Le logiciel chinois de mesure et d'analyse des contraintes résiduelles prend en charge les méthodes d'ajustement linéaire et elliptique. Il utilise des équations de contrainte complètes sans supposer une contrainte de cisaillement nulle, ainsi que la méthode d'ajustement elliptique, permettant la mesure simultanée des contraintes normales et de cisaillement. Chaque mesure utilise plus de 9 angles ψ. L'ajustement du profil de pic inclut des fonctions gaussiennes, lorentziennes, Pearson VII, paraboliques, etc. Les résultats de mesure affichent simultanément les valeurs de contrainte normale et de contrainte de cisaillement, ainsi que des informations telles que l'intensité du pic, la largeur intégrale et la largeur à mi-hauteur (FWHM).
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Analyseur de contraintes résiduelles TD-RSD XRD Précision de ±7 MPa, innovation à double détecteur, fonctionnement entièrement automatisé et logiciel performant. Optimisez vos processus et améliorez la fiabilité de vos produits. Solution compacte, efficace et de pointe.
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L'analyseur portable de contraintes résiduelles par rayons X est un appareil de contrôle non destructif basé sur la technologie de diffraction des rayons X. Il est principalement utilisé pour mesurer la distribution des contraintes résiduelles en surface et en subsurface dans des matériaux tels que les métaux et les plastiques, alliant haute précision et adaptabilité au terrain.
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