



La diffraction des rayons X (DRX) permet un contrôle qualité précis et non destructif dans la production de ciment : criblage des matières premières, analyse du clinker (par exemple, C3S, C2S, CaO libre), contrôle des produits finis, étude de l’hydratation et co-traitement des déchets solides. La série TD de Dandong Tongda offre des solutions stables et faciles à utiliser pour la fabrication de ciment écologique.
E-mailPlus
Le graphite est essentiel pour l'énergie et les batteries. Sa cristallinité et son degré de graphitisation influent sur ses performances. Le système XRD de Dandong Tongda analyse le graphite naturel et synthétique, calcule l'espacement intercouche et le degré de graphitisation, contrôle la pureté des anodes des batteries lithium-ion et détecte les impuretés dans le graphite industriel.
E-mailPlus
Le dioxyde de titane (TiO₂) est un matériau fonctionnel haute performance largement utilisé dans divers secteurs industriels. Sa qualité influe directement sur ses performances et la sécurité de ses applications. Dandong Tongda Technology propose des services complets d'analyse par diffraction des rayons X (DRX) de haute précision pour le dioxyde de titane, couvrant la structure cristalline, la pureté et la détection des impuretés. Les résultats des analyses sont conformes aux normes internationales et fournissent des données fiables pour le contrôle qualité de la production, aidant ainsi les entreprises à optimiser leurs processus et à renforcer leur compétitivité mondiale.
E-mailPlus
Le diffractomètre à rayons X fonctionne selon la loi de Bragg (2d sinθ = nλ). En balayant l'angle θ et en enregistrant les pics de diffraction, il révèle la structure cristalline, les paramètres de maille, la taille des grains, les contraintes résiduelles, la composition de phase, etc. C'est un outil essentiel pour l'analyse des matériaux.
E-mailPlus
L'étalonnage XRD (longueur d'onde, détecteur, point zéro) et l'analyse des données (ajustement des pics, équation de Scherrer, Williamson-Hall) sont essentiels pour une détermination précise de la structure cristalline, l'identification des phases et la caractérisation microstructurale en science des matériaux.
E-mailPlus
Les diffractomètres de poudre permettent une analyse rapide et non destructive de la structure cristalline par diffusion des rayons X. Ils optimisent les alliages, les matériaux pour batteries et les formulations pharmaceutiques. L'automatisation et les algorithmes en constante évolution améliorent la précision et stimulent l'innovation dans le domaine des matériaux.
E-mailPlus
Les spectromètres d'absorption des rayons X mesurent le coefficient d'absorption en fonction de l'énergie des photons pour révéler la structure atomique et électronique locale. La spectroscopie XANES renseigne sur la valence et la coordination ; la spectroscopie EXAFS extrait les longueurs de liaison et les nombres de coordination. Tendances : synchrotrons de 4e génération et avancées majeures sur des appareils de laboratoire. Applications : catalyse, batteries, environnement, biomédecine. Méthode non destructive, spécifique à l'élément, limite de détection de 0,5 % en poids.
E-mailPlus
L'utilisation d'un diffractomètre de rayons X nécessite d'évaluer ses performances, la compatibilité avec les échantillons, sa facilité d'utilisation, sa fiabilité, son coût, sa sécurité, la formation et le support technique. Il convient également d'évaluer l'espace disponible au laboratoire, les équipements, les possibilités d'évolution, les marques disponibles et l'installation par un professionnel.
E-mailPlus
Les diffractomètres à rayons X 2D sont confrontés à des problèmes tels que la préparation inégale des échantillons, les erreurs d'étalonnage, une configuration incorrecte, un traitement inexact des données, le manque d'entretien, les fluctuations environnementales et les défis logiciels, autant d'éléments qui affectent la précision et la fiabilité des résultats.
E-mailPlus
Les performances d'un diffractomètre de paillasse dépendent de la résolution de l'instrument (FWHM).<0.04°2θ), goniometer linearity (±0.02°2θ), and low-angle ability. Sample form, size, and quantity matter. Voltage, current, scan speed/range, and method are key settings. Cooling, lab environment, and maintenance ensure stability and accuracy.
E-mailPlus