantillon (analyse qualitative) ou en déterminant la force d'un élément dans l'échantillon (analyse quantitative)
E-mailPlus
Cette procédure est une procédure auto-développée. Il contient une variété de fonctions d'analyse quantitative développées par nous-mêmes, qui sont conformes à la théorie de la diffraction et sont calculées par intensité intégrale.
E-mailPlus
Certains contenus liés au « Logiciel JADE pour analyser et traiter les données XRD ».
E-mailPlus
