En tant que l'un des moyens importants de caractérisation de la structure des matériaux,DRXest largement utilisé dans les matériaux, la physique, la chimie, la médecine et d'autres domaines. Afin d'obtenir des résultats d'analyse précis ou d'explorer davantage d'informations structurelles, la qualité des données de diffraction des rayons X constitue la base, mais également un élément clé de l'analyse des modèles XRD. 

                                               Fig. 1. Composition deDRXmodèle

Composants du diagramme de diffraction des rayons X et paramètres physiques correspondants :

1. Position maximale : (1) Précise. (2)Groupe spatial. (3) Paramètres de cellule.

2. Résistance maximale : (1) Haute résistance. (2)Structure en cristal.(3) Analyse quantitative.

3. Forme du pic : (1) Le FWHM est petit et la forme du pic est symétrique (Fig. 2). (2) Élargissement des instruments. (3) Échantillon de microstructure.

4. Arrière et bas : (1) Bas du dos et du bas, angle faible doux, rapport crête/arrière élevé, rapport signal/bruit élevé. (2) Faible limite de détection de pic (Fig3). (3) Pic diffus amorphe,"cristallinité".

                                   Modèles XRD Fig2 avec différentes résolutions

                      Fig3 Le rapport crête-à-dos et le rapport signal/bruit ont des pics faibles

Diffraction des rayons Xqualité des données et efficacité des tests

1. L’acquisition de données de haute qualité est souvent inversement proportionnelle à l’efficacité des tests et prend beaucoup de temps. Débogage fin des instruments, sélection raisonnable du matériel et longue durée de test.

2. Toutes les applications ne nécessitent pas une très haute qualité de données. Le matériel approprié et les conditions de mesure doivent être sélectionnés en fonction des différents besoins de l'application pour obtenir la qualité des données correspondante et améliorer l'efficacité des tests.