Prenant comme exemple la mise à l'échelle des dépôts, cet article présente comment utiliser le diffractomètre à rayons X pour l'analyse qualitative et quantitative.
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L’application de nouvelles technologies et de nouveaux produits tels que la 5G, le big data et l’intelligence artificielle entraînera une énorme demande sur le marché des semi-conducteurs, et les dépenses mondiales en équipements semi-conducteurs sont entrées dans un cycle ascendant.
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Ces dernières années, la mesure d’échantillons biologiques à haute pression a suscité un intérêt croissant. Cela se traduit par le développement de nouvelles techniques de mesure de pression différentes de celles mises en œuvre par DAC. L’une d’elles est la technique de congélation des cristaux sous pression.
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La XRD haute résolution (HR-XRD) est une méthode courante pour mesurer la composition et l'épaisseur de semi-conducteurs composés tels que SiGe, AlGaAs, InGaAs, etc.
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Le diffractomètre à rayons X (XRD) peut être divisé en diffractomètre à poudre à rayons X et diffractomètre monocristallin à rayons X, le principe physique de base des deux est le même.
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La fluorescence des rayons X à réflexion totale (TXRF) est une technique d'analyse des éléments de surface couramment utilisée pour analyser les particules, les résidus et les impuretés sur des surfaces lisses.
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XRD est un moyen de recherche qui est la diffraction par diffraction des rayons X d'un matériau pour analyser son diagramme de diffraction afin d'obtenir des informations telles que la composition du matériau, la structure ou la forme des atomes ou des molécules à l'intérieur du matériau.
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La diffraction des rayons X à incidence rasante (GI-XRD) est une sorte de technique de diffraction des rayons X, qui diffère de l'expérience XRD traditionnelle, principalement en modifiant l'angle d'incidence des rayons X et l'orientation de l'échantillon.
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Ces dernières années, la technique de diffusion des rayons X aux petits angles des macromolécules biologiques a fait l’objet d’une large attention. Cet article présentera principalement les progrès pertinents de la combinaison du petit angle biologique et d'autres techniques au cours des dernières années.
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Il est nécessaire de réduire les contraintes résiduelles nocives et de prédire la tendance de distribution et la valeur des contraintes résiduelles. Dans cet article, la méthode de contrôle non destructif des tests de contraintes résiduelles est présentée.
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