Le diffractomètre à rayons X est principalement utilisé pour l'analyse qualitative et quantitative de phase, l'analyse de la structure en vrac, l'analyse de la structure du matériau, l'analyse de l'orientation cristalline, la détermination des contraintes macroscopiques ou microscopiques, la détermination de la taille des particules, la détermination de la cristallinité, etc. d'échantillons de poudre, de blocs ou de films.