Le spectre de diffraction des rayons X analyse principalement l'état cristallin et la microstructure du matériau, car la longueur d'onde du radiographieest similaire à la constante de réseau du cristal, irradié sur le matériau cristallin, et le diagramme de diffraction généré par l'analyse peut déterminer la structure atomique et le type de cristal. Il existe deux mesures de diffraction des rayons X pouranalyse des cristaux.

1. Méthode du spectre de diffraction des rayons X,Diffractomètre à rayons XLa structure de base comporte trois parties : source de rayons X, goniomètre, détecteur.

Habituellement, la source de rayons X est produite en utilisant un faisceau d’électrons pour frapper une cible en cuivre. Les rayons X caractéristiques Ka sont mesurés par un sélecteur de fréquence unique. La longueur d'onde optique du Cu-KaX est de 1,542 A, ce qui donne unDiffraction des rayons Xspectre. Prenez le diagramme de diffraction monocristallin comme indiqué sur la figure de droite. La direction du plan du produit (400) est obtenue à partir de l'angle de crête de diffraction par rapport au tableau standard de diffraction des cristaux de poudre. Plus l’intensité de la crête est forte et plus la largeur à mi-hauteur est étroite, meilleures sont les caractéristiques du produit.

2. Méthode de Laue par réflexion arrière des rayons X

La méthode de réflexion des rayons X de Laue est un spectre obtenu en utilisantIrradiation aux rayons X de cristaux. L'irradiation aux rayons X sur une plaquette unique de silicium fixe produira un phénomène de diffraction à certains angles selon la loi de Bragg, comme le montre la figure de gauche, et le diagramme de diffraction de (100) réflexion monocristalline Laue est montré dans la figure de gauche. droite. Cette méthode peut être utilisée pour distinguer la direction cristalline d’un monocristal.