Le porte-échantillon multifonction d'un diffractomètre à rayons X est un dispositif utilisé pour placer et fixer des échantillons, avec de multiples fonctions et fonctionnalités. Il peut tester des traces d'échantillons de poudre, ainsi que des échantillons en forme de feuille, de grande taille, irréguliers, qui ne peuvent pas être coupés ou broyés en poudre. Le porte-échantillon multifonctionnel permet la fixation et le support de l'échantillon : le porte-échantillon peut fixer fermement l'échantillon, garantissant que l'échantillon reste stable pendant la diffraction des rayons X et empêchant la précision et la fiabilité des données de diffraction d'être affectées par le mouvement de l'échantillon. Le support d'échantillon multifonction réglage de la hauteur et de l'angle : il a la fonction de réglage de la hauteur et de l'angle, et peut ajuster de manière flexible la distance et l'angle relatif entre l'échantillon et le tube à rayons X et le détecteur en fonction de la taille, de la forme et des exigences de détection de différents échantillons, afin d'obtenir le meilleur effet de diffraction. Fonction de rotation du porte-échantillon multifonction : certaines tables d'échantillons peuvent pivoter, permettant à l'échantillon de recevoir une irradiation aux rayons X sous différents angles, obtenant ainsi plus d'informations de diffraction sous différents angles, ce qui permet d'analyser de manière complète la structure cristalline et l'orientation de l'échantillon. Adaptation du porte-échantillon multifonctionnel : il peut s'adapter à différents types d'échantillons, tels que solides, liquides, poudres, etc. En remplaçant différents supports ou accessoires d'échantillons, il peut répondre aux exigences de test de divers échantillons. Contrôle environnemental du porte-échantillon multifonctionnel : certains porte-échantillons avancés sont également équipés de systèmes de contrôle environnemental qui peuvent tester des échantillons dans des conditions de température, d'humidité, d'atmosphère et d'autres conditions spécifiques pour simuler les effets de différents environnements sur les échantillons, élargissant encore la gamme d'applications des diffractomètres à rayons X. Le porte-échantillon multifonction du diffractomètre à rayons X est un équipement auxiliaire puissant, flexible et polyvalent, qui est d'une grande importance pour améliorer la précision et l'efficacité des expériences de diffraction des rayons X.

L'accessoire de mesure de film optique parallèle est un composant optique utilisé pour améliorer l'intensité du signal des films minces et réduire l'influence des signaux du substrat sur les résultats de mesure. Il est généralement utilisé dans les expériences ou instruments optiques, principalement pour générer des faisceaux parallèles ou effectuer des mesures optiques sur des échantillons de films minces. En augmentant la longueur du réseau, un contrôle et un filtrage plus précis de la lumière peuvent être obtenus. Lorsque la lumière passe à travers, la plaque de réseau peut filtrer davantage de lignes diffusées, rendant la lumière transmise plus pure et plus concentrée, réduisant ainsi l'interférence de la lumière diffusée sur le signal du film mince et améliorant la force du signal du film mince lui-même, améliorant ainsi la précision et la fiabilité de la mesure. 1. Fonction principale de l'accessoire de mesure de film optique parallèle Amélioration de la précision de mesure : dans la détection et l'analyse liées aux films minces, telles que la mesure de l'épaisseur des films minces, la détermination de la constante optique, etc., les fixations de films minces à lumière parallèle peuvent réduire efficacement l'influence des signaux de substrat, rendant les résultats de mesure plus proches des véritables caractéristiques du film mince, améliorant ainsi la précision et l'exactitude de la mesure. Amélioration de la puissance du signal : elle permet d'augmenter l'intensité du signal lumineux réfléchi ou transmis par le film mince, ce qui est particulièrement important pour certains échantillons de film mince avec des signaux plus faibles. Le signal amélioré peut être reçu et reconnu plus clairement par le détecteur, réduisant ainsi la limite de détection et améliorant la sensibilité de l'instrument pour la détection d'échantillons de film mince. Amélioration de la qualité de l'image : dans certaines applications qui nécessitent une observation d'imagerie de films minces, comme l'observation de la morphologie de surface de films minces au microscope, les fixations de films minces à lumière parallèle peuvent réduire le bruit de fond et le flou causés par la lumière diffusée, rendant l'image du film mince plus claire, avec un contraste plus élevé et plus facile à observer et à analyser la structure détaillée du film mince. 2. Principaux composants de l'accessoire de mesure de film optique parallèle Source de lumière : En général, des lasers, des LED ou d’autres sources de lumière monochromatique sont utilisés. Lentille collimatrice : convertit les faisceaux lumineux divergents en lumière parallèle. Support d'échantillon : utilisé pour placer des échantillons de films, généralement réglable en position et en angle. Détecteur : utilisé pour recevoir des signaux lumineux transmis ou réfléchis à des fins de mesure et d'analyse. 3. Domaines d'application de l'accessoire de mesure de film optique parallèle Recherche optique : utilisée pour étudier les propriétés optiques des films minces, telles que les interférences, la diffraction, etc. Science des matériaux : utilisée pour mesurer l'épaisseur et l'indice de réfraction des films minces et évaluer les propriétés des matériaux. Tests industriels : utilisés pour le contrôle qualité et les tests dans la production de films. 4. Instructions pour l'accessoire de mesure de film optique parallèle Ajustez la source lumineuse : Assurez-vous que la source lumineuse est stable et que le faisceau est uniforme. Faisceau collimaté : Ajustez le faisceau lumineux à travers une lentille de collimation pour le rendre parallèle. Placer l'échantillon : Placez l'échantillon de film sur la platine d'échantillon, ajustez la position et l'angle. Mesure et analyse : utiliser des détecteurs pour recevoir des signaux lumineux, enregistrer des données et effectuer des analyses. 5. Précautions Stabilité de la source lumineuse : Assurez la stabilité de la source lumineuse pour éviter les erreurs de mesure. Nettoyage des composants optiques : Gardez les composants optiques propres pour éviter que la poussière et les taches n'affectent les résultats de mesure. Préparation de l'échantillon : assurez-vous que l'échantillon de film est uniforme et sans défaut pour obtenir des résultats de mesure précis. En résumé, l'accessoire de mesure de film optique parallèle est un composant optique important qui joue un rôle crucial dans de nombreux domaines et revêt une grande importance dans la promotion de la recherche scientifique et du progrès technologique dans les domaines connexes.

