Analyse par diffraction des rayons X d'échantillons polycristallins :

Lorsque des rayons X sont irradiés sur l'échantillon, les détecteurs conventionnels utilisent un canal pour recevoir les données. Les détecteurs à réseau unidimensionnel avancés peuvent recevoir simultanément des données de 640 canaux, augmentant ainsi la vitesse de test de plus de dix fois.