Analyseur d'orientation des rayons X
1.La table d'échantillons est équipée d'une piste porteuse pouvant mesurer jusqu'à 1 kg et a un diamètre de 6 pouces (jusqu'à 8 pouces).
2. Un dispositif à ventouse sous vide est installé sur la table d'échantillons.
3. Application : Détermination précise et rapide de l’angle de coupe des monocristaux naturels et artificiels.
- Tongda
- Liaoning, Chine
- 1 à 2 mois
- 100 unités par an
- information
Introduction à l'analyseur d'orientation des rayons X :
L'instrument d'orientation automatique des rayons X utilise le principe de diffraction des rayons X pour déterminer avec précision et rapidité l'angle de coupe des monocristaux naturels et artificiels (cristaux piézoélectriques, cristaux optiques, cristaux laser, cristaux semi-conducteurs). Correspondant à la machine de découpe, qui peut être utilisée pour la découpe directionnelle des cristaux ci-dessus.Instrument d'orientation automatique des rayons Xest un instrument indispensable pour le traitement de précision et la fabrication d'appareils à cristal.Instrument d'orientation automatique des rayons Xest largement utilisé dans la recherche, le traitement et la fabrication de matériaux cristallins.
Avantages de l'analyseur d'orientation des rayons X :
Exemple de tableau TA de l'analyseur d'orientation des rayons X :
Conçu selon le cristal à barre ronde, la platine d'échantillonnage est dotée d'une piste porteuse pouvant mesurer 1 à 30 kg, d'un diamètre de 2 à 6 pouces (peut être augmenté jusqu'à 8 pouces) et d'un dispositif d'aspiration sous vide sur la platine d'échantillonnage. . Ce type de goniomètre mesure la surface de référence d'un cristal en forme de bâtonnet et mesure également la surface d'une plaquette.
Tableau d'échantillons TB de l'analyseur d'orientation des rayons X :
Conçu selon le cristal à barre ronde, la platine d'échantillonnage est équipée d'un rail porteur et est équipée d'un rail de support en forme de V. Il peut mesurer un lingot pesant 1 à 30 kg, un diamètre de 2 à 6 pouces (peut être augmenté jusqu'à 8 pouces) et une longueur de 500 mm. Un dispositif d'aspiration sous vide est fixé à la platine d'échantillonnage. Ce type de goniomètre mesure la face d'extrémité du cristal en tige et mesure également la surface de la plaquette.
Exemple de tableau TC de l'analyseur d'orientation des rayons X :
Il est principalement utilisé pour la détection de la surface de référence circulaire externe de plaquettes uniques telles que le silicium et le saphir. La position du récepteur de rayons X sur le disque d'aspiration adopte une conception ouverte, qui résout le problème du blocage des rayons X et du désalignement par le disque d'aspiration, et satisfait à différentes spécifications. Avec la détection des bords de référence, la pompe d'aspiration de l'étage d'échantillonnage peut aspirer la plaquette de 2 à 8 pouces pour rendre la détection plus précise.
Tableau d'échantillon TD de l'analyseur d'orientation des rayons X :
Principalement utilisé pour la mesure multipoint de plaquettes telles que le silicium et le saphir. La plaquette peut être tournée manuellement sur la platine d'échantillonnage, telle que 0°, 90°, 180°, 270°, etc., pour répondre aux besoins de mesure particuliers des clients.
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