L'accessoire moyenne et basse température d'un diffractomètre à rayons X est un élément clé utilisé pour l'analyse par diffraction des rayons X dans des environnements à basse température. L'accessoire moyenne et basse température est largement utilisé dans les travaux de recherche et développement en science des matériaux, physique, chimie et d'autres domaines, particulièrement adapté aux scénarios qui nécessitent une analyse structurelle des matériaux dans différentes conditions de température. Afin de comprendre les changements de structure cristalline au cours du processus de réfrigération à basse température, voici les paramètres techniques de l'accessoire moyenne et basse température : Environnement sous vide : - 196~500℃ Précision du contrôle de la température : ± 0,5 ℃ Méthode de réfrigération : azote liquide (consommation inférieure à 4L/h) Matériau de la fenêtre : Film polyester Méthode de refroidissement : refroidissement par circulation d'eau déionisée En bref, l'accessoire moyenne et basse température du diffractomètre à rayons X est un composant d'équipement important qui peut fournir un soutien solide à la recherche scientifique et à l'analyse des matériaux. L'accessoire moyenne et basse température d'un diffractomètre est l'un des outils importants dans le domaine de l'analyse de la structure des matériaux, avec de larges perspectives d'application et une valeur de recherche significative. L'accessoire moyenne et basse température du diffractomètre est un composant clé pour assurer le fonctionnement normal et la mesure précise de l'instrument dans des conditions de basse température. Sa conception et ses performances affectent directement la précision et la fiabilité des résultats expérimentaux. Lors de la sélection et de l'application de l'accessoire moyenne et basse température, les exigences expérimentales, les caractéristiques de l'échantillon, ainsi que les paramètres techniques et les caractéristiques de performance des accessoires doivent être pleinement pris en compte pour garantir les meilleurs résultats expérimentaux.

