DansDiffractomètre à rayons X, lemesure intégrée multifonctionnelleà accesseuries sont Composant essentiel améliorant considérablement la fonctionnalité et la flexibilité de l'instrument. Utilisé pour l'analyse des films sur cartes, blocs et substrats, il permet d'effectuer des tests tels que la détection de phase cristalline, l'orientation, la texture, la contrainte et la structure plane des films minces.

Aperçu de base demesure intégrée multifonctionnelleà accesseuries:

Définition : Ils sont terme général désignant une série de dispositifs ou de modules supplémentaires utilisés dansDiffractomètre à rayons Xpour étendre les fonctions de l'instrument, améliorer la précision et l'efficacité des mesures.

Objectif : Ces pièces jointes visent à permettreDiffractomètre à rayons Xpour répondre à un plus large éventail de besoins expérimentaux et fournir des informations plus complètes et plus précises sur la structure des matériaux.

Les caractéristiques fonctionnelles demesure intégrée multifonctionnelleà accesseuries:

Effectuer des tests de diagramme polaire en utilisant des méthodes de transmission ou de réflexion ;

Les tests de résistance peuvent être effectués soit en utilisant la méthode d’inclinaison parallèle, soit en utilisant la même méthode d’inclinaison ;

Test de couche mince (rotation dans le plan de l'échantillon).

Caractéristiques techniques demesure intégrée multifonctionnelleà accesseuries:

Haute précision : Ils utilisent généralement une technologie de détection et des systèmes de contrôle avancés pour garantir une précision et une répétabilité élevées des mesures.

Automatisation : De nombreux accessoires prennent en charge les opérations automatisées et peuvent être intégrés de manière transparente auDiffractomètre à rayons Xhôte pour réaliser une mesure en un clic.

Conception modulaire : permet aux utilisateurs de sélectionner et de combiner différents modules d'accessoires en fonction de leurs besoins réels.

Domaines d'application demesure intégrée multifonctionnelleà accesseuries:

Largement utilisé dans des domaines tels que la science des matériaux, la physique, la chimie, la biologie et la géologie ;

Évaluation des structures d'assemblage métalliques telles que les plaques laminées ;

Evaluation de l'orientation de la céramique ;

Évaluation de l'orientation prioritaire des cristaux dans des échantillons de films minces ;

Essais de contraintes résiduelles de divers matériaux métalliques et céramiques (évaluation de la résistance à l'usure, de la résistance à la coupe, etc.) ;

Essais de contraintes résiduelles de films multicouches (évaluation du décollement du film, etc.) ;

Analyse de l'oxydation de surface et des films de nitrure sur des matériaux supraconducteurs à haute température tels que des films minces et des plaques métalliques ;

Verre Si, Analyse de films multicouches sur substrats métalliques (films minces magnétiques, films durcissants de surface métalliques, etc.) ;

Analyse de matériaux de galvanoplastie tels que les matériaux macromoléculaires, le papier et les lentilles.

Lemesure intégrée multifonctionnelleà accesseuries  dansDiffractomètre à rayons X sont La clé pour améliorer les performances des instruments. Ils améliorent non seulement la fonctionnalité de l'instrument, mais aussi la précision et l'efficacité des mesures, offrant aux chercheurs des méthodes d'analyse des matériaux plus complètes et plus approfondies. Avec les progrès technologiques constants, ces accessoires continueront de jouer un rôle important dans la promotion de la recherche scientifique dans des domaines connexes, afin de réaliser de nouvelles avancées.