Accessoire de mesure
Tests polarographiques utilisant la transmission ou la réflexion. Les tests de contrainte peuvent être effectués en utilisant la méthode d'inclinaison ou la même méthode d'inclinaison. Test sur couche mince (rotation dans le plan de l'échantillon)
- Tongda
- Liaoning, Chine
- 1 à 2 mois
- 100 unités par an
- information
Accessoire de mesure intégré multifonction
Il est conçu et installé sur le goniomètre grand angle, qui est utilisé pour analyser le film sur le matériau de la plaque, le matériau du bloc et le substrat, et pour détecter l'orientation et la contrainte de la phase cristalline.
Accessoires de mesure intégrés multifonctionnels
Les accessoires de mesure intégrés multifonctionnels sont utilisés pour l'analyse de films sur des plaques, des blocs et des substrats, ainsi que pour la détection de l'orientation de la phase cristalline, de la texture, des contraintes, de la structure du film dans le plan et d'autres tests.
Caractéristiques fonctionnelles
Réaliser un test de diagramme polaire par transmission et réflexion；
Le test de contrainte peut être effectué par la méthode des immersions parallèles ou la même méthode d'immersion；
Test de film（échantillon de rotation dans le plan）
Accessoires de mesure intégrés multifonctionnels
Spécifications techniques
Distance de pas de l'axe α (inclinaison) : 0,001 °/pas ;
plage d'action : －45°~90° ;
Distance minimale de pas de l'axe β (rotation) : 0,001 °/pas ;
plage d'action : 0 % u00b0 ~ 360 % u00b0 ;
Distance minimale de pas de l'axe Z : 0,001 mm/pas ;
plage d'action : 0-10 mm ;
taille de l'échantillon : % u03a6100 mm maximum, épaisseur réglable
À propos de nous :
Dandong Tongda Technology Co., LTD. est une entreprise innovante spécialisée dans le développement, la production et la vente de produits et d'équipements à rayons X. Depuis sa création, Dandong Tongda Technology a toujours prêté attention au développement de nouvelles technologies et de nouveaux concepts dans le monde et a réuni un groupe d'équipes R&D de haut niveau possédant une riche expérience dans le domaine de la recherche sur les diffractomètres à rayons X. .
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