L'irradiateur à rayons X génère des rayons X à haute énergie pour irradier des objets cibles ou des tissus biologiques. La génération de rayons X est généralement obtenue en accélérant des électrons pour entrer en collision avec des cibles métalliques (telles que le tungstène, le cuivre, etc.), générant un rayonnement de freinage et formant des faisceaux de rayons X, qui irradient ensuite des cellules ou de petits animaux. L'irradiateur à rayons X est utilisé pour diverses recherches fondamentales et appliquées. Historiquement, des irradiateurs à isotopes radioactifs étaient utilisés, ce qui nécessitait le transport d'échantillons vers une installation d'irradiation centrale. Cependant, aujourd'hui, des irradiateurs à rayons X plus petits, plus sûrs, plus simples et moins coûteux peuvent être installés dans les laboratoires pour une irradiation pratique et rapide des cellules. Divers échantillons peuvent être irradiés directement en laboratoire sans affecter la fertilité ou la sécurité. L'irradiateur à rayons X est pratique pour le personnel qui n'a pas reçu de formation professionnelle en rayons X, et il n'y a pas de demandes de licence coûteuses ni de coûts de sécurité ou de maintenance de la source de rayonnement. L'irradiateur à rayons X est facile à utiliser, sûr, fiable et rentable et peut remplacer les sources d'isotopes radioactifs. 1. Les principaux domaines d'application de l'irradiateur à rayons X comprennent le domaine médical, le domaine de la recherche scientifique, etc. 2. Précautions de sécurité pour les équipements d’irradiation aux rayons X : Radioprotection : les opérateurs doivent porter des vêtements de protection pour éviter une exposition prolongée aux rayons X. Entretien de l’équipement : Inspecter régulièrement l’équipement pour assurer son fonctionnement normal et éviter les fuites de rayonnement. Contrôle de la dose : Contrôlez strictement la dose d’irradiation pour éviter tout dommage inutile à l’échantillon ou au corps humain.

Le principe et l'application de la machine d'essai de soudage à rayons X portable NDT : La machine d'essai de soudage à rayons X portable CND utilise les propriétés acoustiques, optiques, magnétiques et électriques des matériaux pour détecter la présence de défauts ou d'irrégularités dans l'objet testé sans endommager ou affecter ses performances. Il fournit des informations sur la taille, l'emplacement, la nature et la quantité des défauts. Par rapport aux tests destructifs, les tests non destructifs présentent les caractéristiques suivantes. La première est non destructive, car elle ne compromet pas les performances de l'objet détecté pendant le test ; La deuxième est complète, car la détection est non destructrice, il est nécessaire d'effectuer une détection complète à 100 % de l'objet testé, ce qui ne peut être réalisé par une détection destructive ; La troisième est complète, et les tests destructifs ne s'appliquent généralement qu'aux tests de matières premières, telles que la tension, la compression, la flexion, etc. couramment utilisées en génie mécanique. Les tests destructifs sont effectués sur les matières premières de fabrication, et pour les produits finis et les articles en cours d'utilisation, les tests destructifs ne peuvent être effectués que s'ils ne sont pas destinés à continuer à servir. Les tests non destructifs, en revanche, n'endommagent pas les performances de l'objet testé. Ainsi, il peut non seulement effectuer des tests de processus complets sur les matières premières de fabrication, les processus intermédiaires et même les produits finis, mais également tester les équipements en service. Caractéristiques de la machine d'essai de soudage à rayons X portable NDT : Le générateur de rayons X a un petit volume, avec une anode mise à la terre et un refroidissement forcé par un ventilateur ; ◆ Léger, facile à transporter et simple à utiliser ; Travail et repos dans un rapport 1:1 ; Belle apparence et structure raisonnable; ◆ Exposition différée pour assurer la sécurité de l’opérateur ; L'objectif principal de la machine d'essai de soudage à rayons X portable NDT : L'objectif principal de l'équipement est d'inspecter la qualité du traitement et du soudage des matériaux et des composants tels que les coques de navires, les pipelines, les récipients à haute pression, les chaudières, les avions, les véhicules et les ponts dans les secteurs industriels tels que la défense nationale, la construction navale, le pétrole, la chimie, la mécanique, l'aérospatiale et la construction, ainsi que les défauts internes et la qualité inhérente de divers métaux légers, caoutchouc, céramique, etc.

L'orienteur à cristal à rayons X fonctionne sur le principe de la diffraction des rayons X. La haute tension générée par le transformateur haute tension agit sur le tube à rayons X, produisant des rayons X. Lorsque les rayons X sont irradiés sur l'échantillon, la diffraction se produit lorsque la condition de diffraction de Bragg (n λ=2dsin θ) est satisfaite. Parmi eux, λ est la longueur d'onde des rayons X, d est l'espacement entre les plans atomiques à l'intérieur du cristal et θ est l'angle entre les rayons X incidents et le plan du cristal. La ligne de diffraction est reçue par le tube de comptage et affichée sur le microampèremètre de l'amplificateur. Lors de l'utilisation d'un monochromateur, la ligne de diffraction est monochromatisée puis reçue par le compteur et affichée sur le microampèremètre de l'amplificateur, améliorant ainsi la précision de la mesure. L'orienteur de cristal à rayons X peut déterminer avec précision et rapidité l'angle de coupe des monocristaux naturels et artificiels (cristaux piézoélectriques, cristaux optiques, cristaux laser, cristaux semi-conducteurs) et est équipé d'une machine de découpe pour la découpe directionnelle des cristaux mentionnés ci-dessus. L'orienteur de cristal à rayons X est un instrument indispensable pour l'usinage de précision et la fabrication de dispositifs à cristal. L'orienteur de cristal à rayons X est largement utilisé dans les industries de recherche, de traitement et de fabrication de matériaux cristallins. L'orienteur à cristal à rayons X est facile à utiliser, ne nécessite pas de connaissances professionnelles ni de techniques spécialisées, affiche l'angle numériquement, est facile à observer et réduit les erreurs de lecture. L'affichage de l'instrument d'orientation à cristal à rayons X peut être mis à zéro à n'importe quelle position, ce qui facilite l'affichage de la valeur d'écart de l'angle de la puce. L'instrument de mesure d'angle double peut fonctionner simultanément, améliorant ainsi l'efficacité. L'orienteur à cristal à rayons X dispose d'un intégrateur spécial avec amplification de crête, ce qui améliore la précision de détection. L'intégration du tube à rayons X et du câble haute tension augmente la fiabilité de la haute tension. Le détecteur haute tension adopte un module haute tension CC et une carte d'échantillon à aspiration sous vide, ce qui améliore la précision et la vitesse de mesure de l'angle. Dans l’ensemble, l’orienteur de cristaux à rayons X est un instrument de précision basé sur le principe de la diffraction des rayons X, qui fournit un support technique important pour la recherche sur les matériaux cristallins et les applications associées en mesurant avec précision l’angle de coupe des cristaux.

Les accessoires pour diffractomètres à petit angle sont des accessoires importants utilisés dans les diffractomètres à rayons X. Les accessoires pour diffractomètres à petit angle permettent de prendre des mesures de diffraction des rayons X dans une plage d'angle très réduite, de 0° à 5°, pour tester l'épaisseur des films multicouches nanométriques. Ils jouent un rôle important dans des domaines tels que la science des matériaux, la physique, la chimie et la biologie. Types et caractéristiques courants : Accessoire pour film mince à lumière parallèle : cet accessoire peut générer des faisceaux de rayons X parallèles et convient aux mesures de diffraction à petit angle d'échantillons de films minces. Il peut améliorer la précision et la résolution des mesures, réduire les erreurs de mesure causées par la divergence du faisceau et mieux s'adapter aux échantillons de films minces de différentes épaisseurs et propriétés. Platine d'échantillon multifonctionnelle : équipée d'accessoires de diffraction à petit angle, la platine d'échantillon multifonctionnelle peut fournir divers environnements de test pour les échantillons, tels que le chauffage, le refroidissement, l'étirement in situ, etc. Cela rend plus pratique l'étude des changements structurels des matériaux dans différentes conditions externes et permet l'observation en temps réel de la réponse structurelle des matériaux pendant la température, la contrainte et d'autres changements. Les accessoires de diffractomètre à petit angle jouent un rôle important dans de nombreux domaines tels que la science des matériaux, la physique, la chimie et la biologie en réalisant une diffraction à petit angle et une mesure précise de l'épaisseur du film multicouche nano, offrant aux chercheurs un outil puissant pour une exploration approfondie des microstructures et des propriétés des matériaux.

Les accessoires en fibre sont testés pour leur structure cristalline unique à l'aide de la méthode de diffraction des rayons X (transmission). Testez l'orientation de l'échantillon en fonction de données telles que la cristallinité des fibres et la largeur à mi-pic. Un composant spécialisé utilisé pour analyser les matériaux fibreux tels que les textiles, les fibres polymères, les fibres biologiques, etc. Il est couramment utilisé pour étudier la structure cristalline, l'orientation et la disposition moléculaire des fibres. Fonctions principales des accessoires de fibre : 1. Fixation de l'échantillon de fibre : les accessoires de fibre sont utilisés pour fixer l'échantillon de fibre, garantissant sa position et la stabilité de sa direction dans le faisceau de rayons X. 2. Analyse de l’orientation des fibres : En ajustant la position et l’angle de l’échantillon, l’orientation cristalline et la disposition moléculaire des fibres sont étudiées. 3. Diffusion des rayons X aux petits angles (SAXS) : certains accessoires de fibre prennent en charge la SAXS pour analyser la structure nanométrique des fibres. Types courants d’accessoires de fibre : 1. Dispositif d'étirement des fibres : il peut appliquer une tension aux fibres pendant l'analyse XRD pour étudier les changements structurels sous contrainte. 2. Platine d'échantillon rotative : permet aux échantillons de fibres de tourner, facilitant la collecte de données de diffraction sous différents angles. 3. Accessoires de contrôle de la température : utilisés pour analyser les matériaux fibreux à des températures spécifiques et étudier l'effet de la température sur la structure. Domaines d’application des accessoires en fibre : 1. Science des matériaux : Étudier la structure cristalline et les propriétés mécaniques des fibres synthétiques telles que le nylon et le polyester. 2. Biomatériaux : Analyser la structure des fibres naturelles telles que le collagène et la cellulose. 3. Textiles : Évaluer l’orientation et la cristallinité des fibres textiles. Étapes d'utilisation des accessoires en fibre : 1. Préparation de l'échantillon : Fixez l'échantillon de fibre sur le support. 2. Ajustez les paramètres : définissez la source de rayons X, le détecteur et les positions de l'échantillon. 3. Collecte de données : Collectez les diagrammes de diffraction. 4. Analyse des données : utiliser un logiciel pour analyser les données de diffraction et obtenir des informations structurelles. Questions nécessitant une attention particulière : -Alignement de l'échantillon : assurez-vous que l'échantillon est précisément aligné avec le faisceau de rayons X. - Optimisation des paramètres : optimisez l'énergie des rayons X, le temps d'exposition, etc. en fonction des caractéristiques de l'échantillon. - Qualité des données : garantit des modèles de diffraction clairs et évite les interférences de bruit. Notre société propose des formations sur site sur l'utilisation des instruments et les connaissances industrielles connexes, ainsi que sur l'utilisation et la maintenance ultérieures des logiciels d'analyse et sur des services complets de maintenance des machines.

Le diffractomètre à rayons X de table TDM-20 utilise un nouveau détecteur matriciel haute performance, et le chargement de ce détecteur a considérablement amélioré les performances globales de la machine. Le XRD de table TDM-20 est principalement utilisé pour l'analyse de phase des poudres, des solides et des matériaux similaires de type pâte. Le diffractomètre à rayons X de table TDM-20 utilise le principe de la diffraction des rayons X pour effectuer des analyses qualitatives ou quantitatives, des analyses de structure cristalline et d'autres matériaux polycristallins tels que des échantillons de poudre et des échantillons de métal. Le XRD de table est largement utilisé dans des secteurs tels que l'industrie, l'agriculture, la défense nationale, les produits pharmaceutiques, les minéraux, la sécurité alimentaire, le pétrole, l'éducation et la recherche scientifique.

Le diffractomètre à rayons X haute résolution TD-3700 est équipé d'une variété de détecteurs hautes performances tels que des détecteurs à réseau unidimensionnel à grande vitesse, des détecteurs bidimensionnels, des détecteurs SDD, etc. Le diffractomètre à rayons X TD-3700 intègre une analyse rapide, un fonctionnement pratique et la sécurité de l'utilisateur. L'architecture matérielle modulaire et le système logiciel personnalisé permettent d'obtenir une combinaison parfaite, ce qui rend son taux de défaillance extrêmement faible, ses performances anti-interférences bonnes et garantit un fonctionnement stable à long terme de l'alimentation haute tension. Le diffractomètre à rayons X TD-3700 peut augmenter l'intensité du calcul de diffraction de plusieurs dizaines de fois ou plus, obtenir des motifs de diffraction complets à haute sensibilité et haute résolution et une intensité de comptage plus élevée dans une période d'échantillonnage plus courte, et prend également en charge la numérisation des données de transmission. La résolution du mode de transmission est bien supérieure à celle du mode de diffraction, ce qui convient à l'analyse structurelle et à d'autres domaines. Le mode de diffraction a des signaux de diffraction puissants et est plus adapté à l'identification de phase de routine en laboratoire.

L'accessoire de mesure de film optique parallèle augmente la longueur de la plaque de réseau pour filtrer davantage de lignes dispersées, ce qui est bénéfique pour réduire l'influence du signal du substrat sur les résultats et améliorer l'intensité du signal du film.

Les accessoires en fibre sont testés pour leur structure cristalline unique à l'aide de la méthode de diffraction des rayons X (transmission). Testez l'orientation de l'échantillon en fonction de données telles que la texture de la fibre et la largeur à mi-pic.